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ADc-DAC

  • 可重構24bit音頻過采樣DAC的FPGA

    基于過采樣和∑-△噪聲整形技術的DAC能夠可靠地把數字信號轉換為高精度的模擬信號(大于等于16位)。采用這一架構進行數模轉換具有諸多優點,例如極低的失配噪聲和更高的可靠性,便于實現嵌入式集成等,最重要的是可以得到其他DAC結構所無法達到的精度和動態范圍。在高精度測量,音頻轉換,汽車電子等領域有著廣泛的應用價值。 本文采用∑-△結構以FPGA方式實現了一個具有高精度的數模轉換器,在24比特的輸入信號下,達到了約150dB的信噪比。作為一個靈活的音頻DAC實現方案。該DAC可以對CD/DVD/HDCD/SACD等多種制式下的音頻信號進行處理,接受并轉換采樣率為32/44.1/48/88.2/96/192kHz,字長為16/18/20/24比特的PCM數據,具備良好的兼容性和通用性。 由于非線性和不穩定性的存在,高階∑-△調制器的設計與實現存在較大的難度。本文綜合大量文獻中的經驗原則和方法,闡述了穩定的高階高精度調制器的設計流程;并據此設計了達到24bit精度和滿量程輸入范圍的的5階128倍調制器。本文創新性地提出了∑-△調制器的一種高效率流水線實現結構。分析表明,與其他常見的∑-△調制器實現結構相比,本方案具有結構簡單、運算單元少等優點;此外在同樣信號采樣率下,調制器所需的時鐘頻率大大降低。 文中的過采樣濾波模塊采用三級半帶濾波器和一個可變CIC濾波器級聯組成,可以達到最高128倍的過采樣比,同時具有良好的通帶和阻帶特性。在半帶濾波器的設計中采用了CSD編碼,使結構得到了充分的簡化。 本文提出的過采樣DAC方案具有可重配置結構,讓使用者能夠方便地控制過采樣比和調制器階數。通過積分梳狀濾波器的配置,能夠獲得32/64/128倍的不同過采樣比,從而實現對于32~192kHz多種采樣率輸入的處理。在不同輸入字長情況下,通過調制器的重構,則可以將調制器由高精度的5階模式改變為功耗更低的3階模式,滿足不同分辨率信號輸入時的不同精度要求。這是本文的另一創新之處。 目前,該過采樣DAC已經在XilinxVirtexⅡ系列FPGA器件下得到硬件實現和驗證。測試表明,對于從32kHz到192kHz的不同輸入信號,該DAC模塊輸出1比特碼流的帶內信噪比均能滿足24比特數據轉換應用的分辨率要求。

    標簽: FPGA bit DAC 24

    上傳時間: 2013-07-08

    上傳用戶:從此走出陰霾

  • 時分交替ADC系統數字校準算法

    隨著現代通信與信號處理技術的不斷發展,對于高速高精度AD轉換器的需求越來越大。但是,隨著集成電路工藝中電路特征線寬的不斷減小,在傳統單通道ADC框架下同時實現高速、高精度的數模轉換愈加困難。此時,時分交替ADC 作為...

    標簽: ADC 時分 數字校準

    上傳時間: 2013-07-08

    上傳用戶:mylinden

  • 基于FPGA的ADC并行測試方法研究

    高性能ADC產品的出現,給混合信號測試領域帶來前所未有的挑戰。并行ADC測試方案實現了多個ADC測試過程的并行化和實時化,減少了單個ADC的平均測試時間,從而降低ADC測試成本。本文實現了基于FPGA的ADC并行測試方法。在閱讀相關文獻的基礎上,總結了常用ADC參數測試方法和測試流程。使用FPGA實現時域參數評估算法和頻域參數評估算法,并對2個ADC在不同樣本數條件下進行并行測試。    本研究通過在FPGA內部實現ADC測試時域算法和頻域算法相結合的方法來搭建測試系統,完成了音頻編解碼器WM8731L的控制模式接口、音頻數據接口、ADC測試時域算法和頻域算法的FPGA實現。整個測試系統使用Angilent33220A任意信號發生器提供模擬激勵信號,共用一個FPGA內部實現的采樣時鐘控制模塊。并行測試系統將WM8731.L片內的兩個獨立ADC的串行輸出數據分流成左右兩通道,并對其進行串并轉換。然后對左右兩個通道分別配置一個FFT算法模塊和時域算法模塊,并行地實現了ADC參數的評估算法。在樣本數分別為128和4096的實驗條件下,對WM8731L片內2個被測.ADC并行地進行參數評估,被測參數包括增益GAIN、偏移量OFFSET、信噪比SNR、信號與噪聲諧波失真比SINAD、總諧波失真THD等5個常用參數。實驗結果表明,通過在FPGA內配置2個獨立的參數計算模塊,可并行地實現對2個相同ADC的參數評估,減小單個ADC的平均測試時間。FPGA片內實時評估算法的實現節省了測試樣本傳輸至自動測試機PC端的時間。而且只需將HDL代碼多次復制,就可實現多個被測ADC在同一時刻并行地被評估,配置靈活。基于FPGA的ADC并行測試方法易于實現,具有可行性,但由于噪聲的影響,測試精度有待進一步提高。該方法可用于自動測試機的混合信號選項卡或測試子系統。

    標簽: FPGA ADC 并行測試 方法研究

    上傳時間: 2013-06-07

    上傳用戶:gps6888

  • LM3S ADC例程多種采樣觸發方式

    LM3S系列ADC例程:多種采樣觸發方式

    標簽: LM3S ADC 采樣 觸發

    上傳時間: 2013-05-29

    上傳用戶:6546544

  • LM3S系列ADC例程內置的溫度傳感器

    LM3S系列ADC例程:內置的溫度傳感器

    標簽: LM3S ADC 內置 溫度傳感器

    上傳時間: 2013-04-24

    上傳用戶:qunquan

  • STM32綜合例程(3.5.0固件庫)

    基于STM32F103移植最新固件庫3.5.0,包括常用外設如DAC,ADC,SPI,I2C,DMA,FSMC,TFT等,有詳細的中文注釋,在STM32F103ZET上調試通過,是完整的工程項目,可以完全移植到自己的項目上。

    標簽: STM 32 固件

    上傳時間: 2013-05-31

    上傳用戶:sc965382896

  • freescale k40/k60 adc 例程

    freescale k40/k60 adc 例程

    標簽: freescale adc 40 60

    上傳時間: 2013-06-30

    上傳用戶:zhaiye

  • freescale k40/k60 12bit dac 例程

    freescale k40/k60 cortex m4 12bit dac 例程

    標簽: freescale bit dac 40

    上傳時間: 2013-05-23

    上傳用戶:luominghua

  • freescale k40/k60 pdb-adc 例程

    freescale k40/k60 cortex m4 pdb-adc 例程

    標簽: freescale pdb-adc 40 60

    上傳時間: 2013-04-24

    上傳用戶:xuan‘nian

  • STM32F4-Discovery ADC-Interleaved_DMAmode2 例程

    STM32F4-Discovery ADC-Interleaved_DMAmode2 keil&iar例程

    標簽: ADC-Interleaved_DMAmode Discovery STM 32

    上傳時間: 2013-04-24

    上傳用戶:朗朗乾坤

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