光學(xué)相干層析(Optical Coherence Tomography,OCT成像方法具有高分辨率,非接觸,無損傷等優(yōu)點(diǎn),應(yīng)用前景十分廣闊。但其實(shí)用性受到成像速度和穩(wěn)定性的限制,而成像速度和穩(wěn)定性主要是受到掃描方式的限制,采用頻域快掃描延遲線可以解決這些問題。本裸題研究日的是為基于頻域快掃描延遲線的不同用途的光學(xué)相干層析成像系統(tǒng)中的信號(hào)探測(cè)電路設(shè)計(jì)提供理論依據(jù)和設(shè)計(jì)范例,為光學(xué)相干層析成像產(chǎn)業(yè)化提供參考依據(jù)。本文的研究?jī)?nèi)容主要包括以下幾個(gè)方面:(1)研制基于顎域快掃描延遲線參考臂的實(shí)用型OCT系統(tǒng),在理論分析基礎(chǔ)上給出實(shí)際OCT系統(tǒng)中信號(hào)探測(cè)電路主要參數(shù)計(jì)算依據(jù)。(2)通過設(shè)計(jì)用于高散射介質(zhì)成像的光源中心波長(zhǎng)為1310nm的OCT系統(tǒng)信號(hào)探測(cè)電路,給出高分辨率,高信噪比OCT系統(tǒng)信號(hào)探測(cè)電路設(shè)計(jì)。(3)通過設(shè)計(jì)用于高吸收介質(zhì)成像的光源中心波長(zhǎng)為820mm的快速OCT系統(tǒng)信號(hào)探測(cè)電路,給出高成像速度OCT系統(tǒng)信號(hào)探測(cè)電路設(shè)計(jì)(4)對(duì)OCT系統(tǒng)進(jìn)行測(cè)試,對(duì)不同樣品成像,驗(yàn)證設(shè)計(jì)的信號(hào)探測(cè)電路能夠工作。本文中由理論分析得到采用頻域快掃描延遲線的OCT系統(tǒng)信號(hào)主要參數(shù)的計(jì)算公式為探測(cè)電路設(shè)計(jì)提供了理論依據(jù):兩套OCT系統(tǒng)信號(hào)探測(cè)電路設(shè)計(jì)及實(shí)現(xiàn)不僅為OCT珠寶(珍珠)檢測(cè)和眼科檢測(cè)的實(shí)際應(yīng)用提供可行性,同時(shí)還對(duì)不同用途、不回性能側(cè)重點(diǎn)的OCT系統(tǒng)信號(hào)探測(cè)電路設(shè)計(jì)具有一定的參考價(jià)值。關(guān)鍵詞光學(xué)相干層析:快掃描延遲線:光電探測(cè):電路設(shè)計(jì)
標(biāo)簽:
光學(xué)
光電探測(cè)系統(tǒng)
上傳時(shí)間:
2022-03-14
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