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DNL

  • 用MATLAB仿真AD設(shè)計(jì)中的DNL和INL計(jì)算

    用MATLAB仿真AD設(shè)計(jì)中的DNL和INL計(jì)算

    標(biāo)簽: MATLAB DNL INL 仿真

    上傳時(shí)間: 2017-06-11

    上傳用戶:hewenzhi

  • ADC的九個(gè)關(guān)鍵指標(biāo)

        模擬轉(zhuǎn)換器性能不只依賴分辨率規(guī)格   大量的模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)使人們難以選擇最適合某種特定應(yīng)用的ADC器件。工程師們選擇ADC時(shí),通常只注重位數(shù)、信噪比(SNR)、諧波性能,但是其它規(guī)格也同樣重要。本文將介紹ADC器件最易受到忽視的九項(xiàng)規(guī)格,并說明它們是如何影響ADC性能的。   1. SNR比分辨率更為重要。   ADC規(guī)格中最常見的是所提供的分辨率,其實(shí)該規(guī)格并不能表明ADC器件的任何能力。但可以用位數(shù)n來計(jì)算ADC的理論SNR:   不 過工程師也許并不知道,熱噪聲、時(shí)鐘抖動、差分非線性(DNL)誤差以及其它參數(shù)異常都會限制ADC器件的SNR。對于高性能高分辨率轉(zhuǎn)換器尤其如此。一 些數(shù)據(jù)表提供有效位數(shù)(ENOB)規(guī)格,它描述了ADC器件所能提供的有效位數(shù)。為了計(jì)算ADC的ENOB值,應(yīng)把測量的SNR值放入上述公式,并求解 n。

    標(biāo)簽: ADC 指標(biāo)

    上傳時(shí)間: 2014-12-22

    上傳用戶:z240529971

  • MATLAB計(jì)算DNL

    測量結(jié)果分析ADC的靜態(tài)特性 碼密度統(tǒng)計(jì)方法

    標(biāo)簽: MATLAB DNL 計(jì)算

    上傳時(shí)間: 2019-05-22

    上傳用戶:guxian0@sina.com

  • 基于Proteus的單片機(jī)模數(shù)轉(zhuǎn)換電路的設(shè)計(jì)與仿真

    以單片機(jī)控制A/D轉(zhuǎn)換器TLC549為例,對A/D轉(zhuǎn)換器的主要技術(shù)指標(biāo)進(jìn)行了分析研究,在Proteus平臺下,完成了A/D轉(zhuǎn)換電路的構(gòu)建,采用器件工作時(shí)序方式進(jìn)行程序編寫,借助仿真圖表、虛擬儀器等工具對A/D轉(zhuǎn)換的數(shù)據(jù)進(jìn)行測量并對失調(diào)誤差、增益誤差、微分非線性、積分非線性和轉(zhuǎn)換時(shí)間等重要參數(shù)進(jìn)行了詳細(xì)分析。結(jié)果表明:使用Proteus軟件可對A/D轉(zhuǎn)換過程進(jìn)行定性分析,將抽象的A/D轉(zhuǎn)換器技術(shù)指標(biāo)直觀化、形象化展現(xiàn)出來,有助于學(xué)生更好地理解A/D轉(zhuǎn)換過程。The main technical indicators of A/D converter were analyzed and studied with an example from A/D converter TLC2543 which is controlled by using SCM.It was completed the construction of the A/D converter circuit under the Proteus software.The programming based on the operation sequence of the chip is put forward.With the aid of the simulation tools such as virtual instrument,simulation charts provided by Proteus,the important parameters of circuit such as offset error,gain error,differential nonlinearity(DNL),integral nonlinearity (INL) and conversion time are analyzed detailedly.Simulation results show that the A/D conversion process can be qualitatively analyzed and visualized the abstract indicators of A/D.The system can help students better to understand the SCM conversion process.

    標(biāo)簽: proteus 單片機(jī) 模數(shù)轉(zhuǎn)換

    上傳時(shí)間: 2022-04-04

    上傳用戶:

  • AD5791 STM32驅(qū)動程序

    AD5791是一款單通道、20位、無緩沖電壓輸出DAC,采用最高33V的雙極性電源供電。正基準(zhǔn)電壓輸入范圍為4V至VDD–2.5V,負(fù)基準(zhǔn)電壓輸入范圍為VSS + 2.5 V至0V。相對精度最大值為±1 LSB,保證工作單調(diào)性,微分非線性(DNL)最大值為±1 LSB。特性分辨率:1ppm積分非線性(INL):1ppm噪聲譜密度:7.5nV/√Hz長期線性穩(wěn)定性:0.19 LSB溫度漂移:<0.05 ppm/°C建立時(shí)間:1μs毛刺脈沖:1 nV-s工作溫度范圍:-40°C至125°C20引腳TSSOP封裝寬電源電壓范圍:最高達(dá)±16.5V35 MHz施密特觸發(fā)數(shù)字接口1.8 V兼容數(shù)字接口

    標(biāo)簽: ad5791 stm32

    上傳時(shí)間: 2022-04-28

    上傳用戶:XuVshu

  • 高速ADC、DAC測試原理及測試方法

    隨著數(shù)字信號處理技術(shù)和數(shù)字電路工作速度的提高,以及對于系統(tǒng)靈敏度等要求的不斷提高,對于高速、高精度的ADC、DAC的指標(biāo)都提出了很高的要求。比如在移動通信、圖像采集等應(yīng)用領(lǐng)域中,一方面要求ADC有比較高的采樣率以采集高帶寬的輸入信號,另一方面又要有比較高的位數(shù)以分辨細(xì)微的變化。因此,保證ADC/DAC在高速采樣情況下的精度是一個(gè)很關(guān)鍵的問題。ADC/DAC芯片的性能測試是由芯片生產(chǎn)廠家完成的,需要借助昂貴的半導(dǎo)體測試儀器,但是對于板級和系統(tǒng)級的設(shè)計(jì)人員來說,更重要的是如何驗(yàn)證芯片在板級或系統(tǒng)級應(yīng)用上的真正性能指標(biāo)。ADC的主要參數(shù)ADC的主要指標(biāo)分為靜態(tài)指標(biāo)和動態(tài)指標(biāo)2大類。靜態(tài)指標(biāo)主要有:Differ ential Non-Li nearity(DNL)ntegral Non-Li nearity(INL)Of fset Error ull Scale Gain Error動態(tài)指標(biāo)主要有:

    標(biāo)簽: ADC DAC

    上傳時(shí)間: 2022-06-19

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