這篇文章主要介紹ARM JTAG調試的基本原理。基本的內容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎上，結合ARM7TDMI詳細介紹了的JTAG調試原理。
標簽： BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE ACCESS JTAG
上傳時間： 2016-05-24
上傳用戶：qilin
介紹了Embedded Deterministic Test的詳細結構和原理
標簽： Deterministic Embedded Test
上傳用戶：釣鰲牧馬
source for s3c2410 test program,including lcd ,nand flash ,uart and so on
標簽： including s3c2410 program source
上傳時間： 2016-05-25
上傳用戶：silenthink
test file nucleus source
標簽： nucleus source test file
上傳時間： 2014-01-16
上傳用戶：氣溫達上千萬的
Help you join the test work.
標簽： Help join test work
上傳時間： 2013-12-27
上傳用戶：頂得柱
My stuying help you can past this test.
標簽： stuying help past this
上傳時間： 2016-06-01
上傳用戶：watch100
Avr mega162 bootloader IAP test
標簽： bootloader mega test Avr
上傳時間： 2014-01-05
上傳用戶：lacsx
簡單的議程管理的小實驗,包含可運行BAT文件和TEST用例
標簽： TEST BAT 實驗 運行
上傳時間： 2014-12-08
上傳用戶：ynzfm
usb control test by java ,very userfu
標簽： control userfu test java
上傳時間： 2016-06-04
上傳用戶：zjf3110
this a test hello how are you
標簽： hello this test are
上傳時間： 2016-06-05
上傳用戶：xfbs821
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