/** * @author jakcy_wu(wujichun) * * 預(yù)測(cè)分析--本算法只適用于受周期變化或者波動(dòng)影響的數(shù)據(jù) * 權(quán)值移動(dòng)平均算法 * 本期預(yù)測(cè)值=（前期值*權(quán)數(shù)）求和/n * * 默認(rèn)權(quán)值為{1,1,1},取最近3次的平均 * 注意權(quán)值和必須=權(quán)值集合.length */
標(biāo)簽： jakcy_wu wujichun author 算法
上傳時(shí)間： 2014-01-26
上傳用戶：weiwolkt
內(nèi)存大小測(cè)試程序,可以檢測(cè)安裝內(nèi)存的大小.
上傳時(shí)間： 2013-12-25
上傳用戶：asdkin
精選一個(gè) uC/OS-II Porting 於一般業(yè)界使用之 MSP430F1132 開(kāi)發(fā)板上任務(wù)調(diào)度的例程,於 app.c 內(nèi)建構(gòu)了一個(gè)可於此開(kāi)發(fā)板上 Port 1.0 驅(qū)動(dòng) LED 閃爍任務(wù)工程,全例程於 IAR MSP430 V3.42A 下編譯,同時(shí)亦將此工程設(shè)好斷點(diǎn)可方便於 Simulator 內(nèi)直接觀測(cè) uC/OS 任務(wù)調(diào)度狀態(tài).
標(biāo)簽： Porting OS-II F1132 1132
上傳時(shí)間： 2015-12-14
上傳用戶：skfreeman
灰色理論之GM(!,1)模型，GM(1,1)的matlab源碼，可從生成一直計(jì)算到預(yù)測(cè)值
上傳時(shí)間： 2015-10-27
上傳用戶：yzy6007
跟類神經(jīng)網(wǎng)路有點(diǎn)像的東西， 不過(guò)現(xiàn)今最常拿來(lái)就是做分類也就是說(shuō)，如果我有一堆已經(jīng)分好類的東西 （可是分類的依據(jù)是未知的！） ，那當(dāng)收到新的東西時(shí)， SVM 可以預(yù)測(cè) (predict) 新的資料要分到哪一堆去。
標(biāo)簽：
上傳時(shí)間： 2014-01-18
上傳用戶：hasan2015
此為philip 1362 USB DOS下的驅(qū)動(dòng)程式包, 已經(jīng)共測(cè)試並內(nèi)含有說(shuō)明文件
上傳時(shí)間： 2015-04-21
上傳用戶：bruce
:::::::讀心術(shù)::::::: “吉普賽人祖?zhèn)鞯纳衿孀x心術(shù).它能測(cè)算出你的內(nèi)心感應(yīng)”
標(biāo)簽：
上傳時(shí)間： 2015-08-27
上傳用戶：s363994250
S3C2410官方釋出的自我測(cè)試程式,測(cè)試項(xiàng)目包括Power,LCD,UART,Timer,Flash...共99種,內(nèi)含Image檔可以直接燒錄到板子上使用.
標(biāo)簽： S3C2410 Power Flash Image
上傳時(shí)間： 2014-08-17
上傳用戶：思琦琦
DPS2812的開(kāi)發(fā)程序,內(nèi)有多個(gè)測(cè)試的程序可以讓你明白板子基本的運(yùn)作
上傳時(shí)間： 2016-04-10
上傳用戶：330402686
OPEN-JTAG ARM JTAG 測(cè)試原理 1 前言 本篇報(bào)告主要介紹ARM JTAG測(cè)試的基本原理。基本的內(nèi)容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎(chǔ)上，結(jié)合ARM7TDMI詳細(xì)介紹了的JTAG測(cè)試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)開(kāi)始，JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡(jiǎn)稱。IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)最初是由JTAG這個(gè)組織提出，最終由IEEE批準(zhǔn)並且標(biāo)準(zhǔn)化，所以，IEEE 1149.1這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)一般也俗稱JTAG測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。 接下來(lái)介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構(gòu)。
標(biāo)簽： JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM
上傳時(shí)間： 2016-08-16
上傳用戶：sssl
蟲蟲下載站版權(quán)所有 京ICP備2021023401號(hào)-1
