用可調電阻調節電壓值作為模擬溫度的輸入量，當溫度低于30℃時，發出長嘀報警聲和光報警，當溫度高于60℃時，發出短嘀報警聲和光報警。測量的溫度范圍在0－99℃。
標簽： 電阻 電壓 模擬 溫度
上傳時間： 2016-08-09
上傳用戶：ardager
davincievm 6446 記憶體DDR撿測
標簽： davincievm 6446 DDR
上傳用戶：xlcky
davincievm 6446 音瀕檢測
標簽： davincievm 6446
上傳用戶：lgnf
Spring 為企業應用的開發提供一個輕量鼠的解決方案。該解決方案包括:基 于依賴注入的核心機制，基于AOP 的聲明式事務管理與多種持久層技術的整合， 以及優秀的WebMVC 框架等。 Spring 為J2EE 應用的表現層、業務邏輯層及數據持久層都提供了極好的解 決方案，因為Spring 提供的不僅僅是一種框架，而且提供了一種企業應用的開發 規范υSpring 是實際開發的抽象，其提供的"模板設計"大大簡化了應用的開發。 Spring 的系列Template 將通用步碟以優雅的方式完成，留給開發者的僅僅是 與特定應用相關的部分，從而大大提高企3k.應用的開發效率 Spring 支持對POJO 的管理，能將J2EE 應用各層的對象"焊接"在一起，甚 至這些對象無須是標準的JavaBean
標簽： Spring 方案 企業應用 核心
上傳時間： 2016-08-10
上傳用戶：exxxds
用過weka的知道,它需要特定的數據格式,如果對這種格式的做索引,效率會更高.這個wekaindex就是為這個做的.代碼量雖然少,但是很有用的哦
標簽： wekaindex weka 數據格式 效率
上傳時間： 2014-11-22
上傳用戶：l254587896
DOS下的一個帶磁芯的電感量計算軟件,我找了好久才找到的,非常好,可惜是DOS界面.可以在WINDOWS的DOS模式運行.
標簽： DOS WINDOWS 磁芯 電感量
上傳時間： 2016-08-15
上傳用戶：lyy1234
OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言 本篇報告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎上，結合ARM7TDMI詳細介紹了的JTAG測試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測試標準開始，JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡稱。IEEE 1149.1標準最初是由JTAG這個組織提出，最終由IEEE批準並且標準化，所以，IEEE 1149.1這個標準一般也俗稱JTAG測試標準。 接下來介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構。
標簽： JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM
上傳時間： 2016-08-16
上傳用戶：sssl
FFT代原碼為C++需要測過才能用，所有檔案階完整
標簽： FFT
上傳時間： 2016-08-17
上傳用戶：zhanditian
這是用PIC16C72的量產的電動自行車控制器的源代碼，我反匯編后，花了2個月的時間，解釋出幾乎99％以上的程序的含義，供大家參考。
標簽： PIC 16C C72 16
上傳時間： 2014-01-15
上傳用戶：asasasas
包括BASE64編碼的C語言實現,DES加密的C實現,共享內存,信號量的C實現
標簽： BASE DES 64 編碼
上傳時間： 2016-08-20
上傳用戶：Shaikh
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