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BIST

  • BIST 電路IP核的VHDL語言源代碼

    BIST 電路IP核的VHDL語言源代碼,需要的開發環境是QUARTUS II 6.0。

    標簽: BIST VHDL 電路 IP核

    上傳時間: 2013-12-15

    上傳用戶:lizhizheng88

  • 用于SoC設計的DFT和BIST

    用于SoC設計的DFT和BIST,講解了在SOC設計中需要考慮的可測性設計問題

    標簽: BIST SoC DFT

    上傳時間: 2016-10-28

    上傳用戶:亞亞娟娟123

  • A BIST (BUILT-IN SELF-TEST) STRATEGY FOR MIXED-SIGNAL INTEGRATED CIRCUITS

    A BIST (BUILT-IN SELF-TEST) STRATEGY FOR MIXED-SIGNAL INTEGRATED CIRCUITS

    標簽: MIXED-SIGNAL INTEGRATED SELF-TEST BUILT-IN

    上傳時間: 2013-12-03

    上傳用戶:xzt

  • 數字集成電路與嵌入式內核系統可測試性設計(影印版)

    ·書中包括的索引使你能夠根據自己的需要,直接閱讀你所關注的內容。主要內容包括:設計核心,關注嵌入核心和嵌入存儲器;系統集成和超大規模集成電路的設計問題;AC掃描、正常速度掃描和嵌入式可測試性設計;內建、自測試、含內存BIST、邏輯BIST及掃描BIST;虛擬測試套接字和隔離測試 ·重用設計,包括重用和隔離測試;用VSIA和IEEE P1500標準處理測試問題。 書中穿插的整幅圖解直接來自作者的教學材

    標簽: 數字集成電路 嵌入式 內核

    上傳時間: 2013-04-24

    上傳用戶:sjb555

  • 芯片測試講義

    芯片測試講義,講的BIST內容。 即芯片的自測。

    標簽: 芯片測試 講義

    上傳時間: 2014-01-04

    上傳用戶:

  • 數字存儲器和混合信號超大規模集成電路 本書系統地介紹了數字、存儲器和混合信號VLSI系統的測試和可測試性設計。該書是根據作者多年的科研成果和教學實踐

    數字存儲器和混合信號超大規模集成電路 本書系統地介紹了數字、存儲器和混合信號VLSI系統的測試和可測試性設計。該書是根據作者多年的科研成果和教學實踐,結合國際上關注的最新研究熱點并參考大量的文獻撰寫的。全書共分三個部分。第一部分是測試基礎,介紹了測試基本概念、測試設備、測試經濟學和故障模型。第二部分是測試方法,詳細論述了組合和時序電路的測試生成、存儲器測試、基于DSP和基于模塊的模擬與混合信號測試、延遲測試和IDDQ測試等。第三部分是可測試性設計,包括掃描設計、BIST、邊界掃描測試、模擬測試總線標準和基于IP芯核的SOC(System on a chip)測試。

    標簽: VLSI 數字 存儲器 混合信號

    上傳時間: 2013-11-26

    上傳用戶:hullow

  • CPU可測試性設計

    可測試性設計(Design-For-Testability,DFT)已經成為芯片設計中不可或缺的重要組成部分。它通過在芯片的邏輯設計中加入測試邏輯提高芯片的可測試性。在高性能通用 CPU 的設計中,可測試性設計技術得到了廣泛的應用。本文結合幾款流行的 CPU,綜述了可應用于通用 CPU 等高性能芯片設計中的各種可測試性方法,包括掃描設計(Scan Design),內建自測試(Built-In Self-Test,BIST),測試點插入(Test Point Insertion),與 IEEE 1149.1標準兼容的邊界掃描設計(Boundary Scan Design,BSD)等技術。

    標簽: 可測試性設計 CPU

    上傳時間: 2021-10-15

    上傳用戶:

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