這是用 PIC 寫(xiě)的利用感應(yīng)大門(mén)轉(zhuǎn)速偵測(cè)大門(mén)是否碰到障礙物
標(biāo)簽： PIC
上傳時(shí)間： 2013-12-08
上傳用戶(hù)：aig85
基於 c51/8051 的 nand Flash Memory HY27US08561A 範(fàn)例程序 及驅(qū)動(dòng)程序, 包含詳細(xì)文檔資料 (Datasheet)
標(biāo)簽： Datasheet 08561A Memory 08561
上傳時(shí)間： 2016-08-09
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davincievm 6446 記憶體DDR撿測(cè)
標(biāo)簽： davincievm 6446 DDR
上傳用戶(hù)：xlcky
davincievm 6446 音瀕檢測(cè)
標(biāo)簽： davincievm 6446
上傳用戶(hù)：lgnf
資料壓縮技術(shù)與應(yīng)用-變動(dòng)長(zhǎng)度編碼壓縮及解壓縮(Run Length Encoding) 整數(shù)採(cǎi)用固定長(zhǎng)度一個(gè)位元組表示法 對(duì)於只出現(xiàn)一次的位元組S亦用iS取代
標(biāo)簽： Encoding Length Run 表示法
上傳時(shí)間： 2016-08-15
上傳用戶(hù)：GavinNeko
資料壓縮技術(shù)與應(yīng)用-變動(dòng)長(zhǎng)度編碼壓縮(Run Length Encoding)~ 整數(shù)採(cǎi)用固定長(zhǎng)度一個(gè)位元組表示法~ 對(duì)於只出現(xiàn)一次的位元組S亦用iS取代~
上傳用戶(hù)：asdfasdfd
OPEN-JTAG ARM JTAG 測(cè)試原理 1 前言 本篇報(bào)告主要介紹ARM JTAG測(cè)試的基本原理。基本的內(nèi)容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎(chǔ)上，結(jié)合ARM7TDMI詳細(xì)介紹了的JTAG測(cè)試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)開(kāi)始，JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡(jiǎn)稱(chēng)。IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)最初是由JTAG這個(gè)組織提出，最終由IEEE批準(zhǔn)並且標(biāo)準(zhǔn)化，所以，IEEE 1149.1這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)一般也俗稱(chēng)JTAG測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。 接下來(lái)介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構(gòu)。
標(biāo)簽： JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM
上傳時(shí)間： 2016-08-16
上傳用戶(hù)：sssl
FFT代原碼為C++需要測(cè)過(guò)才能用，所有檔案階完整
標(biāo)簽： FFT
上傳時(shí)間： 2016-08-17
上傳用戶(hù)：zhanditian
verilog除頻器可用於編碼段運(yùn)用可以穩(wěn)定電路設(shè)計(jì)
標(biāo)簽： verilog
上傳時(shí)間： 2013-12-26
上傳用戶(hù)：372825274
ｖｅｒｉｌｏｇ實(shí)現(xiàn)算術(shù)運(yùn)算後利用7段顯示器將結(jié)果輸出
標(biāo)簽：
上傳時(shí)間： 2014-01-05
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