專輯類-電子基礎(chǔ)類專輯-153冊(cè)-2.20G 射頻電路設(shè)計(jì)——理論與應(yīng)用-449頁-10.3M.pdf
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專輯類-電子基礎(chǔ)類專輯-153冊(cè)-2.20G 射頻模擬電路復(fù)習(xí)-100頁-1.1M.ppt
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New-尚未歸類-412冊(cè)-8.64G [AutoCAD-Pro.e視頻電子書正式版]-78.6M.zip
標(biāo)簽： AutoCAD-Pro 78.6 zip 視頻
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專輯類-元器件樣本專輯-116冊(cè)-3.03G 2004年《電子零件e購指南》-56篇-79.8M-pdf版.zip
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專輯類-元器件樣本專輯-116冊(cè)-3.03G TDK-CORE-磁芯-147頁-3.4M-e文.pdf
標(biāo)簽： TDK-CORE 147 3.4 M-e
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專輯類-數(shù)字處理及顯示技術(shù)專輯-106冊(cè)-9138M 數(shù)字功放設(shè)計(jì)-24頁-1.0M-PDF版-e文.pdf
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專輯類-單片機(jī)專輯-258冊(cè)-4.20G CP2102最簡單的USB轉(zhuǎn)串口芯片-單片USB-to-UART-用戶手冊(cè)-16頁-0.4M-PDF版-e-.pdf
標(biāo)簽： USB-to-UART M-PDF 2102 0.4
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專輯類-單片機(jī)專輯-258冊(cè)-4.20G AVR450為SLA、NiCd、NiMH-和Li-Ion-電池設(shè)計(jì)的充電器-45頁-0.7M-PDF版.pdf
標(biāo)簽： Li-Ion M-PDF NiCd NiMH
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射頻識(shí)別(Radio Frequency Identification，RFID)是一種允許非接觸式數(shù)據(jù)采集的自動(dòng)識(shí)別技術(shù)。其中工作在超高頻(Ultra High Frequency，UHF)頻段的無源RFID系統(tǒng)，由于在物流與供應(yīng)鏈管理等領(lǐng)域的潛在應(yīng)用，近年來得到了人們的廣泛關(guān)注。這種系統(tǒng)所使用的無源標(biāo)簽具有識(shí)別距離長、體積小、成本低廉等突出特點(diǎn)。目前在市場上出現(xiàn)了各種品牌型號(hào)的UHF RFID無源標(biāo)簽，由于不同品牌型號(hào)的標(biāo)簽在設(shè)計(jì)與制造工藝上的差異，這些標(biāo)簽在性能表現(xiàn)上各不相同，這就給終端用戶選擇合適自己應(yīng)用的標(biāo)簽帶來了困難。RFID基準(zhǔn)測試就是在實(shí)際部署RFID系統(tǒng)前對(duì)RFID標(biāo)簽的性能進(jìn)行科學(xué)評(píng)估的有效手段。然而為了在常規(guī)實(shí)驗(yàn)室條件下得到準(zhǔn)確公正的測試結(jié)果，需要對(duì)基準(zhǔn)測試的性能指標(biāo)及測試方法學(xué)開展進(jìn)一步的研究。本文正是研究符合EPC Class1 Gen2標(biāo)準(zhǔn)的RFID標(biāo)簽基準(zhǔn)測試。 本文首先分析了當(dāng)前廣泛應(yīng)用的超高頻無源RFID標(biāo)簽基準(zhǔn)測試性能指標(biāo)與測試方法上的局限性與不足之處。例如，在真實(shí)的應(yīng)用環(huán)境中，由于受到各種環(huán)境因素的影響，對(duì)同一品牌型號(hào)的標(biāo)簽，很難得到一致的識(shí)讀距離測試結(jié)果。另外，在某些測試場景中，使用識(shí)讀速率作為測試指標(biāo)，所得到的測試結(jié)果數(shù)值非常接近，以致分辨度不足以區(qū)分不同品牌型號(hào)標(biāo)簽的性能差異。在這些分析基礎(chǔ)上，本文把路徑損耗引入了RFID基準(zhǔn)測試，通過有限點(diǎn)的測量與數(shù)據(jù)擬合分別得到不同類型標(biāo)簽的路徑損耗方程，結(jié)合讀寫器天線的輻射方向圖，進(jìn)一步得到各種標(biāo)簽受限于讀寫器接收靈敏度的覆蓋區(qū)域。無源標(biāo)簽由于其被動(dòng)式能量獲取方式，其實(shí)際工作區(qū)域仍然受限于前向鏈路。本文通過實(shí)驗(yàn)測試出這些標(biāo)簽的最小激活功率后，得出了各種標(biāo)簽在一定讀寫器發(fā)射功率下的激活區(qū)域。完成這些步驟后，根據(jù)這兩種區(qū)域的交集可以確定標(biāo)簽的工作區(qū)域，從而進(jìn)行標(biāo)簽間的比較并達(dá)到基準(zhǔn)測試的目的，并能找出限制標(biāo)簽工作范圍的瓶頸。 本文最后從功率損耗的角度研究了標(biāo)簽之間的相互干擾，為用戶在密集部署RFID標(biāo)簽的場景中設(shè)置標(biāo)簽之間的最小間隔距離具有重要的參考意義。
標(biāo)簽： 超高頻 射頻識(shí)別 基準(zhǔn)測試
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射頻功率放大器存在于各種現(xiàn)代無線通信系統(tǒng)的末端，所以射頻功率放大器性能的優(yōu)劣直接影響到整個(gè)通信系統(tǒng)的性能指標(biāo)。如何在兼顧效率的前提下提高功放的線性度是近年來國內(nèi)外的研究熱點(diǎn)，在射頻功率放大器的設(shè)計(jì)過程中這是非常重要的問題。 作為發(fā)射機(jī)末端的重要模塊，射頻功率放大器的主要任務(wù)是給負(fù)載天線提供一定功率的發(fā)射信號(hào)，因此射頻功率放大器一般都工作在大信號(hào)條件下。所以設(shè)計(jì)射頻功率放大器時(shí)，器件的選型和設(shè)計(jì)方式都和一般的小信號(hào)放大器不同，尤其在寬帶射頻功率放大器的設(shè)計(jì)過程中，由于工作頻帶很寬，且要綜合考慮線性度和效率問題，所以射頻功率放大器的設(shè)計(jì)難度很大。 本文設(shè)計(jì)了一個(gè)工作頻帶為30-108MHz，增益為25dB的寬帶射頻功率放大器。由于工作頻帶較寬，輸出功率較大，線性度要求高；所以在實(shí)際的過程中采用了寬帶匹配，功率回退等技術(shù)來達(dá)到最終的設(shè)計(jì)目標(biāo)。 本文首先介紹了關(guān)于射頻功率放大器的一些基礎(chǔ)理論，包括器件在射頻段的工作模型，使用傳輸線變壓器實(shí)現(xiàn)阻抗變換的基本原理，S參數(shù)等，這些是設(shè)計(jì)射頻功率放大器的基本理論依據(jù)。然后本文描述了射頻功率放大器非線性失真產(chǎn)生的原因，在此基礎(chǔ)上介紹了幾種線性化技術(shù)并做出比較。然后本文介紹了射頻功率放大器的主要技術(shù)指標(biāo)并提出一種具體的設(shè)計(jì)方案，最后利用ADS軟件對(duì)設(shè)計(jì)方案進(jìn)行了仿真。仿真過程包括兩個(gè)步驟，首先是進(jìn)行直流仿真來確定功放管的靜態(tài)工作點(diǎn)，然后進(jìn)行功率增益即S21的仿真并達(dá)到設(shè)計(jì)要求。
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