本書中文版包括“2006-07-01”“2010-04-01”“2012-05-01”“2014-01-01 ”若干個版本，本次上傳為2006版7月第一次印刷。內(nèi)容簡介《雷達系統(tǒng)導(dǎo)論》（第三版）共分11章，主要內(nèi)容包括雷達基本原理和方程，現(xiàn)代雷達技術(shù)體制，動目標(biāo)指示和多普勒雷達技術(shù)，跟蹤雷達技術(shù)，噪聲中信號檢測技術(shù)，雷達信號的信息提取技術(shù)，雷達雜波特性、雷達波傳播特點等，并詳細介紹了雷達天線、雷達發(fā)射機和雷達接收機等分系統(tǒng)技術(shù)。本書系統(tǒng)覆蓋了現(xiàn)代雷達的理論與技術(shù)，內(nèi)容系統(tǒng)、完整。每章后都附有大量習(xí)題及參考文獻，便于讀者進一步學(xué)習(xí)和研究。本書可作為高等院校電子工程專業(yè)的高年級本科生和研究生參考教材，也可作為相關(guān)專業(yè)工程技術(shù)人員參考用書。作者簡介Skolnik博士：美國國家工程院院士，IEEE會士。擔(dān)任美國海軍研究實驗室雷達分部負責(zé)人已有30余年，第一個在雷達技術(shù)與應(yīng)用方面獲得IEEE Dennis J.Picard獎?wù)?；同時是IEEE Harry鉆石獎，Johns Hopkins大學(xué)著名男畢業(yè)生獎，以及美國海軍著名文官服務(wù)獎的獲得者。目 錄第1章 雷達簡介1.1 基本雷達1.2 雷達方程的簡單形式1.3 雷達框圖1.4 雷達頻率1.5 雷達的應(yīng)用1.6 雷達的起源參考文獻習(xí)題第2章 雷達方程2.1 引言2.2 噪聲中信號的檢測2.3 接收機噪聲和信-噪比2.4 概率密度函數(shù)2.5 檢測和虛警概率2.6 雷達脈沖的積累2.7 目標(biāo)雷達橫截面積2.8 雷達橫截面積的起伏2.9 發(fā)射機功率2.10 脈沖重復(fù)頻率2.11 天線參數(shù)2.12 系統(tǒng)損耗2.13 其他有關(guān)雷達方程的考慮參考文獻習(xí)題第3章 MTI雷達和脈沖多普勒雷達3.1 引言3.2 延遲線對消器3.3 參差脈沖重復(fù)頻率3.4 多普勒濾波器組3.5 數(shù)字MTI處理3.6 運動目標(biāo)檢測器3.7 MTI性能的限制3.8 運動平臺的MTI（AMTI）3.9 脈沖多普勒雷達3.10 其他的多普勒雷達參考文獻習(xí)題第4章 跟蹤雷達4.1 用雷達跟蹤4.2 單脈沖跟蹤4.3 圓錐掃描和順序波束轉(zhuǎn)換4.4 跟蹤精度的限制4.5 低角跟蹤4.6 距離跟蹤4.7 其他有關(guān)跟蹤雷達的專題4.8 跟蹤雷達的比較4.9 監(jiān)視雷達自動跟蹤參考文獻習(xí)題第5章 噪聲中的信號檢測...參考文獻習(xí)題第6章 雷達信號的信息...
標(biāo)簽： 雷達
上傳時間： 2022-03-21
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費恩曼（R．P．Feynman）1918年生于布魯克林區(qū)，1942年在普林斯頓獲得博士學(xué)位。第二次世界大戰(zhàn)期間在洛斯阿拉莫斯，盡管當(dāng)時他還很年輕，但已在曼哈頓計劃中發(fā)揮了重要作用。以后，他在康奈爾大學(xué)和加利福尼亞理工學(xué)院任教。1965年，因他在量子電動力學(xué)方面的工作和朝永振一郎及施溫格（J．Schwinger）同獲諾貝爾物理學(xué)獎。費因曼博士獲得諾貝爾獎是由于成功地解決了量子電動力學(xué)理論問題，他也創(chuàng)立了說是液氦中起流動性現(xiàn)象的數(shù)學(xué)理論。此后，他和蓋爾曼（M.Gell-Mann）在B衰變等弱相互作用領(lǐng)域內(nèi)做出了奠基性的工作。在以后的幾年里，他在夸克理論的發(fā)展中起了關(guān)鍵性的作用，提出了他的高能質(zhì)子碰撞過程的部分子模型。除了這些成就之外，費恩曼博士將新的基本計算技術(shù)及記號法引時物理學(xué)，首先是無處不在的費恩曼圖，在近代科學(xué)歷史中，它比任何其他數(shù)學(xué)形式描述都更大地改變了對基本物理過程形成概念及進行計算的方法。費恩曼是一位卓越的教育家。在他區(qū)得的許多獎項中，他對1972年獲得的奧斯特教學(xué)獎?wù)绿貏e感到自豪。在1963年第一次出版的《費恩曼物理學(xué)講義》被《科學(xué)叛國人》雜志的一位評論員描寫為“咬不動但富于營養(yǎng)并且津津有味。25年后它仍是教師和最好的初學(xué)學(xué)生的指導(dǎo)書”。為了使外行的公眾增加對物理學(xué)的了解，費恩曼博士寫了《物理定律和量子電動力學(xué)的性質(zhì)：光和物質(zhì)的奇特理論》。他還是許多高級出版物的作者，這些都成為研究人員和學(xué)生的經(jīng)典參考書和教科書。費恩曼是一個活躍的公眾人物。他在挑戰(zhàn)者號調(diào)查委員會里的工作是從所周知的，特別是他的著名的O型環(huán)對寒冷的敏感性的演示，這是一個優(yōu)美的實驗，除了一杯冰水以外其他什么也不需要。費恩曼博士1960年在加利福尼亞州課程促進會中的工作卻很少人知道，他在會上抨擊了教材的平庸。僅僅羅列費恩曼的科學(xué)和教育成就并沒有恰當(dāng)抓信這個人的本質(zhì)。即使是他 最最技術(shù)性的出版物的讀者都知識道，費恩曼活躍的多面的人格在他所有的工作中都閃閃發(fā)光。除了作為物理學(xué)家，在各種不同的場合下他變成不同的人物：有進是無線電修理工，有時是鎖具收藏家，藝術(shù)家、舞蹈家、邦戈（bongo）鼓手，甚至瑪雅象形文字的解釋者。對他的世界人們永遠好奇，他是一個典型的經(jīng)驗主義者。費恩曼于1998年2月15日在洛杉磯逝世。
標(biāo)簽： 物理學(xué)
上傳時間： 2022-04-24
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本文利用python編寫了分子動力學(xué)模擬程序,并利用該程序?qū)e分子體系進行了詳細研究。分別研究了不同初始條件,不同邊界條件,截斷點位置等的研究。在分子數(shù)為500,分子初速度為500的初始條件下,體系最終經(jīng)過2.25e-11s發(fā)展成為麥克斯韋平衡體系。分別研究周期性邊界條件與剛性邊界對系統(tǒng)發(fā)展的影響,研究發(fā)現(xiàn)周期性邊界條件與剛性邊界條件最終對系統(tǒng)的發(fā)展沒有明顯影響。對截斷點進行研究后發(fā)現(xiàn),必須選取大于1.1*sigma(sigma為L-J勢能中的常數(shù),由實驗可測定)作為截斷,如果小于該值,體系由于數(shù)值誤差將偏離物理實際。同時研究發(fā)現(xiàn)勢函數(shù)對于體系的發(fā)展也具有重要影響。
標(biāo)簽： python
上傳時間： 2022-06-19
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使用編譯環(huán)境：MDK4.72A IAR6.30使用硬件環(huán)境：STM32F103RBT6使用函數(shù)庫版本：STM32F10x_StdPeriph_Driver V3.50工程概要： 完成是MCU通過SPI2對w5500的讀寫操作，完成對IP,mac，gateway等的操作， 內(nèi)網(wǎng)測試，請保證W5500的IP與測試PC機在同一網(wǎng)段內(nèi)，且不沖突 如果是用網(wǎng)線跟PC機直連，請設(shè)置PC機本地連接地址IP為靜態(tài)IP調(diào)試說明：此例程適用的調(diào)試下載器是J-link-ob，也可以用過串口下載調(diào)試程序,（請將串口線插在板子J1口 上,并打開超級終端或串口助手，配置波特率115200，8位，一個停止位，無校驗位。
標(biāo)簽： stm32 w5500 tcp keil
上傳時間： 2022-06-26
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VIP專區(qū)-嵌入式/單片機編程源碼精選合集系列（120）資源包含以下內(nèi)容：1. ARM的一個GPIO口的應(yīng)用 它使能一個口 驅(qū)動燈亮.2. bit led2=P2^5 // led2對應(yīng)接在P2.5腳 sbit led3=P2^6 // led3對應(yīng)接在P2.6腳 sbit led4=P2^7 // led4對應(yīng)接在P2.7腳.3. EA = 1 //開總中斷 ET0 = 1 //允許定時器0中斷 TMOD = 1 //定時器工作方式選擇 TL0 = 0x06 TH0 = 0xf8 //定時器賦予初值 .4. 嵌入式實驗代碼非常適合全面學(xué)習(xí)ARMS3C2440,有20多個練習(xí)代碼.5. 基于C8051F340單片機的串行flash芯片SST25VF016B的應(yīng)用,配合一般的串口調(diào)試程序即可完成對板上器件的讀寫操作..6. 飛思卡爾MC9S12DG128的PORTP7中斷試驗.7. 微細間距QFP器件手工焊接指南,希望對大家有用.8. 金鵬OCMJ8*10D的觸摸屏驅(qū)動程序.9. CODE for embedded C ,hand coding version.10. konqueror3 embedded版本, KDE環(huán)境下的當(dāng)家瀏覽器的嵌入式版本源碼包..11. 三菱PLC編寫用與點焊機上的PLC程序,另包括完整電氣原理圖..12. 24CXXX存儲數(shù)碼管 24C02讀寫(c) 24C02讀寫(匯編).13. 電機控制類 步進電機正反轉(zhuǎn)控制 步進電機調(diào)速控制.14. 個人設(shè)計的基于VHDL的數(shù)字電子日歷 在MAX+PLUSH軟件平臺上編譯、仿真.15. 超聲波倒車?yán)走_的設(shè)計程序 利用SPCE061A單片機實現(xiàn)超聲波倒車?yán)走_的測量計算方法。程序中采用軟件校正.16. PATTERNS FOR TIME-TRIGGERED EMBEDDED SYSTEMS by Michael J. Pont This code is copyright (c) 200.17. EP9315 開發(fā)板手冊 cirrus logic(思睿邏輯)公司在2005年推出的一款A(yù)RM920T.18. 譯本嵌入式數(shù)據(jù)庫sqlite的電子書,值得大家參考..19. 1302是用來輸出北京時間的,18b20用來檢測溫度,輸出在ds1302上顯示,有仿真文件.20. 可將其需要的文件轉(zhuǎn)換成數(shù)組,主要應(yīng)用在嵌入式或單片機編程中將要分析的文件生成一個數(shù)組參加程序編譯.21. 這是關(guān)于TDOA_AOA得一篇混合定位算法,有助于研究算發(fā)的人學(xué)習(xí)和使用..22. 51串口通訊程序.23. 一個開源的Modbus協(xié)議棧.24. 能夠詳細測量正負溫度的且小數(shù)點后四位的測溫系統(tǒng).25. 一本關(guān)于嵌入式系統(tǒng)實時概念的著作.26. C語言寫的Ibutton的讀寫文件,硬件資料 AT89s51+at24c02,編譯通過,可以使用.27. arm的原理圖設(shè)計.28. 本書深入淺出的介紹了可重用的理念與實現(xiàn).29. 德州儀器的關(guān)于cc2430評估模塊的原理圖及PCB資料.30. CC2430DB Reference Design TI的cc2430開發(fā)板設(shè)計資料.31. 嵌入式MCU可靠性接口及在車載定位系統(tǒng)中的應(yīng)用.32. au1200下的boot代碼.33. ARM嵌入式系統(tǒng)開發(fā)：軟件設(shè)計與優(yōu)化.34. 友善之臂－－－QQ2440V3原理圖.35. zigbee協(xié)議棧.36. 國外自制頻率計,很全,有原理圖,有源代碼,有說明..37. ECOS2.0的源碼.38. trf7960開發(fā)板原理圖,是TI公司的.39. c8051f的多機通信程序 在c語言環(huán)境下.40. 祥細介紹液晶顯示器原理祥細介紹液晶顯示器原理.
標(biāo)簽： 通信
上傳時間： 2013-04-15
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資源包含以下內(nèi)容：1.GBT2423.07-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗ec和導(dǎo)則傾跌與翻倒(主要用于設(shè)備型樣品).pdf2.GBT2423.08-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗ed自由跌落.pdf3.GBT2423.09-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗cb設(shè)備用恒定濕熱.pdf4.GBT2423.10-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗fc和導(dǎo)則振動(正弦).pdf5.GBT2423.11-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗fd寬頻帶隨機振動--一般要求 .pdf6.GBT2423.12-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗fda寬頻帶隨機振動--高再現(xiàn)性.pdf7.GBT2423.13-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗fdb寬頻帶隨機振動中再現(xiàn)性.pdf8.GBT2423.14-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗fdc寬頻帶隨機振動低再現(xiàn)性.pdf9.GBT2423.15-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗ga和導(dǎo)則穩(wěn)態(tài)加速度.pdf10.GBT2423.16-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗j和導(dǎo)則長霉.pdf11.GBT2423.17-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗ka 鹽霧試驗方法.pdf12.GBT2423.18-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分 試驗--試驗kb 鹽霧,交變(氯化鈉溶液).pdf13.GBT2423.19-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗kc 接觸點和連接件的二氧化硫試驗方法.pdf14.GBT2423.20-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗kd 接觸點和連接件的硫化氫試驗方法.pdf15.GBT2423.21-1991 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗m 低氣壓試驗方法.pdf16.GBT2423.22-2002 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗n 溫度變化.pdf17.GBT2423.23-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗試驗q 密封.pdf18.GBT2423.24-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分 試驗方法試驗sa 模擬地面上的太陽輻射.pdf19.GBT2423.25-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗zam 低溫低氣壓綜合試驗.pdf20.GBT2423.26-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗zbm 高溫低氣壓綜合試驗.pdf21.GBT2423.27-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗zamd 低溫低氣壓濕熱連續(xù)綜合試驗方法.pdf22.GBT2423.28-1982 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗t 錫焊試驗方法.pdf23.GBT2423.29-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗u 引出端及整體安裝件強度.pdf24.GBT2423.30-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗xa 和導(dǎo)則在清洗劑中浸漬.pdf25.GBT2423.31-1985 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程傾斜和搖擺試驗方法.pdf26.GBT2423.32-1985 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程潤濕稱量法可焊性試驗方法.pdf27.GBT2423.33-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗kca 高濃度二氧化硫試驗方法.pdf28.GBT2423.34-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗zad 溫度濕度組合循環(huán)試驗方法.pdf29.GBT2423.35-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗zafc 散熱和非散熱試驗樣品的低溫振動(正弦)綜合試驗方法.pdf30.GBT2423.36-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗zbfc 散熱和非散熱樣品的高溫振動(正弦)綜合試驗方法.pdf31.GBT2423.37-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗l砂塵試驗方法.pdf32.GBT2423.38-1990 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗r 水試驗方法.pdf33.GBT2423.39-1990 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗ee 彈跳試驗方法.pdf34.GBT2423.40-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗cx 未飽和高壓蒸汽恒定濕熱.pdf35.GBT2423.41-1994 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程風(fēng)壓試驗方法.pdf36.GBT2423.42-1995 工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗低溫低氣壓振動(正弦)綜合試驗方法.pdf37.GBT2423.43-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分 試驗方法元件、設(shè)備和其他產(chǎn)品在沖擊,碰撞,振動,和穩(wěn)態(tài)加速度,等動力學(xué)試驗中的安裝要求和導(dǎo)則.pdf38.GBT2423.44-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分 試驗方法試驗eg 撞擊彈簧錘.pdf39.GBT2423.45-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗zabdm：氣候順序.pdf40.GBT2423.46-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗ef：撞擊擺錘.pdf41.GBT2423.47-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗fg 聲振.pdf42.GBT2423.48-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗ff 振動--時間歷程法.pdf43.GBT2423.49-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗fe 振動--正弦拍頻法.pdf44.GBT2423.50-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗cy 恒定濕熱主要用于元件的加速試驗.pdf45.GBT2423.51-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗ke 流動混合氣體腐蝕試驗.pdf46.電子產(chǎn)品老化相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)資料
標(biāo)簽： 網(wǎng)站
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GBT2423.51-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗ke 流動混合氣體腐蝕試驗.pdf 535KB2019-03-29 13:34 GBT2423.50-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗cy 恒定濕熱主要用于元件的加速試驗.pdf 319KB2019-03-29 13:34 GBT2423.49-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗fe 振動--正弦拍頻法.pdf 832KB2019-03-29 13:34 GBT2423.48-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗ff 振動--時間歷程法.pdf 708KB2019-03-29 13:34 GBT2423.47-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗fg 聲振.pdf 773KB2019-03-29 13:34 GBT2423.46-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗ef：撞擊擺錘.pdf 423KB2019-03-29 13:34 GBT2423.45-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗zabdm：氣候順序.pdf 418KB2019-03-29 13:34 GBT2423.44-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分 試驗方法試驗eg 撞擊彈簧錘.pdf 356KB2019-03-29 13:34 GBT2423.43-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分 試驗方法元件、設(shè)備和其他產(chǎn)品在沖擊,碰撞,振動,和穩(wěn)態(tài)加速度,等動力學(xué)試驗中的安裝要求和導(dǎo)則.pdf 496KB2019-03-29 13:34 GBT2423.42-1995 工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗低溫低氣壓振動(正弦)綜合試驗方法.pdf 246KB2019-03-29 13:34 GBT2423.41-1994 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程風(fēng)壓試驗方法.pdf 213KB2019-03-29 13:34 GBT2423.40-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗cx 未飽和高壓蒸汽恒定濕熱.pdf 532KB2019-03-29 13:34 GBT2423.39-1990 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗ee 彈跳試驗方法.pdf 331KB2019-03-29 13:34 GBT2423.38-1990 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗r 水試驗方法.pdf 357KB2019-03-29 13:34 GBT2423.37-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗l砂塵試驗方法.pdf 236KB2019-03-29 13:34 GBT2423.36-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗zbfc 散熱和非散熱樣品的高溫振動(正弦)綜合試驗方法.pdf 273KB2019-03-29 13:34 GBT2423.35-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗zafc 散熱和非散熱試驗樣品的低溫振動(正弦)綜合試驗方法.pdf 270KB2019-03-29 13:34 GBT2423.34-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗zad 溫度濕度組合循環(huán)試驗方法.pdf 290KB2019-03-29 13:34 GBT2423.33-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗kca 高濃度二氧化硫試驗方法.pdf 146KB2019-03-29 13:34 GBT2423.32-1985 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程潤濕稱量法可焊性試驗方法.pdf 172KB2019-03-29 13:34 GBT2423.31-1985 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程傾斜和搖擺試驗方法.pdf 143KB2019-03-29 13:34 GBT2423.30-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗xa 和導(dǎo)則在清洗劑中浸漬.pdf 104KB2019-03-29 13:34 GBT2423.29-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗u 引出端及整體安裝件強度.pdf 421KB2019-03-29 13:34 GBT2423.28-1982 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗t 錫焊試驗方法.pdf 697KB2019-03-29 13:34 GBT2423.27-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗zamd 低溫低氣壓濕熱連續(xù)綜合試驗方法.pdf 128KB2019-03-29 13:34 GBT2423.26-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗zbm 高溫低氣壓綜合試驗.pdf 211KB2019-03-29 13:34 GBT2423.25-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗zam 低溫低氣壓綜合試驗.pdf 202KB2019-03-29 13:34 GBT2423.24-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分 試驗方法試驗sa 模擬地面上的太陽輻射.pdf 176KB2019-03-29 13:34 GBT2423.23-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗試驗q 密封.pdf 1.2M2019-03-29 13:34 GBT2423.22-2002 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗n 溫度變化.pdf 302KB2019-03-29 13:34 GBT2423.21-1991 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗m 低氣壓試驗方法.pdf 107KB2019-03-29 13:34 GBT2423.20-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗kd 接觸點和連接件的硫化氫試驗方法.pdf 140KB2019-03-29 13:34 GBT2423.19-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗kc 接觸點和連接件的二氧化硫試驗方法.pdf 145KB2019-03-29 13:34 GBT2423.18-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分 試驗--試驗kb 鹽霧,交變(氯化鈉溶液).pdf 163KB2019-03-29 13:34 GBT2423.17-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗ka 鹽霧試驗方法.pdf 105KB2019-03-29 13:34 GBT2423.16-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗j和導(dǎo)則長霉.pdf 531KB2019-03-29 13:34 GBT2423.15-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗ga和導(dǎo)則穩(wěn)態(tài)加速度.pdf 297KB2019-03-29 13:34 GBT2423.14-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗fdc寬頻帶隨機振動低再現(xiàn)性.pdf 444KB2019-03-29 13:34 GBT2423.13-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗fdb寬頻帶隨機振動中再現(xiàn)性.pdf 805KB2019-03-29 13:34 GBT2423.12-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗fda寬頻帶隨機振動--高再現(xiàn)性.pdf 842KB2019-03-29 13:34 GBT2423.11-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗fd寬頻帶隨機振動--一般要求 .pdf 635KB2019-03-29 13:34 GBT2423.10-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗fc和導(dǎo)則振動(正弦).pdf 1M2019-03-29 13:34 GBT2423.09-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗cb設(shè)備用恒定濕熱.pdf 149KB2019-03-29 13:34 GBT2423.08-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗ed自由跌落.pdf 301KB2019-03-29 13:34 GBT2423.07-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗ec和導(dǎo)則傾跌與翻倒(主要用于設(shè)備型樣品).pdf 237KB2019-03-29 13:34 GBT2423.06-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗eb和導(dǎo)則：碰撞.pdf 545KB2019-03-29 13:34 GBT2423.05-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗ea和導(dǎo)則沖擊.pdf 892KB2019-03-29 13:34 GBT2423.04-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗db 交變濕熱試驗方法.pdf 192KB2019-03-29 13:34 GBT2423.03-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗ca 恒定濕熱試驗方法.pdf 124KB2019-03-29 13:34 GBT2423.02-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗b高溫.pdf 744KB2019-03-29 13:34 GBT2423.01-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗a低溫.pdf 499KB2019-03-29 13:34 GB2421-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程總則.pdf
上傳時間： 2013-06-08
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MicroC/OS-II The Real-Time Kernel Second Edition By Jean J. Labrosse CMP Books, CMP Media LLC Copyright 2002 by CMP Books ISBN 1-57820-103-9 CMP Books CMP Media LLC 1601 West 23rd Street, Suite 200 Lawrence, Kansas 66046 785-841-1631 www.cmpbooks.com email: books@cmp.com The programs and applications on this disk have been carefully tested, but are not guaranteed for any particular purpose. The publisher does not offer any warranties and does not guarantee the accuracy, adequacy, or completeness of any information and is not responsible for any errors or omissions or the results obtained from use of such information.
標(biāo)簽： MicroCOS_II 嵌入式 實時操作系統(tǒng)
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針對空間電壓欠量脈寬調(diào)制過程中存在的問題，采用理論推演與軟件設(shè)計方法，在介紹了s V P w M 的基本原理的基礎(chǔ)上，利用T I 公司的 D S P電機控制芯片 T M S 3 2 0 L F 2 4 0 7設(shè)計了S V P W M的實現(xiàn)方法，并給出 j - 變頻調(diào)速系統(tǒng)的全數(shù)字化實現(xiàn)。 通過對永磁同步電機進行控制仿真實驗，得到的結(jié)果表明此方法是切實可行V , J ，控制系統(tǒng)具有優(yōu)良的動靜態(tài)性能，較高的控制效果，有廣泛的應(yīng)用前景。
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射頻和無線技術(shù)入門,絕對的從零開始，Caribbean j. Weisman 著
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