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KGD質量和可靠性保障技術

  • 資源大小:174 K
  • 上傳時間: 2013-11-08
  • 上傳用戶:ekhlr
  • 資源積分:2 下載積分
  • 標      簽: KGD 質量 可靠性 保障

資 源 簡 介

建立了從裸芯片到KGD的質量與可靠性保證系統,確立了裸芯片測試、老化和評價技術,實現了工作溫度為一55~+125℃ 的裸芯片靜態、動態工作頻率小于100MHz的測試和工作頻率小于3MHz的1 25℃ 動態老化篩選,可保障裸芯片在技術指標和可靠性指標上達到封裝成品的等級要求。

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