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開發(fā)測(cè)試

  • ftp上傳下載接口

    可以開發類似fillzip,cuteftp等FTP工具

    標簽: ftp 接口

    上傳時間: 2018-08-29

    上傳用戶:Flyger

  • VIP專區-嵌入式/單片機編程源碼精選合集系列(146)

    VIP專區-嵌入式/單片機編程源碼精選合集系列(146)資源包含以下內容:1. 本程序能夠在沒有操作系統下可以測試LCD的驅動.2. ADS下LDR命令詳細示例.3. 本程序是ADS1.2下的匯編語言的示例程序!.4. 自己寫的一個萬年歷程序,能有200多行代碼.盡供參考..5. 這是個Mp3源代碼.6. sd 的spi模式詳細的中文資料.7. mmc card 各種操作詳細的邏輯時序圖.8. PCI總線系統結構、性能及總線操作時序和總線控制權的仲裁問題.9. ebook of matlab gui using.10. PAN3101ProgrammingGuideV11原像一手資料.11. 基于NIOSii的網絡監控系統設計.12. mp3 方案源代碼.13. 用VB實現S7-300PLC與PC機的普通串口通信 jiankong.14. 多功能數據采集卡上位機完整代碼.15. FAT32 文件系統中文規范.16. RTOS系統.17. 用于AlRERA 公司DE2開發板上的USB 調試的實例.18. UBOOT_command reference document.19. 對軟件進行可達性測試的軟件.20. 用于檢測非自鎖的按鍵.21. 實現arm文件系統.22. 基于arm的藍牙通訊協議的設計.23. 射頻卡開發系統芯片.24. 詳細介紹了PCB設計的各種方法.25. Matlab用戶圖像接口.26. GUI檔案.27. 東芝步進電機驅動芯片,電流3.5A,8細分驅動步進電機很常用芯片.28. Cross-Platform GUI Programming with wxWidgets wxWidgets設計指導書.29. 24c08-24c31EEPROM初始化.30. 一個不錯的需求分析實例!希望對大家有幫助.31. 一個完整的系統,用到NIOSII 里面包括語言結構的.32. 嵌入式系統的上課講義...使用三星的開發版...主要是吃ARM的指令集.33. 關于嵌入式方面的資料.34. 主要介紹一種基于Philips公司的MF RC500的射頻識別讀寫器的設計:首先介紹系統的組成以及MF RC500的特性.35. Windows嵌入式開發系列課程(6):啟動程序BootLoader的分析 _PDF.36. design the connecter between dsp and sed12.37. 48種常用軟件的指南.38. 44b0(arm)初始化程序,代碼可以通用,方便嵌入式系統的開發.39. uCOS在LPC213X上的移植。適合ARM嵌入式系統初學者。.40. AD1674模數轉換器件資料。包含了AD1674的應用接口電路。.

    標簽: 相位式 激光測距儀

    上傳時間: 2013-05-28

    上傳用戶:eeworm

  • 這是一篇介紹藍芽收發器IC測試的相關文章,蠻有用的文章

    這是一篇介紹藍芽收發器IC測試的相關文章,蠻有用的文章

    標簽:

    上傳時間: 2013-12-14

    上傳用戶:asdkin

  • 2410完整的測試原碼(依照各功能分開目錄,學習更容易)

    2410完整的測試原碼(依照各功能分開目錄,學習更容易)

    標簽: 2410

    上傳時間: 2015-07-12

    上傳用戶:aix008

  • USB20原理與研發技術 一書的源碼, 從基本原理到軟體驅動到測試程式發展, 一應俱全.

    USB20原理與研發技術 一書的源碼, 從基本原理到軟體驅動到測試程式發展, 一應俱全.

    標簽: USB 20 驅動 程式

    上傳時間: 2013-12-13

    上傳用戶:huannan88

  • 用一個C語言來測試4X4按鍵功能是否正常工作

    用一個C語言來測試4X4按鍵功能是否正常工作

    標簽: 4X4

    上傳時間: 2017-07-25

    上傳用戶:宋桃子

  • OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言 本篇報告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN

    OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言 本篇報告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹,在此基礎上,結合ARM7TDMI詳細介紹了的JTAG測試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測試標準開始,JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡稱。IEEE 1149.1標準最初是由JTAG這個組織提出,最終由IEEE批準並且標準化,所以,IEEE 1149.1這個標準一般也俗稱JTAG測試標準。 接下來介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構。

    標簽: JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM

    上傳時間: 2016-08-16

    上傳用戶:sssl

  • LED電源驅動器測試解決方案

    發光二極體(Light Emitting Diode, LED)為半導體發光之固態光源。它成為具省電、輕巧、壽命長、環保(不含汞)等優點之新世代照明光源。目前LED已開始應用於液晶顯示

    標簽: LED 電源 方案 驅動器

    上傳時間: 2013-04-24

    上傳用戶:王慶才

  • PC電源測試系統chroma8000

    PC電源測試系統chroma8000簡介

    標簽: chroma 8000 電源測試系統

    上傳時間: 2013-11-08

    上傳用戶:xiehao13

  • 四位數碼管從一數到F,LED就向下移一位c語言代碼

    四位數碼管從一數到F,LED就向下移一位c語言代碼

    標簽: LED 數碼管 c語言 代碼

    上傳時間: 2014-12-25

    上傳用戶:1214209695

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