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輕易學好C++編程技巧 - 進楷 (香港科技大學筆記 19課) 內容包括 1) base C++ review, 2) Pointers and Dynamic Objects, 3) Recursion,Linked Lists, 4) Stacks and Queues, 5) Algorithm Analysis, 6) Insertion Sort and Mergesort, 7) Quicksort, 8) Heaps and Heapsort, 9) Lower Bound of Sorting and Radix Sort, 10) Binary Trees and Binary Search Trees 11) AVL Trees, 12) B+ Trees 13) Graphs and Breadth-First Search 14) Depth-First Search 15) Connected Components, Directed Graphs, 16) Topological Sort 17) Hashing 18) Pattern Matching 19) Additional Review
標簽： Pointers Dynamic Objects review
上傳時間： 2014-10-10
上傳用戶：chfanjiang
利用熱電偶轉換器的單片機溫度測控系統原理及應用部結構圖熱電偶放大與數字轉換器
上傳時間： 2016-08-10
上傳用戶：dongbaobao
java數學小遊戲 很好玩的喲 學習與娛樂并存
上傳時間： 2016-08-11
上傳用戶：qq1604324866
提供tiff檔案的讀取與轉換！內含lib與dll及標題檔等資料供設計者參考！
上傳時間： 2016-08-11
上傳用戶：王小奇
資料壓縮技術與應用-變動長度編碼壓縮及解壓縮(Run Length Encoding) 整數採用固定長度一個位元組表示法 對於只出現一次的位元組S亦用iS取代
上傳時間： 2016-08-15
上傳用戶：GavinNeko
資料壓縮技術與應用-變動長度編碼壓縮(Run Length Encoding)~ 整數採用固定長度一個位元組表示法~ 對於只出現一次的位元組S亦用iS取代~
上傳時間： 2016-08-15
上傳用戶：asdfasdfd
OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言 本篇報告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎上，結合ARM7TDMI詳細介紹了的JTAG測試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測試標準開始，JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡稱。IEEE 1149.1標準最初是由JTAG這個組織提出，最終由IEEE批準並且標準化，所以，IEEE 1149.1這個標準一般也俗稱JTAG測試標準。 接下來介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構。
標簽： JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM
上傳時間： 2016-08-16
上傳用戶：sssl
內容為DEV C++物件導向程式設計的PPT,說明淺顯易懂,希望對各位有所幫助
上傳時間： 2014-08-09
上傳用戶：qunquan
在做2維度樣本分類的過程中,若我們能事先畫出訓練樣本在空間中的分散情形,這將有助於我們在設定SVM分類器的參數C的取值範圍. 例如:若畫出的訓練樣本的散佈較分散,我們可以得知此時採用的參數值可以取在較大的範圍. 所以本程式也是讓想要畫出資料樣本在平面的散佈情形者之一各可行工具.
上傳時間： 2016-08-19
上傳用戶：sy_jiadeyi
spy++內附的繁體中文說明檔， 有相關的介紹以及使用方法。
標簽： spy
上傳時間： 2013-12-17
上傳用戶：asdfasdfd
