The E-M Algorithm 統(tǒng)計(jì)算法
標(biāo)簽： Algorithm The E-M 算法
上傳時(shí)間： 2013-12-22
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Monte Carlo Integration Algorithm 統(tǒng)計(jì)算法
標(biāo)簽： Integration Algorithm Monte Carlo
上傳時(shí)間： 2014-12-03
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Multidimensional Optimization 統(tǒng)計(jì)算法
標(biāo)簽： Multidimensional Optimization 算法
上傳時(shí)間： 2013-12-24
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Simulated Annealing 統(tǒng)計(jì)算法
標(biāo)簽： Simulated Annealing 算法
上傳時(shí)間： 2016-08-07
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飛思卡爾S12系Serial_Peripheral_Interphase_(SPI)應(yīng)用范例
標(biāo)簽： Serial_Peripheral_Interphase S12 SPI 飛思卡爾
上傳時(shí)間： 2014-01-01
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數(shù)字集成電路設(shè)計(jì)入門 --從HDL到版圖 于敦山 北大微電子學(xué)系 Verilog完整課件，是學(xué)習(xí)verilog HDL的很好的參考資料。
標(biāo)簽： Verilog HDL 數(shù)字集成 微電子學(xué)
上傳時(shí)間： 2013-12-23
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OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言 本篇報(bào)告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內(nèi)容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎(chǔ)上，結(jié)合ARM7TDMI詳細(xì)介紹了的JTAG測試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測試標(biāo)準(zhǔn)開始，JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡稱。IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)最初是由JTAG這個(gè)組織提出，最終由IEEE批準(zhǔn)並且標(biāo)準(zhǔn)化，所以，IEEE 1149.1這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)一般也俗稱JTAG測試標(biāo)準(zhǔn)。 接下來介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構(gòu)。
標(biāo)簽： JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM
上傳時(shí)間： 2016-08-16
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學(xué)生信息管理系統(tǒng),學(xué)生入學(xué)時(shí)間及畢業(yè)時(shí)間,學(xué)生成績,學(xué)生所在系
標(biāo)簽： 信息管理系統(tǒng) 畢業(yè)
上傳時(shí)間： 2016-08-17
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AT91SAM7X系A(chǔ)RM系統(tǒng)開發(fā)功能測試程序,如果你著手用AT91SAM來進(jìn)行系統(tǒng)開發(fā),這是確實(shí)是個(gè)很好的資料,有了他,會(huì)助你一臂之力.本源碼是ADS1.2下的源碼,用于AIC功能測試
上傳時(shí)間： 2014-01-14
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AT91SAM7X系A(chǔ)RM系統(tǒng)開發(fā)功能測試程序,如果你著手用AT91SAM來進(jìn)行系統(tǒng)開發(fā),這是確實(shí)是個(gè)很好的資料,有了他,會(huì)助你一臂之力.本源碼是ADS1.2下的源碼,用于CAN功能測試
上傳時(shí)間： 2016-08-18
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