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九十三學(xué)年 度 全國(guó)大學(xué)校院嵌入式軟體設(shè)計(jì)競(jìng)賽 多媒體組決賽報(bào)告書(shū) 具效能與耗電可調(diào)適性之智慧型數 位相機(jī)
標(biāo)簽： 63886 63849 64001 嵌入式
上傳時(shí)間： 2014-11-29
上傳用戶(hù)：jjj0202
VHDL 開(kāi)發(fā)PCI加密解密卡 逢甲大學(xué) 資訊工程學(xué)系專(zhuān)題報(bào)告 PCI 介面之加解密卡製作
標(biāo)簽： PCI VHDL 加密 解密
上傳時(shí)間： 2016-01-21
上傳用戶(hù)：qoovoop
arm學(xué)習(xí)報(bào)告第二章 GNU Tools
標(biāo)簽： Tools arm GNU
上傳時(shí)間： 2014-11-28
上傳用戶(hù)：love1314
ARM學(xué)習(xí)報(bào)告3_HaydenLuo BIOS總體結(jié)構(gòu)及部份源代碼分析
標(biāo)簽： HaydenLuo BIOS ARM 分
上傳時(shí)間： 2016-03-14
上傳用戶(hù)：diets
OPEN-JTAG ARM JTAG 測(cè)試原理 1 前言 本篇報(bào)告主要介紹ARM JTAG測(cè)試的基本原理。基本的內(nèi)容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎(chǔ)上，結(jié)合ARM7TDMI詳細(xì)介紹了的JTAG測(cè)試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)開(kāi)始，JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡(jiǎn)稱(chēng)。IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)最初是由JTAG這個(gè)組織提出，最終由IEEE批準(zhǔn)並且標(biāo)準(zhǔn)化，所以，IEEE 1149.1這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)一般也俗稱(chēng)JTAG測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。 接下來(lái)介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構(gòu)。
標(biāo)簽： JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM
上傳時(shí)間： 2016-08-16
上傳用戶(hù)：sssl
完整的敘述如何開(kāi)發(fā)即時(shí)中文辨識(shí)軟體，此為大學(xué)專(zhuān)題報(bào)告
標(biāo)簽：
上傳時(shí)間： 2017-06-16
上傳用戶(hù)：頂?shù)弥?/p>
漢字模板
標(biāo)簽： 漢字 模板
上傳時(shí)間： 2013-08-02
上傳用戶(hù)：eeworm
LPC213x_4x工程模板(周立功).rar
標(biāo)簽： LPC 213 工程模板
上傳時(shí)間： 2013-08-03
上傳用戶(hù)：懶龍1988
在基于工業(yè)以太網(wǎng)和現(xiàn)場(chǎng)總線(xiàn)技術(shù)的集散控制系統(tǒng)中，對(duì)智能測(cè)控模板— 熱電偶(TC)信號(hào)輸人模板進(jìn)行了設(shè)計(jì)與研究。首先對(duì)該現(xiàn)場(chǎng)總線(xiàn)控制系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)與功能進(jìn)行介紹和分析，然后給出了熱電偶信號(hào)輸人模板的設(shè)計(jì)與具
標(biāo)簽： 現(xiàn)場(chǎng)總線(xiàn) 控制系統(tǒng) 智能測(cè)控 模板
上傳時(shí)間： 2013-04-24
上傳用戶(hù)：13188549192
功UCOSII培訓(xùn)教程------周立功μCOS-II培訓(xùn)教程之工程模板
標(biāo)簽： COS-II 培訓(xùn)教程 工程模板
上傳時(shí)間： 2013-06-07
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