隨著紅外焦平面陣列的不斷發(fā)展，紅外技術的應用范圍將越來越廣泛。焦平面面陣探測器的一個最大的缺點是固有的非均勻性。本文首先介紹了紅外熱成像技術的發(fā)展，討論了紅外焦平面陣列的基本原理和工作方式，分析了紅外非均勻性產(chǎn)生的原因。其次研究了幾種主要的非均勻校正方法以及焦平面陣列元的盲元檢測和補償?shù)姆椒ǎ瑢t外圖像處理技術做了研究。 本文研究的探測器是法國ULIS公司的320×240非制冷微測輻射熱計焦平面陣列探測器。主要研究對其輸出信號進行非均勻性校正和圖像增強。最后針對這一課題編寫了基于FPGA的兩點校正、兩點加一點校正、全局非均勻校正算法和紅外圖像直方圖均衡化增強程序，并對三種校正方法做了比較。
上傳時間： 2013-08-03
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現(xiàn)場可編程門陣列(FPGA)是一種現(xiàn)場可編程專用集成電路，它將門陣列的通用結(jié)構與現(xiàn)場可編程的特性結(jié)合于一體，如今，F(xiàn)PGA系列器件已成為最受歡迎的器件之一。隨著FPGA器件的廣泛應用，它在數(shù)字系統(tǒng)中的作用日益變得重要，它所要求的準確性也變得更高。因此，對FPGA器件的故障測試和故障診斷方法進行更全面的研究具有重要意義。隨著FPGA器件的迅速發(fā)展，F(xiàn)PGA的密度和復雜程度也越來越高，使大量的故障難以使用傳統(tǒng)方法進行測試，所以人們把視線轉(zhuǎn)向了可測性設計(DFT)問題。可測性設計的提出為解決測試問題開辟了新的有效途徑，而邊界掃描測試方法是其中一個重要的技術。 本文對FPGA的故障模型及其測試技術和邊界掃描測試的相關理論與方法進行了詳細的探討，給出了利用布爾矩陣理論建立的邊界掃描測試過程的數(shù)學描述和數(shù)學模型。論文中首先討論邊界掃描測試中的測試優(yōu)化問題，總結(jié)解決兩類優(yōu)化問題的現(xiàn)有算法，分別對它們的優(yōu)缺點進行了對比，進而提出對兩種現(xiàn)有算法的改進思想，并且比較了改進前后優(yōu)化算法的性能。另外，本文還對FPGA連線資源中基于邊界掃描測試技術的自適應完備診斷算法進行了深入研究。在研究過程中，本文基于自適應完備診斷的思想對原有自適應診斷算法的性能進行了分析，并將獨立測試集和測試矩陣的概念引入原有自適應診斷算法中，使改進后的優(yōu)化算法能夠簡化原算法的實現(xiàn)過程，并實現(xiàn)完備診斷的目標。最后利用測試仿真模型證明了優(yōu)化算法能夠更有效地實現(xiàn)完備診斷的目標，在緊湊性指標與測試復雜性方面比現(xiàn)在算法均有所改進，實現(xiàn)了算法的優(yōu)化。
上傳時間： 2013-06-30
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文中簡單闡述了紅外輻射機理，論述了紅外焦平面陣列技術的發(fā)展狀況。紅外成像系統(tǒng)，尤其是紅外焦平面陣列，由于探測器材料和制造工藝的原因，各像素點之間的靈敏度存在差別，甚至存在一些缺陷點，各個探測單元特征參數(shù)不完全一致，因而存在著較大的非均勻性，降低了圖像的分辨率，影響了紅外成像系統(tǒng)的有效作用距離。實時非均勻性校正是提高和改善紅外圖像質(zhì)量的一項重要技術。 論文建立了描述其非均勻性的數(shù)學模型，分析了紅外焦平面陣列非均勻性產(chǎn)生的原因及特點，討論了幾種常用的非均勻性校正的方法，指出了其各自的優(yōu)缺點和適應場合。 根據(jù)紅外探測器光譜響應的特點和基于參考源的兩點溫度非均勻性校正理論，采用FPGA+DSP實現(xiàn)紅外成像系統(tǒng)實時非均勻性兩點校正，設計完成了相應的紅外焦平面陣列非均勻性校正硬件電路。對該系統(tǒng)中各個模塊的功能及電路實現(xiàn)進行了詳細的描述，并給出了相應的結(jié)構框圖。同時給出了該圖像處理器的部分軟件流程圖。該方法動態(tài)范圍大而且處理速度快，適用于紅外成像系統(tǒng)實時的圖像處理場合。實踐表明，該方案取得了較為滿意的結(jié)果。
上傳時間： 2013-04-24
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感應電機具有可靠性好、結(jié)構簡單、耐腐蝕、效率好、結(jié)構緊湊、價格低廉和體積小等優(yōu)點，成為工業(yè)伺服控制的主要傳動裝置然而，感應電機又是一個多變量、強耦合的非線性系統(tǒng)，磁鏈和轉(zhuǎn)矩的非線性耦合及參數(shù)時變，使得感應電機的控制十分復雜，特別是在實際電機控制系統(tǒng)中，還需要考慮硬件和周圍環(huán)境等多種因素的干擾，致使實現(xiàn)高性能的感應電機控制系統(tǒng)更加困難 本文研究感應電機的高性能控制策略，綜述了感應電機高性能控制策略的發(fā)展歷程和感應電機模糊控制的發(fā)展現(xiàn)狀，分析了實際電機控制系統(tǒng)控制器選型中各個嵌入式微處理器的基本性能和優(yōu)缺點在給出三相坐標系和二相坐標系中的感應電機數(shù)學模型之后，從理論上闡述了模糊控制和矢量控制的基本原理，針對傳統(tǒng)的PI控制器參數(shù)整定繁瑣，系統(tǒng)魯棒性差的缺點，論文將模糊控制技術應用于感應電機的變頻調(diào)速，采用CRI推理法，設計了一種參數(shù)自整定模糊PI矢量控制器，利用Matlab對基于模糊PI控制的感應電機控制系統(tǒng)進行了仿真，并對采用兩種控制器實現(xiàn)的感應電機調(diào)速控制系統(tǒng)進行了比較、分析仿真結(jié)果表明模糊控制的控制性能優(yōu)于常規(guī)的PI調(diào)節(jié)器 論文對基于ARM的感應電機數(shù)字控制技術進行了系統(tǒng)研究，闡述了采用LPC2214ARM微處理器構成數(shù)字感應電機變頻調(diào)速系統(tǒng)的方法，給出了一種高性能感應電機的數(shù)字實現(xiàn)方案，詳細介紹了系統(tǒng)硬件結(jié)構的組成及軟件模塊的功能，并給出了主要算法的參考代碼，為實際電機控制器的選型和開發(fā)提供了一個新的思路
標簽： ARM 感應電機 數(shù)字控制器
上傳時間： 2013-08-03
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·基于MATLAB6.5的異步電動機直接轉(zhuǎn)矩控制系統(tǒng)仿真
標簽： MATLAB 6.5 異步電動機 直接轉(zhuǎn)矩控制
上傳時間： 2013-07-20
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在pcb設計中，對于可制造性設計需要認真對待，值得大家學習
上傳時間： 2013-06-07
上傳用戶：dialouch
·書中包括的索引使你能夠根據(jù)自己的需要，直接閱讀你所關注的內(nèi)容。主要內(nèi)容包括：設計核心，關注嵌入核心和嵌入存儲器；系統(tǒng)集成和超大規(guī)模集成電路的設計問題；AC掃描、正常速度掃描和嵌入式可測試性設計；內(nèi)建、自測試、含內(nèi)存BIST、邏輯BIST及掃描BIST；虛擬測試套接字和隔離測試 ·重用設計，包括重用和隔離測試；用VSIA和IEEE P1500標準處理測試問題。 書中穿插的整幅圖解直接來自作者的教學材
標簽： 數(shù)字集成電路 嵌入式 內(nèi)核
上傳時間： 2013-04-24
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fpga的理解性word，對設計有幫助，延遲，效率問題等
上傳時間： 2013-08-24
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FPGA和DSP的設計可靠性及可維護性對比.pdf
上傳時間： 2013-08-28
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電路仿真不僅應用于電路設計階段，也用于電路故障診斷中。電路仿真結(jié)果能夠為建立電路測試診斷知識庫提供重要的參考信息。本文簡要介紹了電路仿真收斂性的相關理論，分析了板級模擬電路直流分析和瞬態(tài)分析的仿真收斂性問題，深入探討了電路仿真技術的原理和發(fā)展，重點研究了新的電路仿真算法，并將其應用于模擬電路仿真系統(tǒng)中。
上傳時間： 2014-12-23
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