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資料壓縮技術(shù)與應(yīng)用-變動長度編碼壓縮(Run Length Encoding)~ 整數(shù)採用固定長度一個位元組表示法~ 對於只出現(xiàn)一次的位元組S亦用iS取代~
標(biāo)簽： Encoding Length Run 表示法
上傳時間： 2016-08-15
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\程序\sj\統(tǒng)計(jì)度、出度、入度、出權(quán)、入權(quán)、邊權(quán)、點(diǎn)權(quán)分布程序\sj\計(jì)算最短路徑和聚類系數(shù)2
標(biāo)簽： 程序 分布 最短路徑 計(jì)算
上傳時間： 2014-01-02
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復(fù)雜網(wǎng)路中的BA無標(biāo)度網(wǎng)絡(luò)的邊抽樣分析 以及編程實(shí)現(xiàn)，如何實(shí)現(xiàn)算法。
標(biāo)簽： 網(wǎng)路 無標(biāo)度網(wǎng)絡(luò) 抽樣 分
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在復(fù)雜網(wǎng)絡(luò)中如何 統(tǒng)計(jì)度、出度、入度、出權(quán)、入權(quán)、邊權(quán)、點(diǎn)權(quán)分布
標(biāo)簽： 復(fù)雜網(wǎng)絡(luò) 分布
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標(biāo)簽： ajax
上傳時間： 2013-12-18
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OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言 本篇報(bào)告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內(nèi)容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎(chǔ)上，結(jié)合ARM7TDMI詳細(xì)介紹了的JTAG測試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測試標(biāo)準(zhǔn)開始，JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡稱。IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)最初是由JTAG這個組織提出，最終由IEEE批準(zhǔn)並且標(biāo)準(zhǔn)化，所以，IEEE 1149.1這個標(biāo)準(zhǔn)一般也俗稱JTAG測試標(biāo)準(zhǔn)。 接下來介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構(gòu)。
標(biāo)簽： JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM
上傳時間： 2016-08-16
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FFT代原碼為C++需要測過才能用，所有檔案階完整
標(biāo)簽： FFT
上傳時間： 2016-08-17
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根據(jù)圖像灰度線性變換的算法。得到線性變換的MATLAB的程序。經(jīng)仿真正確
標(biāo)簽： MATLAB 變換 線性 圖像
拓?fù)渑判? 有向圖拓樸排序算法的基本步驟如下： ①從圖中選擇一個入度為0的頂點(diǎn)，輸出該頂點(diǎn)； ②從圖中刪除該頂點(diǎn)及其相關(guān)聯(lián)的弧，調(diào)整被刪弧的弧頭結(jié)點(diǎn)的入度（入度-1）； ③重復(fù)執(zhí)行①、②直到所有頂點(diǎn)均被輸出，拓樸排序完成或者圖中再也沒有入度為0的頂點(diǎn)（此種情況說明原有向圖含有環(huán)）。
標(biāo)簽： 排序 拓樸 排序算法
Radio公司的最新控制器RA8806只要一條命令就可以實(shí)現(xiàn)硬件上90度的滾屏效果，而且自帶字庫，上傳的是RA8806官方例程，絕對保證能用
標(biāo)簽： Radio 8806 RA 控制器
上傳時間： 2016-08-18
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