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OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言 本篇報告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內(nèi)容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN

  • 資源大小:281 K
  • 上傳時間: 2016-08-16
  • 上傳用戶:managerliu123
  • 資源積分:2 下載積分
  • 標(biāo)      簽: JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM

資 源 簡 介

OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言 本篇報告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內(nèi)容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹,在此基礎(chǔ)上,結(jié)合ARM7TDMI詳細介紹了的JTAG測試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測試標(biāo)準(zhǔn)開始,JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡稱。IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)最初是由JTAG這個組織提出,最終由IEEE批準(zhǔn)並且標(biāo)準(zhǔn)化,所以,IEEE 1149.1這個標(biāo)準(zhǔn)一般也俗稱JTAG測試標(biāo)準(zhǔn)。 接下來介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構(gòu)。

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