hello,this is a case of SIP test phone .
標(biāo)簽： hello phone case this
上傳時(shí)間： 2014-01-08
上傳用戶(hù)：litianchu
A good automatic increase plus a link to the procedure, test a success rate of 80％
標(biāo)簽： automatic procedure increase success
上傳時(shí)間： 2013-12-30
上傳用戶(hù)：15071087253
Introduction: 1. Macro1: AddFailureModeCol is used to the test report generated from GNPO Rpt Tools i. You can just open the test report, apply AddFailureModeCol 2. Macro2: DPHU_Match is for the test report after meeting i. You open the DPHU_Format_26Dec.xls, then apply DPHU_Match, after the program starts to run, you select the after-meeting test report from which you want to generate a dphu report. ii. Use “Save As” instead of “Save” to save the generated dphu report. Because later on you still want to use the DPHU_Format_26Dec.xls as a template.
標(biāo)簽： AddFailureModeCol Introduction generated Macro1
上傳時(shí)間： 2016-08-09
上傳用戶(hù)：爺?shù)臍赓|(zhì)
xvid test file xvid test file
上傳時(shí)間： 2016-08-10
上傳用戶(hù)：jcljkh
scsi test demo scsi test demo
上傳時(shí)間： 2013-12-02
上傳用戶(hù)：nairui21
NA, just the test file only, please don t download it
標(biāo)簽： download please just file
上傳時(shí)間： 2013-12-17
上傳用戶(hù)：朗朗乾坤
在管理員表中初始插入數(shù)據(jù) usn: admin, pwd: 21232F297A57A5A743894A0E4A801FC3 初始用戶(hù)賬號(hào)/密碼: admin (密碼為 md5 加密) SRC/: JAVA 程序源文件目錄 src/Conn.java 是數(shù)據(jù)庫(kù)連接的類(lèi) 請(qǐng)先修改里面的數(shù)據(jù)庫(kù)連接 src/Gload.java 全局類(lèi) 實(shí)現(xiàn)一些全局功能 mssqlserver.jar, msutil.jar, msbase.jar ------- SQL Server 的驅(qū)動(dòng)包,請(qǐng)導(dǎo)入工程 DataBase/圖書(shū)_Data.MDF: SQL Server 2000 數(shù)據(jù)庫(kù)文件, 可直接附加 CreateTab.sql SQL Server 建表腳本
標(biāo)簽： admin 743894A A743894 21232F
上傳時(shí)間： 2016-08-14
上傳用戶(hù)：libenshu01
A copy directory src code finished in Java
標(biāo)簽： directory finished copy code
上傳時(shí)間： 2014-01-05
上傳用戶(hù)：qazxsw
Taiwan sunplus develop spce3200, it is a test program ----- testboard source code
標(biāo)簽： testboard sunplus develop program
上傳時(shí)間： 2013-12-22
上傳用戶(hù)：yzy6007
OPEN-JTAG ARM JTAG 測(cè)試原理 1 前言 本篇報(bào)告主要介紹ARM JTAG測(cè)試的基本原理。基本的內(nèi)容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎(chǔ)上，結(jié)合ARM7TDMI詳細(xì)介紹了的JTAG測(cè)試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)開(kāi)始，JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡(jiǎn)稱(chēng)。IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)最初是由JTAG這個(gè)組織提出，最終由IEEE批準(zhǔn)並且標(biāo)準(zhǔn)化，所以，IEEE 1149.1這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)一般也俗稱(chēng)JTAG測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。 接下來(lái)介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構(gòu)。
標(biāo)簽： JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM
上傳時(shí)間： 2016-08-16
上傳用戶(hù)：sssl
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