邊界掃描技術(shù)是一種應(yīng)用于數(shù)字集成電路器件的標準化可測試性設(shè)計方法，它提供了對電路板上元件的功能、互連及相互間影響進行測試的一種新方案，極大地方便了系統(tǒng)電路的測試。本文基于IEEE 1149.1標準剖析了JTAG邊界掃描測試的精髓，分析了其組成，功能與時序控制等關(guān)鍵技術(shù)。 應(yīng)用在FPGA芯片中的邊界掃描電路側(cè)重于電路板級測試，兼顧芯片功能測試，同時提供JTAG下載方式。針對在FPGA芯片中的應(yīng)用特點，設(shè)計了一種邊界掃描電路，應(yīng)用于自行設(shè)計的FPGA結(jié)構(gòu)之中。除了基本的測試功能外，加入了對FPGA芯片進行配置、回讀以及用戶自定義測試等功能。 通過仿真驗證，所設(shè)計的邊界掃描電路可實現(xiàn)FPGA芯片的測試、配置和回讀等功能，并符合IEEE 11491.1邊界掃描標準的規(guī)定，達到設(shè)計要求。
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