射頻識別(Radio Frequency Identification,Rfid)是一種允許非接觸式數(shù)據(jù)采集的自動(dòng)識別技術(shù)。其中工作在超高頻(Ultra High Frequency,UHF)頻段的無源Rfid系統(tǒng),由于在物流與供應(yīng)鏈管理等領(lǐng)域的潛在應(yīng)用,近年來得到了人們的廣泛關(guān)注。這種系統(tǒng)所使用的無源標(biāo)簽具有識別距離長、體積小、成本低廉等突出特點(diǎn)。目前在市場上出現(xiàn)了各種品牌型號的UHF Rfid無源標(biāo)簽,由于不同品牌型號的標(biāo)簽在設(shè)計(jì)與制造工藝上的差異,這些標(biāo)簽在性能表現(xiàn)上各不相同,這就給終端用戶選擇合適自己應(yīng)用的標(biāo)簽帶來了困難。Rfid基準(zhǔn)測試就是在實(shí)際部署Rfid系統(tǒng)前對Rfid標(biāo)簽的性能進(jìn)行科學(xué)評估的有效手段。然而為了在常規(guī)實(shí)驗(yàn)室條件下得到準(zhǔn)確公正的測試結(jié)果,需要對基準(zhǔn)測試的性能指標(biāo)及測試方法學(xué)開展進(jìn)一步的研究。本文正是研究符合EPC Class1 Gen2標(biāo)準(zhǔn)的Rfid標(biāo)簽基準(zhǔn)測試。 本文首先分析了當(dāng)前廣泛應(yīng)用的超高頻無源Rfid標(biāo)簽基準(zhǔn)測試性能指標(biāo)與測試方法上的局限性與不足之處。例如,在真實(shí)的應(yīng)用環(huán)境中,由于受到各種環(huán)境因素的影響,對同一品牌型號的標(biāo)簽,很難得到一致的識讀距離測試結(jié)果。另外,在某些測試場景中,使用識讀速率作為測試指標(biāo),所得到的測試結(jié)果數(shù)值非常接近,以致分辨度不足以區(qū)分不同品牌型號標(biāo)簽的性能差異。在這些分析基礎(chǔ)上,本文把路徑損耗引入了Rfid基準(zhǔn)測試,通過有限點(diǎn)的測量與數(shù)據(jù)擬合分別得到不同類型標(biāo)簽的路徑損耗方程,結(jié)合讀寫器天線的輻射方向圖,進(jìn)一步得到各種標(biāo)簽受限于讀寫器接收靈敏度的覆蓋區(qū)域。無源標(biāo)簽由于其被動(dòng)式能量獲取方式,其實(shí)際工作區(qū)域仍然受限于前向鏈路。本文通過實(shí)驗(yàn)測試出這些標(biāo)簽的最小激活功率后,得出了各種標(biāo)簽在一定讀寫器發(fā)射功率下的激活區(qū)域。完成這些步驟后,根據(jù)這兩種區(qū)域的交集可以確定標(biāo)簽的工作區(qū)域,從而進(jìn)行標(biāo)簽間的比較并達(dá)到基準(zhǔn)測試的目的,并能找出限制標(biāo)簽工作范圍的瓶頸。 本文最后從功率損耗的角度研究了標(biāo)簽之間的相互干擾,為用戶在密集部署Rfid標(biāo)簽的場景中設(shè)置標(biāo)簽之間的最小間隔距離具有重要的參考意義。