OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言 本篇報告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎上，結合ARM7TDMI詳細介紹了的JTAG測試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測試標準開始，JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡稱。IEEE 1149.1標準最初是由JTAG這個組織提出，最終由IEEE批準並且標準化，所以，IEEE 1149.1這個標準一般也俗稱JTAG測試標準。 接下來介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構。
標簽： JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM
上傳時間： 2016-08-16
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標簽： 信息管理系統 畢業
上傳時間： 2016-08-17
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標簽： SAM AT 91 SAM7
上傳時間： 2014-01-14
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上傳時間： 2016-08-18
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上傳時間： 2014-09-06
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上傳時間： 2013-12-23
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AT91SAM7X系ARM系統開發功能測試程序,如果你著手用AT91SAM來進行系統開發,這是確實是個很好的資料,有了他,會助你一臂之力.本源碼是ADS1.2下的源碼,用于PWM功能測試
上傳時間： 2013-12-20
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AT91SAM7X系ARM系統開發功能測試程序,如果你著手用AT91SAM來進行系統開發,這是確實是個很好的資料,有了他,會助你一臂之力.本源碼是ADS1.2下的源碼,用于RII功能測試
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AT91SAM7X系ARM系統開發功能測試程序,如果你著手用AT91SAM來進行系統開發,這是確實是個很好的資料,有了他,會助你一臂之力.本源碼是ADS1.2下的源碼,用于同步串口SSC功能測試
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