是一個集成的熱電偶測量系統(tǒng)，基于AD7124-4/AD7124-8低功耗、低噪聲、24位 - 型模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)，針對高精度測量應(yīng)用而優(yōu)化。使用該系統(tǒng)的熱電偶測量在?50°C至+200°C的測量溫度范圍內(nèi)具有±1°C的整體系統(tǒng)精度。系統(tǒng)的典型無噪聲碼分辨率約為15位。AD7124-4可配置為4個差分或7個偽差分輸入通道，而AD7124-8可配置為8個差分或15個偽差分輸入通道。片內(nèi)低噪聲可編程增益陣列(PGA)確保ADC中可直接輸入小信號。
標簽： adc
上傳時間： 2022-05-25
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基于STM32F103的ADC試驗例程，C語言代碼。
上傳時間： 2022-06-08
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ADS1256 是TI（Texas I nstruments ）公司推出的一款低噪聲高分辨率的24 位Si gma - Delta（"- #）模數(shù)轉(zhuǎn)換器（ADC）。"- #ADC 與傳統(tǒng)的逐次逼近型和積分型ADC 相比有轉(zhuǎn)換誤差小而價格低廉的優(yōu)點，但由于受帶寬和有效采樣率的限制，"- #ADC 不適用于高頻數(shù)據(jù)采集的場合。該款A(yù)DS1256 可適合于采集最高頻率只有幾千赫茲的模擬數(shù)據(jù)的系統(tǒng)中，數(shù)據(jù)輸出速率最高可為30K 采樣點／秒（SPS），有完善的自校正和系統(tǒng)校正系統(tǒng)， SPI 串行數(shù)據(jù)傳輸接口。本文結(jié)合筆者自己的應(yīng)用經(jīng)驗，對該ADC 的基本原理以及應(yīng)用做簡要介紹。ADs1256 的總體電氣特性下面介紹在使用ADs1256 的過程中要注意的一些電氣方面的具體參數(shù)：模擬電源（AVDD ）輸入范圍+ 4 . 75V !+ 5 .25V，使用的典型值為+ 5 .00V；數(shù)字電源（DVDD ）輸入范圍+ 1 . 8V !+ 3 .6V，使用的典型值+ 3 .3V；參考電壓值（VREF= VREFP- VREFN）的范圍+ 0 .5V!+ 2 .6V，使用的典型值為+ 2 .5V；耗散功率最大為57mW；每個模擬輸入端（AI N0 !7 和AI NC M）相對于模擬地（AGND）的絕對電壓值范圍在輸入緩沖器（BUFFER）關(guān)閉的時候為AGND-0 .1 !AVDD+ 0 . 1 ，在輸入緩沖器打開的時候為AGND !AVDD-2 .0 ；滿刻度差分模擬輸入電壓值（VI N = AI NP -AI NN）為+ ／-（2VREF／PGA）；數(shù)字輸入邏輯高電平范圍0 .8DVDD!5 .25V（除D0 !D3 的輸入點平不可超過DVDD 外），邏輯低點平范圍DGND!0 .2DVDD；數(shù)字輸出邏輯高電平下限為0 .8DVDD，邏輯低電平上限為0 .2DVDD，輸出電流典型值為5mA；主時鐘頻率由外部晶體振蕩器提供給XTAL1和XTAL2 時，要求范圍為2 M!10 MHz ，僅由CLKI N 輸入提供時，范圍為0 .1 M!10 MHz 。
上傳時間： 2022-06-10
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一款用于NTC熱敏電阻阻值及電路應(yīng)用下ADC值生成的通用計算工具目前仍然為免費軟件—對熱敏電阻沒有型號限值，只要輸入相關(guān)的參數(shù)即可；—3種輸出選擇：NTC阻值RT表；NTC接激勵電壓分壓電阻形式下的ADC值；NTC接GND的分壓電阻形式下的ADC值—NTC值的有效位選擇；—ADC的分辨率選擇；—輸出到粘貼板，直接拷貝即可使用于軟件應(yīng)用—應(yīng)用說明，NTC特性介紹
上傳時間： 2022-06-15
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ADS1256 24位ADC AD模塊 高精度ADC 采集卡說明書
上傳時間： 2022-06-17
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作為模擬與數(shù)字電路的接口電路的關(guān)鍵部分，模數(shù)轉(zhuǎn)換器（ADC）現(xiàn)代通信、需達、盧納以及眾多消費電子產(chǎn)品中都占據(jù)極其重要的地位。隨著科技的迅猛發(fā)展，對模數(shù)轉(zhuǎn)換器的性能，特別是速度上的要求越來越高，ADC的性能好壞甚至已經(jīng)成為決定設(shè)備性能的關(guān)鍵因素。本文以超高速ADC作為設(shè)計的目標，采用了Flash型結(jié)構(gòu)作為研究的方向，并且從ADC的速度和失調(diào)電壓消除技術(shù)入手進行了重點研究。本文采用了種新穎的消除失調(diào)電壓的技術(shù)-chopping技術(shù)，該技術(shù)主要是依靠 組隨機數(shù)產(chǎn)生器所產(chǎn)生的高速隨機數(shù)序列來隨機快速置換比較器輸入端，從而使得失調(diào)電壓近似平均為零，本文設(shè)計了種高速隨機數(shù)產(chǎn)生器，可以產(chǎn)生速率達到1GHz的隨機數(shù)序列。由于比較器部分是影響整個ADC速度的關(guān)鍵因素，因此在設(shè)計中對于比較器部分逃行了重點優(yōu)化設(shè)計。另外還在數(shù)字編碼電路中加入了糾錯設(shè)計。通過電路仿真，所設(shè)計的ADC可達到1GHz的采樣速率，最大積分非線性和微分非線性分別為0.42LSB和0.49LSB，當輸入信號頻率為16.6MHz時，無雜波動態(tài)范圍（SFDR）達到41dB，當加入50mV失調(diào)電壓時，chopping技術(shù)可以將SFDR增加3dB左右。本設(shè)計采用了和艦0.18um CMOS混合信號工藝，完成了主要模塊版圖的設(shè)計工作。關(guān)鍵詞 Flash型 ADC；失調(diào)電壓消除技術(shù)：chopping技術(shù)
上傳時間： 2022-06-19
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隨著數(shù)字信號處理技術(shù)和數(shù)字電路工作速度的提高，以及對于系統(tǒng)靈敏度等要求的不斷提高，對于高速、高精度的ADC、DAC的指標都提出了很高的要求。比如在移動通信、圖像采集等應(yīng)用領(lǐng)域中，一方面要求ADC有比較高的采樣率以采集高帶寬的輸入信號，另一方面又要有比較高的位數(shù)以分辨細微的變化。因此，保證ADC/DAC在高速采樣情況下的精度是一個很關(guān)鍵的問題。ADC/DAC芯片的性能測試是由芯片生產(chǎn)廠家完成的，需要借助昂貴的半導(dǎo)體測試儀器，但是對于板級和系統(tǒng)級的設(shè)計人員來說，更重要的是如何驗證芯片在板級或系統(tǒng)級應(yīng)用上的真正性能指標。ADC的主要參數(shù)ADC的主要指標分為靜態(tài)指標和動態(tài)指標2大類。靜態(tài)指標主要有：Differ ential Non-Li nearity（DNL）ntegral Non-Li nearity（INL）Of fset Error ull Scale Gain Error動態(tài)指標主要有：
上傳時間： 2022-06-19
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DSP28335程序，使用片上SCI口進行串行通訊。包括發(fā)送和接受
上傳時間： 2022-06-21
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臺系宏康HY3102 24位sigma-delta ADC芯片，SPI接口。本人寫的主控HY16F198 C驅(qū)動程序,經(jīng)過測試驗證可用。程序及注釋完整，有需要的可以下載參考。
標簽： ADC sigma-delta hy3102 驅(qū)動
上傳時間： 2022-06-22
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1A/D轉(zhuǎn)換器的分類與比較AD轉(zhuǎn)換器（ADC）是模擬系統(tǒng)與數(shù)字系統(tǒng)接口的關(guān)鍵部件，長期以米一直被廣泛應(yīng)用于雷達、通信、電子對抗、聲納、衛(wèi)星、導(dǎo)彈、測控系統(tǒng)、地震、醫(yī)療、儀器儀表、圖像和音頻等領(lǐng)域。隨者計算機和通信產(chǎn)業(yè)的迅猛發(fā)展，進一步推動了ADC在便攜式設(shè)備上的應(yīng)用并使其有了長足進步，ADC正逐步向高速、高精度和低功耗的方向發(fā)展。通常，AD轉(zhuǎn)換器具有三個基本功能：采樣、量化和編碼。如何實現(xiàn)這三個功能，決定了AD轉(zhuǎn)換器的電路結(jié)構(gòu)和工作性能。AD轉(zhuǎn)換器的分類很多，按采樣頻率可劃分為奈奎斯特采樣ADC和過采樣ADC，奈奎斯特采樣ADC又可劃分為高速ADC、中速ADC和低速ADC：按性能劃分為高速ADC和高精度ADC：按結(jié)構(gòu)劃分為串行ADC、并行ADC和串并行ADC.在頻率范圍內(nèi)還可以按電路結(jié)構(gòu)細分為更多種類。中低速ADC可分為積分型ADC、過采樣Sigma-Delta型 ADC、逐次逼近型ADC，Algonithmic ADC：高速ADC可以分為閃電式ADC、兩步型ADC、流水線ADC、內(nèi)插性ADC、折疊型ADC和時間交織型ADC，下面主要介紹幾種常用的、應(yīng)用最廣泛的ADC結(jié)構(gòu)，它們是：逐次比較式（SAR）ADC、快閃式（Flash）ADC、折疊插入式（Fol ding&Interpolation）ADC、流水線式（Pipelined）ADC和-A型A/D轉(zhuǎn)換器。
標簽： adc
上傳時間： 2022-06-23
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