據(jù)說著名猶太歷史學(xué)家 Josephus有過以下的故事：在羅馬人佔領(lǐng)喬塔帕特後，39 個猶太人與Josephus及他的朋友躲到一個洞中，39個猶太人決定寧願死也不要被敵人到，於是決定了一個自殺方式，41個人排成一個圓圈，由第1個人開始報數(shù)，每報數(shù)到第3人該人就必須自殺，然後再由下一個重新報數(shù)，直到所有人都自殺身亡為止。 然而Josephus 和他的朋友並不想遵從，Josephus要他的朋友先假裝遵從，他將朋友與自己安排在第16個與第31個位置，於是逃過了這場死亡遊戲。
上傳時間： 2013-12-20
上傳用戶：王慶才
這是Visual c# 2003開發(fā)的WINCE Xscale和PC的聊天室程序，是以PC為Server端，WINCE是Client端，連上Server後兩端即可以開始聊天，並可以對聊天畫面做功能處理，像式清除對話，儲存對話等等，對於嵌入式開發(fā)跟PC開發(fā)有一定學(xué)習(xí)效果。
標(biāo)簽： Visual Xscale WINCE 2003
上傳時間： 2013-12-14
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執(zhí)行步驟1: 執(zhí)行EX1126程式進入學(xué)生考試系統(tǒng) 權(quán)限描述: 使用者查詢:於”姓名”中輸入”Arno”,於”學(xué)號”中輸入”good”,再按下”使用者查詢” 即可查詢. 修改使用者:於”姓名”中輸入”GUEST”,於”學(xué)號”中輸入”0000”,再按下” 修改使用者即可修改: 功能描述: 使用者開始考試,於”姓名”中輸入自己的姓名,於”學(xué)號”中輸入學(xué)號,再按下” 考試去”即可: 開始考試,同時系統(tǒng)紀(jì)錄考生狀態(tài)為”1”. 使用者考試,完成後按下”結(jié)算成績”,同時系統(tǒng)顯示紀(jì)錄考生該科分?jǐn)?shù),同時清除考生登入狀態(tài),使其無法重覆考試,老師並可查詢考生成績.
上傳時間： 2016-07-31
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這本書是多年來我對專業(yè)程式員所做的C++ 教學(xué)課程下的一個自然產(chǎn)物。我發(fā)現(xiàn)，大部份學(xué)生在一個星期的密集訓(xùn)練之後，即可適應(yīng)這個語言的基本架構(gòu)，但要他們「將這些基礎(chǔ)架構(gòu)以有效的方式組合運用」，我實在不感樂觀。於是我開始嘗試組織出一些簡短、明確、容易記憶的準(zhǔn)則，做為C++ 高實效性程式開發(fā)過程之用。那都是經(jīng)驗豐富的C++ 程式員幾乎總是會奉行或幾乎肯定要避免的一些事情。structures of computer science.
標(biāo)簽： 程式
上傳時間： 2016-10-13
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發(fā)光二極體(Light Emitting Diode, LED)為半導(dǎo)體發(fā)光之固態(tài)光源。它成為具省電、輕巧、壽命長、環(huán)保(不含汞)等優(yōu)點之新世代照明光源。目前LED已開始應(yīng)用於液晶顯示
上傳時間： 2013-04-24
上傳用戶：王慶才
數(shù)字圖像水印技術(shù)，是將代表著作權(quán)人身份的特定信息（即數(shù)字水印），按照某種方式植 入電子出版物中，在產(chǎn)生版權(quán)糾紛時，通過相應(yīng)的算法提取出該數(shù)字水印，從而驗證版權(quán)的 歸屬，
標(biāo)簽： 水印
上傳時間： 2013-12-13
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《C++ 程式語言經(jīng)典本》，The C++ Programming Language, 3rd edition 中譯本的序、 第一章、 第二章、 第三章、 附錄Ｂ的電子檔 此處採用的是由華康科技 所開發(fā)的 DynaDoc 格式。 內(nèi)附DynaDoc 閱覽器
標(biāo)簽： 程式
上傳時間： 2014-12-06
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背包問題是關(guān)於最佳化的問題，要解最佳化問題可以使用「動態(tài)規(guī)劃」（Dynamic programming），從空集合開始，每增加一個元素就先求出該階段的最佳解，直到所有的元素加入至集合中，最後得到的就是最佳解。 以背包問題為例，我們使用兩個陣列value與item，value表示目前的最佳解所得之總價，item表示最後一個放至背包的水果，假設(shè)有負(fù)重量 1～8的背包8個，並對每個背包求其最佳解
標(biāo)簽：
上傳時間： 2014-01-22
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OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言 本篇報告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內(nèi)容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎(chǔ)上，結(jié)合ARM7TDMI詳細介紹了的JTAG測試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測試標(biāo)準(zhǔn)開始，JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡稱。IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)最初是由JTAG這個組織提出，最終由IEEE批準(zhǔn)並且標(biāo)準(zhǔn)化，所以，IEEE 1149.1這個標(biāo)準(zhǔn)一般也俗稱JTAG測試標(biāo)準(zhǔn)。 接下來介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構(gòu)。
標(biāo)簽： JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM
上傳時間： 2016-08-16
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Keil的基本使用教學(xué)，若是一開始接觸Keil可參考文件說明。
上傳時間： 2015-03-19
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