OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言 本篇報告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎上，結合ARM7TDMI詳細介紹了的JTAG測試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測試標準開始，JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡稱。IEEE 1149.1標準最初是由JTAG這個組織提出，最終由IEEE批準並且標準化，所以，IEEE 1149.1這個標準一般也俗稱JTAG測試標準。 接下來介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構。
標簽： JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM
上傳時間： 2016-08-16
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一個單晶片8051模擬軟體,可以查看模擬的內部外部RAM資料及暫存器資料,並設置斷點 windows 平臺下執行
標簽： windows 8051 RAM 模
上傳時間： 2016-09-21
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內含fulladder結構檔,電路檔,測試檔(testbench)以及執行檔(.do)
標簽： fulladder testbench do
上傳時間： 2016-11-25
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mini2440非操作系統下的測試源碼,包括對板上所有硬體,介面,記憶體...的測試源碼.例cmos攝像頭等,都包含在內.
標簽： mini 2440 cmos 操作
上傳時間： 2017-03-14
上傳用戶：woshiayin
NANDFLASH ECC檢查碼測試程式
標簽： NANDFLASH ECC 程式
上傳時間： 2017-03-19
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介紹ofdm通道估測的書籍內容很完整，可以對於OFDM實作有深刻了解
標簽： ofdm
上傳時間： 2014-01-01
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精選一個 uC/OS-II Porting 於一般業界使用之 MSP430F1132 開發板上任務調度的例程,於 app.c 內建構了一個可於此開發板上 Port 1.0 驅動 LED 閃爍任務工程,全例程於 IAR MSP430 V3.42A 下編譯,同時亦將此工程設好斷點可方便於 Simulator 內直接觀測 uC/OS 任務調度狀態.
標簽： Porting OS-II F1132 1132
上傳時間： 2015-12-14
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altera Quartus II TLC晶片控制 可控制暫存器，手動調整內碼。 (含電路)
標簽： Quartus altera TLC 控制
上傳時間： 2016-02-13
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可以透過檔案輸入來檢查使用者輸入是否為一個魔術方陣，檔案輸入須將之命名為magic.txt並存於C槽中，便會輸出檢查檢果
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上傳時間： 2016-06-10
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VFD-A 內部的參數資料可使用內部 RS-485 串聯通訊介面，設定及修改並可控制交流電機驅動 器運轉及監測交流電機驅動器的運轉狀態，可提高自動化的能力。
標簽： VFD-A 485 RS
上傳時間： 2013-12-24
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