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ADC-LCD

  • LCD顯示屏原理及工程技術-217頁-26.4M.PDF

    專輯類-數字處理及顯示技術專輯-106冊-9138M LCD顯示屏原理及工程技術-217頁-26.4M.PDF

    標簽: 26.4 LCD 217

    上傳時間: 2013-06-26

    上傳用戶:啊颯颯大師的

  • 點陣LCD的驅動顯控原理-84頁-1.2M.pdf

    專輯類-數字處理及顯示技術專輯-106冊-9138M 點陣LCD的驅動顯控原理-84頁-1.2M.pdf

    標簽: LCD 1.2 84

    上傳時間: 2013-07-09

    上傳用戶:皇族傳媒

  • 大尺寸LCD圖像引擎的關鍵算法與前端設計.rar

    在LCD顯示應用領域,通常數據源輸出圖像的分辨率是變化,而從工業生產標準化要求和獲得最佳顯示效果的角度出發,LCD顯示器的物理分辨率則是固定不變的。這就需要將不同分辨率的輸入圖像經過縮放后輸出到分辨率固定的LCD顯示器上,當前工業上解決這一問題的方案是在輸入數據源和數據顯示設備之間設置LCD圖像引擎來實現縮放處理。LCD圖像引擎是面向LCD顯示器應用的一種高度集成的圖像處理芯片,它在整個LCD顯示系統中具有不可取代的位置。 本文在分析了大尺寸LCD圖像引擎的研究現狀之后,提出了擬開發的大尺寸LCD圖像引擎的總體結構和設計目標。針對該體系結構,提出了一種基于2點的三次樣條插值算法,推導出了該算法的插值核函數的表達式,并基于該算法實現LCD圖像引擎的核心部分——圖像縮放引擎的硬件結構設計。主觀和客觀Q值評價實驗結果表明,該算法獲得的插值圖像質量非常接近傳統的雙三次插值算法,而運算復雜度和硬件實現開銷卻低于后者,對于實時性要求較高的LCD圖像引擎來說該算法是一個性價比較高的插值算法。 為了提高經過圖像縮放引擎處理后的圖像顯示質量,在LCD圖像引擎中引入了圖像色彩調整技術。

    標簽: LCD 大尺寸 圖像

    上傳時間: 2013-06-07

    上傳用戶:zoushuiqi

  • LCD控制VHDL程序與仿真.rar

    開發板上已經調試過的LCD控制VHDL程序與仿真

    標簽: VHDL LCD 控制

    上傳時間: 2013-07-21

    上傳用戶:hhkpj

  • LCD控制VHDL程序與仿真修改.rar

    開發板上已經調試過的LCD控制VHDL程序與仿真修改

    標簽: VHDL LCD 控制

    上傳時間: 2013-06-12

    上傳用戶:kr770906

  • 采用軟件校正的TMS320f2812內置ADC采樣值方案.rar

    采用軟件校正的TMS320f2812內置ADC采樣值方案

    標簽: f2812 2812 320f TMS

    上傳時間: 2013-08-02

    上傳用戶:wang5829

  • LCD技術詳細介紹.rar

    LCD技術詳細介紹:LCD的原理,LCD的分類,LCD和CRT(傳統顯示器)的比較以及購買時的注意事項等等

    標簽: LCD 詳細介紹

    上傳時間: 2013-06-19

    上傳用戶:xiaoyunyun

  • TFT-LCD的驅動原理.rar

    tft-lcd驅動原理,對要研究TFTlcd的朋友有很大用處

    標簽: TFT-LCD 驅動原理

    上傳時間: 2013-07-08

    上傳用戶:lingduhanya

  • 基于FPGA的ADC并行測試方法研究.rar

    高性能ADC產品的出現,給混合信號測試領域帶來前所未有的挑戰。并行ADC測試方案實現了多個ADC測試過程的并行化和實時化,減少了單個ADC的平均測試時間,從而降低ADC測試成本。 本文實現了基于FPGA的ADC并行測試方法。在閱讀相關文獻的基礎上,總結了常用ADC參數測試方法和測試流程。使用FPGA實現時域參數評估算法和頻域參數評估算法,并對2個ADC在不同樣本數條件下進行并行測試。 通過在FPGA內部實現ADC測試時域算法和頻域算法相結合的方法來搭建測試系統,完成音頻編解碼器WM8731L的控制模式接口、音頻數據接口、ADC測試時域算法和頻域算法的FPGA實現。整個測試系統使用Angilent 33220A任意信號發生器提供模擬激勵信號,共用一個FPGA內部實現的采樣時鐘控制模塊。并行測試系統將WM8731.L片內的兩個獨立ADC的串行輸出數據分流成左右兩通道,并對其進行串并轉換。然后對左右兩個通道分別配置一個FFT算法模塊和時域算法模塊,并行地實現了ADC參數的評估算法。 在樣本數分別為128和4096的實驗條件下,對WM8731L片內2個被測.ADC并行地進行參數評估,被測參數包括增益GAIN、偏移量OFFSET、信噪比SNR、信號與噪聲諧波失真比SINAD、總諧波失真THD等5個常用參數。實驗結果表明,通過在FPGA內配置2個獨立的參數計算模塊,可并行地實現對2個相同ADC的參數評估,減小單個ADC的平均測試時間。 FPGA片內實時評估算法的實現節省了測試樣本傳輸至自動測試機PC端的時間。而且只需將HDL代碼多次復制,就可實現多個被測ADC在同一時刻并行地被評估,配置靈活。基于FPGA的ADC并行測試方法易于實現,具有可行性,但由于噪聲的影響,測試精度有待進一步提高。該方法可用于自動測試機的混合信號選項卡或測試子系統。 關鍵詞:ADC測試;并行;參數評估;FPGA;FFT

    標簽: FPGA ADC 并行測試

    上傳時間: 2013-07-11

    上傳用戶:tdyoung

  • Micrium-ST-uCOS-II-LCD-STM32.rar.rar

    在STM32上移植UCos2內核后,調試LCD成功,源代碼確保調試通過。

    標簽: Micrium-ST-uCOS-II-LCD-STM 32

    上傳時間: 2013-07-11

    上傳用戶:tb_6877751

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