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趨勢預(yù)測

2410完整的測試原碼(依照各功能分開目錄,學習更容易)

2410完整的測試原碼(依照各功能分開目錄,學習更容易)

標簽： 2410 分

上傳時間： 2015-07-12

上傳用戶：aix008
S3C4510的LCD測試程式(含源碼,可以順利修改自己的功能)

S3C4510的LCD測試程式(含源碼,可以順利修改自己的功能)

標簽： S3C4510 LCD 程式修改

上傳時間： 2014-01-14

上傳用戶：eclipse
此為手柄的測試程式

此為手柄的測試程式，在網路上找到的!應該對大家不錯!

標簽： 手柄程式

上傳時間： 2013-12-16

上傳用戶：ynzfm
自定義一些x,y坐標,可以模擬出一些光滑的曲線

自定義一些x,y坐標,可以模擬出一些光滑的曲線

標簽： 自定義模擬

上傳時間： 2015-07-18

上傳用戶：1427796291
/*y=100*(x1*x1-x2)*(x1*x2-x2)+(1-x1)*(1-x1)其中-2.048<=x1,x2<=2.048作適應度函數求最大適應度即為函數的最大值 */

/*y=100*(x1*x1-x2)*(x1*x2-x2)+(1-x1)*(1-x1)其中-2.048<=x1,x2<=2.048作適應度函數求最大適應度即為函數的最大值 */

標簽： 2.048 lt 100 函數

上傳時間： 2014-01-01

上傳用戶：chenbhdt
realize overlapped-add method ％[y]=overlpadd(x,h,Nfft) ％y:output sequence ％x:input sequence ％h

realize overlapped-add method ％[y]=overlpadd(x,h,Nfft) ％y:output sequence ％x:input sequence ％h:filter impulse response sequence ％Nfft:points of each DFT operation ％重疊相加法實現分段卷積

標簽： sequence overlapped-add overlpadd realize

上傳時間： 2015-07-22

上傳用戶：as275944189
％realize overlapped-save method ％y:output sequence ％x:input seqence ％h:filter impulse response s

％realize overlapped-save method ％y:output sequence ％x:input seqence ％h:filter impulse response sequence ％N:length of each segment ％重疊保留法實現分段卷積

標簽： overlapped-save sequence response realize

上傳時間： 2015-07-22

上傳用戶：chenbhdt
zbee potocol 無線通訊測試.平臺:microchip 18f452 與 cc2420 zbee 晶片.含coord端與rfd端

zbee potocol 無線通訊測試.平臺:microchip 18f452 與 cc2420 zbee 晶片.含coord端與rfd端

標簽： zbee microchip potocol 18f452

上傳時間： 2014-01-07

上傳用戶：Shaikh
* 用拉格朗日插值法依據N個已知數據點即使函數值 * 輸入: n--已知數據點的個數N-1 * x--已知數據點第一坐標的N維列向量 * y--已知數據點第二坐標的N維列向量 * xx

* 用拉格朗日插值法依據N個已知數據點即使函數值 * 輸入: n--已知數據點的個數N-1 * x--已知數據點第一坐標的N維列向量 * y--已知數據點第二坐標的N維列向量 * xx-插值點第一坐標 * 輸出: 函數返回值所求插值點的第二坐標

標簽： 數據向量 xx 插值

上傳時間： 2013-11-28

上傳用戶：fhzm5658
* 用埃特金插值法依據N個已知數據點計算函數值 * 輸入: n--已知數據點的個數N-1 * x--已知數據點第一坐標的N維列向量 * y--已知數據點第二坐標的N維列向量 * xx-

* 用埃特金插值法依據N個已知數據點計算函數值 * 輸入: n--已知數據點的個數N-1 * x--已知數據點第一坐標的N維列向量 * y--已知數據點第二坐標的N維列向量 * xx-插值點第一坐標 * eps--求解精度 * 輸出: 函數返回值所求插值點的第二坐標

標簽： 數據向量 xx 插值

上傳時間： 2014-01-20

上傳用戶：maizezhen

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S3C4510的LCD測試程式(含源碼,可以順利修改自己的功能)

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自定義一些x,y坐標,可以模擬出一些光滑的曲線

/y=100(x1x1-x2)(x1x2-x2)+(1-x1)(1-x1)其中-2.048<=x1,x2<=2.048作適應度函數求最大適應度即為函數的最大值 */

realize overlapped-add method ％[y]=overlpadd(x,h,Nfft) ％y:output sequence ％x:input sequence ％h

％realize overlapped-save method ％y:output sequence ％x:input seqence ％h:filter impulse response s

zbee potocol 無線通訊測試.平臺:microchip 18f452 與 cc2420 zbee 晶片.含coord端與rfd端

* 用拉格朗日插值法依據N個已知數據點即使函數值 * 輸入: n--已知數據點的個數N-1 * x--已知數據點第一坐標的N維列向量 * y--已知數據點第二坐標的N維列向量 * xx

* 用埃特金插值法依據N個已知數據點計算函數值 * 輸入: n--已知數據點的個數N-1 * x--已知數據點第一坐標的N維列向量 * y--已知數據點第二坐標的N維列向量 * xx-