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usb封包監(jiān)測程式,輔助usb程式轉(zhuǎn)寫時除錯用..用看看吧~還不錯啦~
標簽： usb 程式
上傳時間： 2017-02-25
上傳用戶：gtf1207
VFD-A 內(nèi)部的參數(shù)資料可使用內(nèi)部 RS-485 串聯(lián)通訊介面，設(shè)定及修改並可控制交流電機驅(qū)動 器運轉(zhuǎn)及監(jiān)測交流電機驅(qū)動器的運轉(zhuǎn)狀態(tài)，可提高自動化的能力。
標簽： VFD-A 485 RS
上傳時間： 2013-12-24
上傳用戶：invtnewer
一直以來， 電子電路斷路器( E C B ) 都是由一個MOSFET、一個 MOSFET 控制器和一個電流檢測電阻器所組成的。
標簽： DFN 封裝 電子電路 斷路器
上傳時間： 2013-10-18
上傳用戶：qwerasdf
usb開發(fā)工具，封包監(jiān)測，數(shù)值驗證與除錯，監(jiān)看內(nèi)容可由使用者設(shè)定，不錯用!!
標簽： usb
上傳時間： 2014-11-23
上傳用戶：風(fēng)之驕子
網(wǎng)絡(luò)監(jiān)控工具服務(wù)器端
標簽：
上傳時間： 2015-01-19
上傳用戶：xcy122677
採用ROM監(jiān)控器的調(diào)試技巧分析
標簽： ROM 分
上傳時間： 2015-02-23
上傳用戶：wfl_yy
影像中角落的偵測-主要是機器視覺當中很重要的一環(huán) 因為角落的改變或是變化可以偵測出來當做影像變化的特徵
上傳時間： 2013-12-29
上傳用戶：kernaling
這是一篇介紹藍芽收發(fā)器IC測試的相關(guān)文章,蠻有用的文章
上傳時間： 2013-12-14
上傳用戶：asdkin
ACDSEE9.0版的序號產(chǎn)生器 經(jīng)過測試 可以使用
標簽： ACDSEE 9.0
上傳時間： 2016-01-28
上傳用戶：三人用菜
OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言 本篇報告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內(nèi)容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎(chǔ)上，結(jié)合ARM7TDMI詳細介紹了的JTAG測試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測試標準開始，JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡稱。IEEE 1149.1標準最初是由JTAG這個組織提出，最終由IEEE批準並且標準化，所以，IEEE 1149.1這個標準一般也俗稱JTAG測試標準。 接下來介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構(gòu)。
標簽： JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM
上傳時間： 2016-08-16
上傳用戶：sssl
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