激光測(cè)距是激光技術(shù)在軍事上最早和最成熟的應(yīng)用，自1961．年美國(guó)休斯飛機(jī)公司研制成功世界上第一臺(tái)激光測(cè)距機(jī)之后，激光測(cè)距技術(shù)發(fā)展迅速。如今，它已經(jīng)被廣泛運(yùn)用于軍用領(lǐng)域和民用領(lǐng)域。為了進(jìn)一步提高我國(guó)激光測(cè)距水平，研制更高性能激光測(cè)距機(jī)依然是我國(guó)國(guó)防科技研究中的重要課題之一。其中，測(cè)距精度是激光測(cè)距機(jī)的一個(gè)重要參數(shù)。而激光測(cè)距機(jī)能否準(zhǔn)確的檢測(cè)激光回波信號(hào)將直接影響測(cè)距精度。 脈沖激光測(cè)距系統(tǒng)主要包括激光發(fā)射子系統(tǒng)、激光回波探測(cè)子系統(tǒng)、回波檢測(cè)與主控子系統(tǒng)、終端顯示子系統(tǒng)等組成。其中設(shè)計(jì)高精度激光回波檢測(cè)與主控子系統(tǒng)是實(shí)現(xiàn)高精度激光測(cè)距的核心問(wèn)題。傳統(tǒng)激光回波檢測(cè)與主控子系統(tǒng)通常采用分立元件和小規(guī)模集成電路設(shè)計(jì)，電路復(fù)雜且精度較低。隨著數(shù)字電路設(shè)計(jì)技術(shù)的發(fā)展，已出現(xiàn)大規(guī)模可編程邏輯器件FPGA(現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列)和CPLD(復(fù)雜可編程邏輯器件)。采用FPGA代替?zhèn)鹘y(tǒng)的分立元件和小規(guī)模集成電路來(lái)設(shè)計(jì)激光回波檢測(cè)與主控子系統(tǒng)，不僅提高了回波檢測(cè)精度，同時(shí)簡(jiǎn)化了整個(gè)測(cè)距系統(tǒng)的設(shè)計(jì)。 本文研究了將激光回波信號(hào)直接送入FPGA進(jìn)行檢測(cè)的方案。同時(shí)，采用這種方案設(shè)計(jì)了一種激光回波檢測(cè)系統(tǒng)，并把它成功運(yùn)用在一引信項(xiàng)目中。這種方案電路設(shè)計(jì)簡(jiǎn)單，易于實(shí)現(xiàn)。在實(shí)際應(yīng)用中，由于激光回波探測(cè)子系統(tǒng)只是完成由光信號(hào)到電信號(hào)的轉(zhuǎn)換及簡(jiǎn)單放大，理論分析和試驗(yàn)結(jié)果均表明，采用該方案進(jìn)行回波檢測(cè)的精度較低，這種回波檢測(cè)方法也只能應(yīng)用在測(cè)距精度要求低的項(xiàng)目中。 為了滿足另一高精度測(cè)距項(xiàng)目的需要，在FPGA直接進(jìn)行激光回波檢測(cè)方案的基礎(chǔ)上，設(shè)計(jì)了一種高精度激光回波檢測(cè)系統(tǒng)。文中介紹了其實(shí)現(xiàn)原理，理論上分析了該系統(tǒng)所能達(dá)到的回波檢測(cè)精度及整機(jī)測(cè)距系統(tǒng)的測(cè)距精度。與第一種方案相比，該方案引入了超高速數(shù)據(jù)采集電路。由于采樣速率高達(dá)lGsps，該方案實(shí)現(xiàn)的難點(diǎn)在于如何保證數(shù)據(jù)采集電路的穩(wěn)定工作。文中從總體方案的設(shè)計(jì)，到器件的選型，硬件電路板的實(shí)現(xiàn)等方面做了詳細(xì)的闡述，最終完成了系統(tǒng)硬件電路設(shè)計(jì)。接著介紹了系統(tǒng)程序設(shè)計(jì)。后面給出了試驗(yàn)測(cè)試結(jié)果，該系統(tǒng)工作穩(wěn)定，性能良好。系統(tǒng)設(shè)計(jì)中引入的超高速數(shù)據(jù)采集電路有著廣泛的應(yīng)用，為其他相關(guān)設(shè)計(jì)提供了參考。最后，對(duì)全文做了工作總結(jié)，并給出了接下來(lái)的后續(xù)工作與展望。 本文在高速FPGA對(duì)激光回波信號(hào)檢測(cè)方向取得了一定的成果，為進(jìn)一步研究提供了參考價(jià)值。
標(biāo)簽： FPGA 激光 回波 中的應(yīng)用
上傳時(shí)間： 2013-06-13
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邊界掃描技術(shù)是一種應(yīng)用于數(shù)字集成電路器件的標(biāo)準(zhǔn)化可測(cè)試性設(shè)計(jì)方法，它提供了對(duì)電路板上元件的功能、互連及相互間影響進(jìn)行測(cè)試的一種新方案，極大地方便了系統(tǒng)電路的測(cè)試。本文基于IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)剖析了JTAG邊界掃描測(cè)試的精髓，分析了其組成，功能與時(shí)序控制等關(guān)鍵技術(shù)。 應(yīng)用在FPGA芯片中的邊界掃描電路側(cè)重于電路板級(jí)測(cè)試，兼顧芯片功能測(cè)試，同時(shí)提供JTAG下載方式。針對(duì)在FPGA芯片中的應(yīng)用特點(diǎn)，設(shè)計(jì)了一種邊界掃描電路，應(yīng)用于自行設(shè)計(jì)的FPGA結(jié)構(gòu)之中。除了基本的測(cè)試功能外，加入了對(duì)FPGA芯片進(jìn)行配置、回讀以及用戶自定義測(cè)試等功能。 通過(guò)仿真驗(yàn)證，所設(shè)計(jì)的邊界掃描電路可實(shí)現(xiàn)FPGA芯片的測(cè)試、配置和回讀等功能，并符合IEEE 11491.1邊界掃描標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定，達(dá)到設(shè)計(jì)要求。
標(biāo)簽： JTAG FPGA 邊界掃描 中的應(yīng)用
上傳時(shí)間： 2013-04-24
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CCS中的graph詳細(xì)使用說(shuō)明
標(biāo)簽： graph CCS 使用說(shuō)明
上傳時(shí)間： 2013-07-30
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書(shū)中以國(guó)家“3C”認(rèn)證為出發(fā)點(diǎn)，引出產(chǎn)品對(duì)電磁兼容的基本要求，給出相關(guān)產(chǎn)品所必須進(jìn)行的電磁兼容測(cè)試項(xiàng)目及所采用測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。本書(shū)無(wú)意成為現(xiàn)有標(biāo)準(zhǔn)的翻版，而希望成為讀者在學(xué)習(xí)、理解和掌握標(biāo)準(zhǔn)時(shí)的一種補(bǔ)充。為此，書(shū)中重點(diǎn)說(shuō)明每種試驗(yàn)的目的、作者對(duì)標(biāo)準(zhǔn)的理解、試驗(yàn)中對(duì)試驗(yàn)儀器的要求、必須有的試驗(yàn)配置、正確的試驗(yàn)方法和對(duì)標(biāo)準(zhǔn)的點(diǎn)評(píng)等。考慮到國(guó)內(nèi)眾多企業(yè)在開(kāi)展電磁兼容試驗(yàn)的同時(shí)，也在考慮試驗(yàn)場(chǎng)地的建設(shè)，為此本書(shū)也選編了部分這方面的內(nèi)容，說(shuō)明了各種場(chǎng)地的特點(diǎn)、主要技術(shù)指標(biāo)及選用中的注意事項(xiàng)。
標(biāo)簽： 3C認(rèn)證 電磁兼容測(cè)試
上傳時(shí)間： 2013-07-09
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根據(jù)嵌入式系統(tǒng)軟件設(shè)計(jì)需要的“數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)”知識(shí)編寫(xiě)而成。書(shū)中基本內(nèi)容有：常用線性數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)在嵌入式系統(tǒng)中的實(shí)現(xiàn)和相關(guān)算法；樹(shù)和圖在嵌入式系統(tǒng)中的實(shí)現(xiàn)和相關(guān)算法；排序和查找算法等。本書(shū)
標(biāo)簽： 嵌入式系統(tǒng) 軟件設(shè)計(jì) 數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)
上傳時(shí)間： 2013-06-24
上傳用戶：hainan_256
·期刊論文：小波變換在數(shù)字圖像處理中的應(yīng)用
標(biāo)簽： 論文 小波變換 中的應(yīng)用 數(shù)字圖像處理
上傳時(shí)間： 2013-06-23
上傳用戶：cuicuicui
·期刊論文：測(cè)井曲線的小波變換特性在自動(dòng)分層中的應(yīng)用
上傳時(shí)間： 2013-07-14
上傳用戶：youke111
·《天線和雷達(dá)中的極化--H.莫特原著林昌祿等譯》本書(shū)系統(tǒng)地講述了電磁波極化的理論及應(yīng)用問(wèn)題。
上傳時(shí)間： 2013-05-25
上傳用戶：pioneer_lvbo
·MATLAB實(shí)驗(yàn)仿真在通信原理課程教學(xué)中的應(yīng)用
標(biāo)簽： MATLAB 實(shí)驗(yàn)仿真 中的應(yīng)用 通信原理
上傳時(shí)間： 2013-04-24
上傳用戶：wsf950131
·MATLAB在自動(dòng)控制理論實(shí)驗(yàn)中的應(yīng)用
標(biāo)簽： MATLAB 自動(dòng) 控制理論 實(shí)驗(yàn)
上傳時(shí)間： 2013-07-22
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