成績(jī)查詢,b包括界面和代碼，用于學(xué)生成績(jī)管理系統(tǒng)的成績(jī)查詢
上傳時(shí)間： 2017-07-27
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c程序設(shè)計(jì)語(yǔ)言（第二版）版B.W.Kernighan、D.M.Ritchie 著
標(biāo)簽： Kernighan Ritchie 程序設(shè)計(jì)語(yǔ)言
上傳時(shí)間： 2014-01-24
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C++ Primer, Fourth Edition By Stanley B. Lippman, Josée Lajoie, Barbara E. Moo ............................................... Publisher: Addison Wesley Professional Pub Date: February 14, 2005 Print ISBN: 0-201-72148-1 Pages: 912
標(biāo)簽： B. E. Edition Barbara
上傳時(shí)間： 2017-08-02
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TLC5620 DAC轉(zhuǎn)換實(shí)驗(yàn)程序 該實(shí)驗(yàn)程序使用TLC5620中A、B、C、D四個(gè)通道中的前兩個(gè)通道分別輸出周期相等、幅度均為3.3V的三角波和方波，5620的輸出經(jīng)過(guò)LM358雙運(yùn)方的反相跟隨后增強(qiáng)了帶負(fù)載能力 并且使得輸出的信號(hào)電壓位于-3.3V～0V之間，起到了模擬反相的作用。在程序中，RNG位的置位使得輸出幅度增加一倍。
上傳時(shí)間： 2017-08-03
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簡(jiǎn)易數(shù)字頻率計(jì)--描述了97年電子設(shè)計(jì)大賽中B題的一些思路和方法。
標(biāo)簽： 數(shù)字頻率計(jì) 電子設(shè)計(jì)大賽
上傳時(shí)間： 2013-11-28
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一些國(guó)內(nèi)和國(guó)外的標(biāo)準(zhǔn)。包含有：電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A 低溫試驗(yàn)方法、電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B 高溫試驗(yàn)方法、電子測(cè)量?jī)x器質(zhì)量檢驗(yàn)規(guī)則等和SAE的一些標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)簽： SAE 標(biāo)準(zhǔn) 電工 電子產(chǎn)品
上傳時(shí)間： 2014-10-28
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本系統(tǒng)即是基于B/S模式并使用jsp技術(shù)實(shí)現(xiàn)的，有以下功能：用戶信息管理；書(shū)籍管理；訂單管理信息。
標(biāo)簽： jsp 模式 技術(shù)實(shí)現(xiàn)
上傳時(shí)間： 2017-08-07
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標(biāo)簽： document contain 802.11 model
上傳時(shí)間： 2017-08-08
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function g=distance_classify(A,b) 距離判別法程序。 輸入已分類(lèi)樣本A（元胞數(shù)組），輸入待分類(lèi)樣本b 輸出待分類(lèi)樣本b的類(lèi)別g 注：一般還應(yīng)計(jì)算回代誤差yita 輸入已知分類(lèi)樣本的總類(lèi)別數(shù)n 每類(lèi)作為元胞數(shù)組的一列
標(biāo)簽： distance_classify function 判別 分類(lèi)
上傳時(shí)間： 2013-11-25
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function [clusters,c,F]=fisher_classify(A,B,data) fisher判別法程序 輸入A、B為已知類(lèi)別樣本的樣本-變量矩陣，data為待分類(lèi)樣本 輸出C為判別系數(shù)向量
標(biāo)簽： fisher_classify function clusters fisher
上傳時(shí)間： 2013-12-19
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