ATPG
APT是一個(gè)程序開(kāi)發(fā)語(yǔ)言，AutomaticTestPatternGeneration(
ATPG)自動(dòng)測(cè)試向量生成是在半導(dǎo)體電器測(cè)試中使用的測(cè)試圖形向量由程序自動(dòng)生成的過(guò)程。測(cè)試向量按順序地加載到器件的輸入腳上，輸出的信號(hào)被收集并與預(yù)算好的測(cè)試向量相比較從而判斷測(cè)試的結(jié)果。
ATPG有效性是衡量測(cè)試錯(cuò)誤覆蓋率的重要指標(biāo)。
