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<li id="ucuiw"></li> <li id="ucuiw"></li> 移植 uCGUI 調(diào)試筆記--好講的不錯
上傳時間： 2016-06-15
上傳用戶：www240697738
在cypress晶片上實驗讀取ps2 keyboard按鍵後顯示在lcd上,同時利用I2C寫入EEPROM
標(biāo)簽： keyboard cypress EEPROM I2C
上傳時間： 2016-07-11
上傳用戶：libinxny
用pascal寫的jpeg codec, 測試過的
上傳時間： 2016-07-11
上傳用戶：wl9454
VHDL語言實驗數(shù)字鍾功能,可手動調(diào)時,設(shè)定閙鍾等
標(biāo)簽： VHDL
上傳時間： 2014-12-20
上傳用戶：2467478207
執(zhí)行步驟1: 執(zhí)行EX1126程式進(jìn)入學(xué)生考試系統(tǒng) 權(quán)限描述: 使用者查詢:於”姓名”中輸入”Arno”,於”學(xué)號”中輸入”good”,再按下”使用者查詢” 即可查詢. 修改使用者:於”姓名”中輸入”GUEST”,於”學(xué)號”中輸入”0000”,再按下” 修改使用者即可修改: 功能描述: 使用者開始考試,於”姓名”中輸入自己的姓名,於”學(xué)號”中輸入學(xué)號,再按下” 考試去”即可: 開始考試,同時系統(tǒng)紀(jì)錄考生狀態(tài)為”1”. 使用者考試,完成後按下”結(jié)算成績”,同時系統(tǒng)顯示紀(jì)錄考生該科分?jǐn)?shù),同時清除考生登入狀態(tài),使其無法重覆考試,老師並可查詢考生成績.
上傳時間： 2016-07-31
上傳用戶：chens000
股市分析K線,測試版本,可以研究修正,勿用於商業(yè)販賣
上傳時間： 2014-01-04
上傳用戶：edisonfather
MicroShip IIC 使用的範(fàn)例程式 , 測試成功
上傳時間： 2013-12-17
上傳用戶：zxc23456789
MicroShip CAN Bus 範(fàn)例 , 測試成功 , 新版的喔
上傳時間： 2014-01-27
上傳用戶：tonyshao
delphi skn 皮膚﹐請大家試試看好不好﹗
上傳時間： 2016-08-14
上傳用戶：chfanjiang
OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言 本篇報告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內(nèi)容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎(chǔ)上，結(jié)合ARM7TDMI詳細(xì)介紹了的JTAG測試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測試標(biāo)準(zhǔn)開始，JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡稱。IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)最初是由JTAG這個組織提出，最終由IEEE批準(zhǔn)並且標(biāo)準(zhǔn)化，所以，IEEE 1149.1這個標(biāo)準(zhǔn)一般也俗稱JTAG測試標(biāo)準(zhǔn)。 接下來介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構(gòu)。
標(biāo)簽： JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM
上傳時間： 2016-08-16
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