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集成設(shè)計環(huán)境

  • 微電腦型數學演算式隔離傳送器

    特點: 精確度0.1%滿刻度 可作各式數學演算式功能如:A+B/A-B/AxB/A/B/A&B(Hi or Lo)/|A|/ 16 BIT類比輸出功能 輸入與輸出絕緣耐壓2仟伏特/1分鐘(input/output/power) 寬范圍交直流兩用電源設計 尺寸小,穩定性高

    標簽: 微電腦 數學演算 隔離傳送器

    上傳時間: 2014-12-23

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  • 第4章 集成運算放大電路

    §4.1 概述 §4.2 集成運放中的電流源電路 §4.3 集成運放電路簡介 §4.4 集成運放的性能指標及低頻等效電路 §4.5 集成運放的種類及選擇 §4.6 集成運放的使用

    標簽: 集成運算 放大電路

    上傳時間: 2013-11-24

    上傳用戶:xuanchangri

  • 集成運算放大器的使用可靠性

    集成運算放大器是一種高倍率的直流放大器。當選取不同的反饋電路時,它就可以對信號進行放大以及加,減微分,積分等運算。

    標簽: 集成運算放大器 可靠性

    上傳時間: 2013-10-25

    上傳用戶:liangrb

  • 集成運算放大器的應用

    實驗八 集成運算放大器一、實驗目的1.學習集成運算放大器的使用方法。2.掌握集成運算放大器的幾種基本運算方法。二、預習內容及要求集成運算放大器是具有高開環放大倍數的多級直接耦合放大電路。在它外部接上負反饋支路和一定的外圍元件便可組成不同運算形式的電路。本實驗只對反相比例、同相比例、反相加法和積分運算進行應用研究。1.圖1是反相比例運算原理圖。反相比例運算輸出電壓 和輸入電壓 的關系為:

    標簽: 集成運算放大器

    上傳時間: 2013-11-10

    上傳用戶:zuozuo1215

  • 小豆——project Library--AD10集成庫

    上傳一分自己用得順心的AD10集成庫

    標簽: project Library AD 10

    上傳時間: 2013-11-15

    上傳用戶:eastgan

  • ORCAD基本問題集成

    ORCAD基本問題的集成束

    標簽: ORCAD 集成

    上傳時間: 2013-11-17

    上傳用戶:yulg

  • 各種集成芯片的封裝尺寸

    各種集成芯片的封裝尺寸,學習PCB的必備材料

    標簽: 集成芯片 封裝尺寸

    上傳時間: 2013-11-07

    上傳用戶:zczc

  • 集成元件庫的創建

    集成元件庫的創建

    標簽: 集成 元件庫

    上傳時間: 2013-11-05

    上傳用戶:a3318966

  • 第五講_altium_designer_集成庫制作

    altium_designer_集成庫制作

    標簽: altium_designer 集成庫

    上傳時間: 2013-10-14

    上傳用戶:kachleen

  • pcb layout design(臺灣硬件工程師15年經驗

    PCB LAYOUT 術語解釋(TERMS)1. COMPONENT SIDE(零件面、正面)︰大多數零件放置之面。2. SOLDER SIDE(焊錫面、反面)。3. SOLDER MASK(止焊膜面)︰通常指Solder Mask Open 之意。4. TOP PAD︰在零件面上所設計之零件腳PAD,不管是否鑽孔、電鍍。5. BOTTOM PAD:在銲錫面上所設計之零件腳PAD,不管是否鑽孔、電鍍。6. POSITIVE LAYER:單、雙層板之各層線路;多層板之上、下兩層線路及內層走線皆屬之。7. NEGATIVE LAYER:通常指多層板之電源層。8. INNER PAD:多層板之POSITIVE LAYER 內層PAD。9. ANTI-PAD:多層板之NEGATIVE LAYER 上所使用之絕緣範圍,不與零件腳相接。10. THERMAL PAD:多層板內NEGATIVE LAYER 上必須零件腳時所使用之PAD,一般稱為散熱孔或導通孔。11. PAD (銲墊):除了SMD PAD 外,其他PAD 之TOP PAD、BOTTOM PAD 及INNER PAD 之形狀大小皆應相同。12. Moat : 不同信號的 Power& GND plane 之間的分隔線13. Grid : 佈線時的走線格點2. Test Point : ATE 測試點供工廠ICT 測試治具使用ICT 測試點 LAYOUT 注意事項:PCB 的每條TRACE 都要有一個作為測試用之TEST PAD(測試點),其原則如下:1. 一般測試點大小均為30-35mil,元件分布較密時,測試點最小可至30mil.測試點與元件PAD 的距離最小為40mil。2. 測試點與測試點間的間距最小為50-75mil,一般使用75mil。密度高時可使用50mil,3. 測試點必須均勻分佈於PCB 上,避免測試時造成板面受力不均。4. 多層板必須透過貫穿孔(VIA)將測試點留於錫爐著錫面上(Solder Side)。5. 測試點必需放至於Bottom Layer6. 輸出test point report(.asc 檔案powerpcb v3.5)供廠商分析可測率7. 測試點設置處:Setup􀃆pads􀃆stacks

    標簽: layout design pcb 硬件工程師

    上傳時間: 2013-10-22

    上傳用戶:pei5

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