採用ROM監(jiān)控器的調(diào)試技巧分析
上傳時間： 2015-02-23
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一個LCD燈的小程序。不是我寫的。我只負責(zé)了調(diào)試。適用在ACEXEP1K30QC208-3上。我跑了SIMULATOR，管腳連接標(biāo)示了。我也下在電路板上試過了，沒有問題。要用到實驗板上的兄弟們把CLK1改到TESTOUT3或者0就好了。綫幫助新手，人人有責(zé)。
標(biāo)簽： SIMULATOR ACEXEP LCD 208
上傳時間： 2015-04-10
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dsp程序開發(fā)---matlab調(diào)試及直接目標(biāo)代碼生成
上傳時間： 2016-05-29
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移植 uCGUI 調(diào)試筆記--好講的不錯
上傳時間： 2016-06-15
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OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言 本篇報告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內(nèi)容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎(chǔ)上，結(jié)合ARM7TDMI詳細介紹了的JTAG測試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測試標(biāo)準(zhǔn)開始，JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡稱。IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)最初是由JTAG這個組織提出，最終由IEEE批準(zhǔn)並且標(biāo)準(zhǔn)化，所以，IEEE 1149.1這個標(biāo)準(zhǔn)一般也俗稱JTAG測試標(biāo)準(zhǔn)。 接下來介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構(gòu)。
標(biāo)簽： JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM
上傳時間： 2016-08-16
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在Delphi 環(huán)境下編寫的串口調(diào)試程序 ,能與下位機(MSP430F147)實現(xiàn)串口485通訊.完成對下位機狀態(tài)的檢測.校準(zhǔn). 對於使用Delphi的串口編程有一定的作用.
上傳時間： 2017-05-05
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隨著半導(dǎo)體制造技術(shù)不斷的進步，SOC(System On a Chip)是未來IC產(chǎn)業(yè)技術(shù)研究關(guān)注的重點。由于SOC設(shè)計的日趨復(fù)雜化，芯片的面積增大，芯片功能復(fù)雜程度增大，其設(shè)計驗證工作也愈加繁瑣。復(fù)雜ASIC設(shè)計功能驗證已經(jīng)成為整個設(shè)計中最大的瓶頸。 使用FPGA系統(tǒng)對ASIC設(shè)計進行功能驗證，就是利用FPGA器件實現(xiàn)用戶待驗證的IC設(shè)計。利用測試向量或通過真實目標(biāo)系統(tǒng)產(chǎn)生激勵，驗證和測試芯片的邏輯功能。通過使用FPGA系統(tǒng)，可在ASIC設(shè)計的早期，驗證芯片設(shè)計功能，支持硬件、軟件及整個系統(tǒng)的并行開發(fā)，并能檢查硬件和軟件兼容性，同時還可在目標(biāo)系統(tǒng)中同時測試系統(tǒng)中運行的實際軟件。FPGA仿真的突出優(yōu)點是速度快，能夠?qū)崟r仿真用戶設(shè)計所需的對各種輸入激勵。由于一些SOC驗證需要處理大量實時數(shù)據(jù)，而FPGA作為硬件系統(tǒng)，突出優(yōu)點是速度快，實時性好。可以將SOC軟件調(diào)試系統(tǒng)的開發(fā)和ASIC的開發(fā)同時進行。 此設(shè)計以ALTERA公司的FPGA為主體來構(gòu)建驗證系統(tǒng)硬件平臺，在FPGA中通過加入嵌入式軟核處理器NIOS II和定制的JTAG(Joint Test ActionGroup)邏輯來構(gòu)建與PC的調(diào)試驗證數(shù)據(jù)鏈路，并采用定制的JTAG邏輯產(chǎn)生測試向量，通過JTAG控制SOC目標(biāo)系統(tǒng)，達到對SOC內(nèi)部和其他IP(IntellectualProperty)的在線測試與驗證。同時，該驗證平臺還可以支持SOC目標(biāo)系統(tǒng)后續(xù)軟件的開發(fā)和調(diào)試。 本文介紹了芯片驗證系統(tǒng)，包括系統(tǒng)的性能、組成、功能以及系統(tǒng)的工作原理；搭建了基于JTAG和FPGA的嵌入式SOC驗證系統(tǒng)的硬件平臺，提出了驗證系統(tǒng)的總體設(shè)計方案，重點對驗證系統(tǒng)的數(shù)據(jù)鏈路的實現(xiàn)進行了闡述；詳細研究了嵌入式軟核處理器NIOS II系統(tǒng)，并將定制的JTAG邏輯與處理器NIOS II相結(jié)合，構(gòu)建出調(diào)試與驗證數(shù)據(jù)鏈路；根據(jù)芯片驗證的要求，設(shè)計出軟核處理器NIOS II系統(tǒng)與PC建立數(shù)據(jù)鏈路的軟件系統(tǒng)，并完成芯片在線測試與驗證。 本課題的整體任務(wù)主要是利用FPGA和定制的JTAG掃描鏈技術(shù)，完成對國產(chǎn)某型DSP芯片的驗證與測試，研究如何構(gòu)建一種通用的SOC芯片驗證平臺，解決SOC驗證系統(tǒng)的可重用性和驗證數(shù)據(jù)發(fā)送、傳輸、采集的實時性、準(zhǔn)確性、可測性問題。本文在SOC驗證系統(tǒng)在芯片驗證與測試應(yīng)用研究領(lǐng)域，有較高的理論和實踐研究價值。
上傳時間： 2013-05-25
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詳細介紹了JTAG的工作原理，尤其對在ARM嵌入式系統(tǒng)開發(fā)的方法進行了詳細介紹。
標(biāo)簽： JTAG
上傳時間： 2013-04-24
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The driver of H-JTAG is open and free for ARM debug
上傳時間： 2013-05-18
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邊界掃描技術(shù)是一種應(yīng)用于數(shù)字集成電路器件的標(biāo)準(zhǔn)化可測試性設(shè)計方法，它提供了對電路板上元件的功能、互連及相互間影響進行測試的一種新方案，極大地方便了系統(tǒng)電路的測試。本文基于IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)剖析了JTAG邊界掃描測試的精髓，分析了其組成，功能與時序控制等關(guān)鍵技術(shù)。 應(yīng)用在FPGA芯片中的邊界掃描電路側(cè)重于電路板級測試，兼顧芯片功能測試，同時提供JTAG下載方式。針對在FPGA芯片中的應(yīng)用特點，設(shè)計了一種邊界掃描電路，應(yīng)用于自行設(shè)計的FPGA結(jié)構(gòu)之中。除了基本的測試功能外，加入了對FPGA芯片進行配置、回讀以及用戶自定義測試等功能。 通過仿真驗證，所設(shè)計的邊界掃描電路可實現(xiàn)FPGA芯片的測試、配置和回讀等功能，并符合IEEE 11491.1邊界掃描標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定，達到設(shè)計要求。
標(biāo)簽： JTAG FPGA 邊界掃描 中的應(yīng)用
上傳時間： 2013-04-24
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