行動(dòng)通訊上的的編程 這本書(shū)集中在三個(gè)主要的挑戰(zhàn) 1.更高的編程效率 2.降低計(jì)算的複雜度 2.提升容錯(cuò)性
標(biāo)簽： 效率
上傳時(shí)間： 2017-06-05
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computer networking 計(jì)算機(jī)網(wǎng)路概論課本習(xí)題解答
標(biāo)簽： networking computer
上傳時(shí)間： 2014-05-27
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計(jì)算財(cái)金系統(tǒng)的Herding值 可幫助估算股票市值的分析
標(biāo)簽： Herding 系統(tǒng) 分 股票
上傳時(shí)間： 2017-07-16
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一份射頻PCB設(shè)計(jì)的經(jīng)驗(yàn)總結(jié)。涉及到手機(jī)，GPS，等高頻電路的PCB設(shè)計(jì)方法。
標(biāo)簽： PCB
上傳時(shí)間： 2017-07-21
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教你如何用actionscrit做計(jì)時(shí)運(yùn)算 超有趣的 試著玩玩看喔
標(biāo)簽： actionscrit
上傳時(shí)間： 2014-01-18
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雲(yún)端運(yùn)算-Google App Engine程式開(kāi)發(fā)入門(mén) for J
標(biāo)簽：
上傳時(shí)間： 2014-04-07
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CAN波特率計(jì)算軟件 為了方便計(jì)算出 NXP 系列CAN 控制器(不包括NXP ARM 內(nèi)嵌的CAN 控制器)的波特率
上傳時(shí)間： 2016-11-24
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P C B 可測(cè)性設(shè)計(jì)布線規(guī)則之建議― ― 從源頭改善可測(cè)率PCB 設(shè)計(jì)除需考慮功能性與安全性等要求外，亦需考慮可生產(chǎn)與可測(cè)試。這里提供可測(cè)性設(shè)計(jì)建議供設(shè)計(jì)布線工程師參考。1. 每一個(gè)銅箔電路支點(diǎn)，至少需要一個(gè)可測(cè)試點(diǎn)。如無(wú)對(duì)應(yīng)的測(cè)試點(diǎn)，將可導(dǎo)致與之相關(guān)的開(kāi)短路不可檢出，并且與之相連的零件會(huì)因無(wú)測(cè)試點(diǎn)而不可測(cè)。2. 雙面治具會(huì)增加制作成本，且上針板的測(cè)試針定位準(zhǔn)確度差。所以Layout 時(shí)應(yīng)通過(guò)Via Hole 盡可能將測(cè)試點(diǎn)放置于同一面。這樣就只要做單面治具即可。3. 測(cè)試選點(diǎn)優(yōu)先級(jí)：A.測(cè)墊(Test Pad) B.通孔(Through Hole) C.零件腳(Component Lead) D.貫穿孔(Via Hole)(未Mask)。而對(duì)于零件腳，應(yīng)以AI 零件腳及其它較細(xì)較短腳為優(yōu)先，較粗或較長(zhǎng)的引腳接觸性誤判多。4. PCB 厚度至少要62mil(1.35mm)，厚度少于此值之PCB 容易板彎變形，影響測(cè)點(diǎn)精準(zhǔn)度，制作治具需特殊處理。5. 避免將測(cè)點(diǎn)置于SMT 之PAD 上，因SMT 零件會(huì)偏移，故不可靠，且易傷及零件。6. 避免使用過(guò)長(zhǎng)零件腳(>170mil(4.3mm))或過(guò)大的孔(直徑>1.5mm)為測(cè)點(diǎn)。7. 對(duì)于電池(Battery)最好預(yù)留Jumper，在ICT 測(cè)試時(shí)能有效隔離電池的影響。8. 定位孔要求：(a) 定位孔(Tooling Hole)直徑最好為125mil(3.175mm)及其以上。(b) 每一片PCB 須有2 個(gè)定位孔和一個(gè)防呆孔(也可說(shuō)成定位孔,用以預(yù)防將PCB反放而導(dǎo)致機(jī)器壓破板)，且孔內(nèi)不能沾錫。(c) 選擇以對(duì)角線，距離最遠(yuǎn)之2 孔為定位孔。(d) 各定位孔(含防呆孔)不應(yīng)設(shè)計(jì)成中心對(duì)稱(chēng),即PCB 旋轉(zhuǎn)180 度角后仍能放入PCB,這樣,作業(yè)員易于反放而致機(jī)器壓破板)9. 測(cè)試點(diǎn)要求：(e) 兩測(cè)點(diǎn)或測(cè)點(diǎn)與預(yù)鉆孔之中心距不得小于50mil(1.27mm)，否則有一測(cè)點(diǎn)無(wú)法植針。以大于100mil(2.54mm)為佳，其次是75mil(1.905mm)。(f) 測(cè)點(diǎn)應(yīng)離其附近零件(位于同一面者)至少100mil，如為高于3mm 零件，則應(yīng)至少間距120mil，方便治具制作。(g) 測(cè)點(diǎn)應(yīng)平均分布于PCB 表面，避免局部密度過(guò)高，影響治具測(cè)試時(shí)測(cè)試針壓力平衡。(h) 測(cè)點(diǎn)直徑最好能不小于35mil(0.9mm)，如在上針板，則最好不小于40mil(1.00mm)，圓形、正方形均可。小于0.030”(30mil)之測(cè)點(diǎn)需額外加工，以導(dǎo)正目標(biāo)。(i) 測(cè)點(diǎn)的Pad 及Via 不應(yīng)有防焊漆(Solder Mask)。(j) 測(cè)點(diǎn)應(yīng)離板邊或折邊至少100mil。(k) 錫點(diǎn)被實(shí)踐證實(shí)是最好的測(cè)試探針接觸點(diǎn)。因?yàn)殄a的氧化物較輕且容易刺穿。以錫點(diǎn)作測(cè)試點(diǎn)，因接觸不良導(dǎo)致誤判的機(jī)會(huì)極少且可延長(zhǎng)探針使用壽命。錫點(diǎn)尤其以PCB 光板制作時(shí)的噴錫點(diǎn)最佳。PCB 裸銅測(cè)點(diǎn)，高溫后已氧化，且其硬度高，所以探針接觸電阻變化而致測(cè)試誤判率很高。如果裸銅測(cè)點(diǎn)在SMT 時(shí)加上錫膏再經(jīng)回流焊固化為錫點(diǎn)，雖可大幅改善，但因助焊劑或吃錫不完全的緣故，仍會(huì)出現(xiàn)較多的接觸誤判。
標(biāo)簽： PCB 可測(cè)性設(shè)計(jì) 布線規(guī)則
上傳時(shí)間： 2014-01-14
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災(zāi)色統(tǒng)計(jì)聚類(lèi)的matlab源碼，可用來(lái)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析，計(jì)算白化與灰化的情況
標(biāo)簽： matlab
上傳時(shí)間： 2015-10-27
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文件來(lái)源： 我的畢設(shè) 仿真結(jié)果： 在窄帶Rayleigh快衰落信道下幾種檢測(cè)方法的誤碼率性能比較 說(shuō) 明： 參數(shù)tx，rx,L，EbN0可以根據(jù)需要更改。 tx，rx是收發(fā)天線數(shù)，根據(jù)需要取值就好了，一般研究2發(fā)2收和4發(fā)4收 EbN0是信噪比取值范圍，根據(jù)需要選擇吧。取得點(diǎn)多當(dāng)然算得慢。 L影響結(jié)果的波動(dòng)性和誤碼率所能達(dá)到的下限，L值取得越大圖像越接近真實(shí)情況。如果 EbN0最大值有20dB那么誤碼率可以達(dá)到10負(fù)4次方建議L不低于10000。 使用方法： 把db.m和minnorm.m存進(jìn)任意文件夾，然后打開(kāi)matlab，F(xiàn)ile->Set Path->Add Folder加入 文件夾。在matlab中輸入命令db即可
標(biāo)簽： Rayleigh 仿真 窄帶 檢測(cè)方法
上傳時(shí)間： 2014-01-13
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