數字集成電路設計入門 --從HDL到版圖 于敦山 北大微電子學系 Verilog完整課件，是學習verilog HDL的很好的參考資料。
上傳時間： 2013-12-23
上傳用戶：戀天使569
壓縮演算法-基本的資料壓縮演算法-Run-Length編碼的解壓縮程式~對應list1-3
標簽： Run-Length list 算法 程式
上傳時間： 2016-08-15
上傳用戶：jeffery
資料壓縮技術與應用-變動長度編碼壓縮及解壓縮(Run Length Encoding) 整數採用固定長度一個位元組表示法 對於只出現一次的位元組S亦用iS取代
上傳時間： 2016-08-15
上傳用戶：GavinNeko
資料壓縮技術與應用-變動長度編碼壓縮(Run Length Encoding)~ 整數採用固定長度一個位元組表示法~ 對於只出現一次的位元組S亦用iS取代~
上傳時間： 2016-08-15
上傳用戶：asdfasdfd
資料壓縮技術與應用~霍夫曼編碼壓縮及解壓縮(Huffman Coding)~資料結構：霍夫曼樹，結構struct
上傳時間： 2014-07-18
上傳用戶：fxf126@126.com
OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言 本篇報告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎上，結合ARM7TDMI詳細介紹了的JTAG測試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測試標準開始，JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡稱。IEEE 1149.1標準最初是由JTAG這個組織提出，最終由IEEE批準並且標準化，所以，IEEE 1149.1這個標準一般也俗稱JTAG測試標準。 接下來介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構。
標簽： JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM
上傳時間： 2016-08-16
上傳用戶：sssl
學生信息管理系統,學生入學時間及畢業時間,學生成績,學生所在系
上傳時間： 2016-08-17
上傳用戶：moerwang
AT91SAM7X系ARM系統開發功能測試程序,如果你著手用AT91SAM來進行系統開發,這是確實是個很好的資料,有了他,會助你一臂之力.本源碼是ADS1.2下的源碼,用于AIC功能測試
上傳時間： 2014-01-14
上傳用戶：semi1981
AT91SAM7X系ARM系統開發功能測試程序,如果你著手用AT91SAM來進行系統開發,這是確實是個很好的資料,有了他,會助你一臂之力.本源碼是ADS1.2下的源碼,用于CAN功能測試
上傳時間： 2016-08-18
上傳用戶：lili123
AT91SAM7X系ARM系統開發功能測試程序,如果你著手用AT91SAM來進行系統開發,這是確實是個很好的資料,有了他,會助你一臂之力.本源碼是ADS1.2下的源碼,用于IO口功能測試
上傳時間： 2014-09-06
上傳用戶：fnhhs
