F:\work\sip\2440a board\可啟動(dòng)\u-boot-like.tar.gz F:\work\sip\2440a board\可啟動(dòng)\u-boot-like.tar.gz
標(biāo)簽: u-boot-like worksip 2440a board
上傳時(shí)間: 2015-07-17
上傳用戶:TRIFCT
J2ME斜45度游戲引擎,一共兩個(gè)文件,這是第一個(gè)。
上傳時(shí)間: 2013-12-12
上傳用戶:asddsd
J2ME斜45度游戲引擎,一共兩個(gè)文件,這是第二個(gè)。
上傳時(shí)間: 2013-12-09
上傳用戶:sunjet
/*y=100*(x1*x1-x2)*(x1*x2-x2)+(1-x1)*(1-x1)其中-2.048<=x1,x2<=2.048作適應(yīng)度函數(shù)求最大適應(yīng)度即為函數(shù)的最大值 */
標(biāo)簽: 2.048 lt 100 函數(shù)
上傳時(shí)間: 2014-01-01
上傳用戶:chenbhdt
簡(jiǎn)化DFA-對(duì)于一確定型自動(dòng)機(jī)M=(K,Σ,Δ,s, F),設(shè)p,q ∈K,若對(duì)于任一字符串w,由p沿w可達(dá)某終點(diǎn)當(dāng)且僅當(dāng)由q沿w可達(dá)某終點(diǎn),則說(shuō)p,q等價(jià),記為p≡q。而且,≡的一個(gè)等價(jià)類恰好就是狀態(tài)數(shù)最少的確定型自動(dòng)機(jī)的一個(gè)狀態(tài)
標(biāo)簽: DFA 自動(dòng)機(jī)
上傳時(shí)間: 2013-12-23
上傳用戶:yzhl1988
esdds g s g f dg dgd fgdfg fd
上傳時(shí)間: 2015-07-23
上傳用戶:hwl453472107
我們解決八數(shù)碼問(wèn)題,廣度優(yōu)先搜索可能會(huì)導(dǎo)致內(nèi)存不夠用,采用啟發(fā)式搜索,啟發(fā)函數(shù)為f(x)=g(x)+h(x) g(x)為該結(jié)點(diǎn)不同于目標(biāo)結(jié)點(diǎn)的個(gè)數(shù),h(x)為該結(jié)點(diǎn)的深度,選擇那f(x)結(jié)點(diǎn)最小的那個(gè)結(jié)點(diǎn)進(jìn)行擴(kuò)展, 引入了一個(gè)"擴(kuò)展數(shù)組[4]"(因?yàn)閿U(kuò)展的結(jié)點(diǎn)最多只有4個(gè)),該數(shù)組保存著某個(gè)結(jié)點(diǎn)的0點(diǎn)向各個(gè)方向的擴(kuò)展的結(jié)點(diǎn)對(duì)象,然后對(duì)該擴(kuò)展數(shù)組進(jìn)行分析,利用啟發(fā)函數(shù)在進(jìn)行遞歸擴(kuò)展...
標(biāo)簽: 搜索 數(shù)碼 內(nèi)存 啟發(fā)式
上傳時(shí)間: 2015-07-24
上傳用戶:LouieWu
我們解決八數(shù)碼問(wèn)題,廣度優(yōu)先搜索可能會(huì)導(dǎo)致內(nèi)存不夠用,采用啟發(fā)式搜索,啟發(fā)函數(shù)為f(x)=g(x)+h(x) g(x)為該結(jié)點(diǎn)不同于目標(biāo)結(jié)點(diǎn)的個(gè)數(shù),h(x)為該結(jié)點(diǎn)的深度,選擇那f(x)結(jié)點(diǎn)最小的那個(gè)結(jié)點(diǎn)進(jìn)行擴(kuò)展, 引入了一個(gè)"擴(kuò)展數(shù)組[4]"(因?yàn)閿U(kuò)展的結(jié)點(diǎn)最多只有4個(gè)),該數(shù)組保存著某個(gè)結(jié)點(diǎn)的0點(diǎn)向各個(gè)方向的擴(kuò)展的結(jié)點(diǎn)對(duì)象,然后對(duì)該擴(kuò)展數(shù)組進(jìn)行分析,利用啟發(fā)函數(shù)在進(jìn)行遞歸擴(kuò)展...
標(biāo)簽: 搜索 數(shù)碼 內(nèi)存 啟發(fā)式
上傳時(shí)間: 2014-01-03
上傳用戶:semi1981
Visual J++ 6.0中讀取圖像的灰度與進(jìn)行灰度變換。
上傳時(shí)間: 2013-12-24
上傳用戶:himbly
現(xiàn)代先進(jìn)微處理器有非常高的集成度和復(fù)雜度,又有寄存器堆、Cache等嵌入式部件,而且芯片管腳數(shù)相對(duì)較少,必須要有一定的自測(cè)試設(shè)計(jì)和其它的可測(cè)試性設(shè)計(jì)來(lái)簡(jiǎn)化測(cè)試代碼,提高故障覆蓋率。本文簡(jiǎn)要討論NRS4000微處理器芯片的以邊界掃描測(cè)試為主體,以自測(cè)試為補(bǔ)充的可測(cè)試性設(shè)計(jì)框架。著重介紹芯片的邊界掃描設(shè)計(jì)和芯片中譯碼控制器PLA和微程序ROM以及采用內(nèi)嵌RAM結(jié)構(gòu)的指令Cache和寄存器堆的內(nèi)建自測(cè)試設(shè)計(jì)。仿真結(jié)果表明,這些可測(cè)試性設(shè)計(jì)大大縮短了測(cè)試代碼的長(zhǎng)度。
上傳時(shí)間: 2015-07-25
上傳用戶:moshushi0009
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