在cypress單晶片上實(shí)驗(yàn)EEPROM 的測試程式
標(biāo)簽： cypress EEPROM 晶片 程式
上傳時間： 2014-01-09
上傳用戶：D&L37
替代加密: A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W 密文 Y Z D M R N H X J L I O Q U W A C B E G F K P 明文 X Y Z T S V I HAVE A DREAM！# 密文？？ 用ARM編程實(shí)現(xiàn)替代加密。
標(biāo)簽： 加密
上傳時間： 2016-07-17
上傳用戶：qq521
KM算法 (求二分圖最大帶權(quán)比配) 的 O(n^3)經(jīng)典實(shí)現(xiàn)
標(biāo)簽： 算法 分
上傳時間： 2016-07-19
上傳用戶：Miyuki
OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言 本篇報告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內(nèi)容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎(chǔ)上，結(jié)合ARM7TDMI詳細(xì)介紹了的JTAG測試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測試標(biāo)準(zhǔn)開始，JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡稱。IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)最初是由JTAG這個組織提出，最終由IEEE批準(zhǔn)並且標(biāo)準(zhǔn)化，所以，IEEE 1149.1這個標(biāo)準(zhǔn)一般也俗稱JTAG測試標(biāo)準(zhǔn)。 接下來介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構(gòu)。
標(biāo)簽： JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM
上傳時間： 2016-08-16
上傳用戶：sssl
設(shè)X[0:n-1]和Y[0:n-1] 為2 個數(shù)組,每個數(shù)組中含有n 個已排好序的數(shù)。試設(shè)計一個O(log n) 時間的算法,找出X 和Y 的2n 個數(shù)的中位數(shù)。
標(biāo)簽： log 數(shù)組 算法
上傳時間： 2016-08-20
上傳用戶：zhoujunzhen
X[0:n-1]和Y[0:n-1]為2個數(shù)組,每個數(shù)組中含有n個已排好序的數(shù)。 試設(shè)計一個O(log n)時間的算法,找出X和Y的2n個數(shù)的中位數(shù)。
上傳時間： 2016-10-10
上傳用戶：宋桃子
USB開發(fā)步驟標(biāo)準(zhǔn),對開發(fā)的過程詳解,usb的快速入門教\程
標(biāo)簽： USB usb 教程
上傳時間： 2016-10-30
上傳用戶：dsgkjgkjg
USB開發(fā)步驟標(biāo)準(zhǔn)硬件,對USB開發(fā)過程的硬件 ,帶寬詳細(xì)的說明,對開發(fā)設(shè)計有幫助
標(biāo)簽： USB 硬件
上傳時間： 2013-11-27
上傳用戶：ruan2570406
MDB/NAMA/EVA 自動販賣機(jī)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)資料
標(biāo)簽： NAMA MDB EVA
上傳時間： 2016-11-22
上傳用戶：極客
很高效的判斷組合數(shù)C(n,k)的奇偶性。 巧妙的使用了位運(yùn)算。時間復(fù)雜度為O(1). 避免使用大數(shù)類。
標(biāo)簽： 組合 位運(yùn)算 復(fù)雜度
上傳時間： 2016-12-01
上傳用戶：lizhen9880
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