邊界掃描技術(shù)是一種應(yīng)用于數(shù)字集成電路器件的標(biāo)準(zhǔn)化可測(cè)試性設(shè)計(jì)方法,它提供了對(duì)電路板上元件的功能、互連及相互間影響進(jìn)行測(cè)試的一種新方案,極大地方便了系統(tǒng)電路的測(cè)試。本文基于IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)剖析了JTAG邊界掃描測(cè)試的精髓,分析了其組成,功能與時(shí)序控制等關(guān)鍵技術(shù)。 應(yīng)用在FPGA芯片中的邊界掃描電路側(cè)重于電路板級(jí)測(cè)試,兼顧芯片功能測(cè)試,同時(shí)提供JTAG下載方式。針對(duì)在FPGA芯片中的應(yīng)用特點(diǎn),設(shè)計(jì)了一種邊界掃描電路,應(yīng)用于自行設(shè)計(jì)的FPGA結(jié)構(gòu)之中。除了基本的測(cè)試功能外,加入了對(duì)FPGA芯片進(jìn)行配置、回讀以及用戶自定義測(cè)試等功能。 通過(guò)仿真驗(yàn)證,所設(shè)計(jì)的邊界掃描電路可實(shí)現(xiàn)FPGA芯片的測(cè)試、配置和回讀等功能,并符合IEEE 11491.1邊界掃描標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定,達(dá)到設(shè)計(jì)要求。
標(biāo)簽:
JTAG
FPGA
邊界掃描
中的應(yīng)用
上傳時(shí)間:
2013-04-24
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