隨著紅外焦平面陣列的不斷發(fā)展，紅外技術(shù)的應(yīng)用范圍將越來(lái)越廣泛。焦平面面陣探測(cè)器的一個(gè)最大的缺點(diǎn)是固有的非均勻性。本文首先介紹了紅外熱成像技術(shù)的發(fā)展，討論了紅外焦平面陣列的基本原理和工作方式，分析了紅外非均勻性產(chǎn)生的原因。其次研究了幾種主要的非均勻校正方法以及焦平面陣列元的盲元檢測(cè)和補(bǔ)償?shù)姆椒ǎ瑢?duì)紅外圖像處理技術(shù)做了研究。 本文研究的探測(cè)器是法國(guó)ULIS公司的320×240非制冷微測(cè)輻射熱計(jì)焦平面陣列探測(cè)器。主要研究對(duì)其輸出信號(hào)進(jìn)行非均勻性校正和圖像增強(qiáng)。最后針對(duì)這一課題編寫(xiě)了基于FPGA的兩點(diǎn)校正、兩點(diǎn)加一點(diǎn)校正、全局非均勻校正算法和紅外圖像直方圖均衡化增強(qiáng)程序，并對(duì)三種校正方法做了比較。
上傳時(shí)間： 2013-08-03
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現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列(FPGA)是一種現(xiàn)場(chǎng)可編程專(zhuān)用集成電路，它將門(mén)陣列的通用結(jié)構(gòu)與現(xiàn)場(chǎng)可編程的特性結(jié)合于一體，如今，F(xiàn)PGA系列器件已成為最受歡迎的器件之一。隨著FPGA器件的廣泛應(yīng)用，它在數(shù)字系統(tǒng)中的作用日益變得重要，它所要求的準(zhǔn)確性也變得更高。因此，對(duì)FPGA器件的故障測(cè)試和故障診斷方法進(jìn)行更全面的研究具有重要意義。隨著FPGA器件的迅速發(fā)展，F(xiàn)PGA的密度和復(fù)雜程度也越來(lái)越高，使大量的故障難以使用傳統(tǒng)方法進(jìn)行測(cè)試，所以人們把視線(xiàn)轉(zhuǎn)向了可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)問(wèn)題。可測(cè)性設(shè)計(jì)的提出為解決測(cè)試問(wèn)題開(kāi)辟了新的有效途徑，而邊界掃描測(cè)試方法是其中一個(gè)重要的技術(shù)。 本文對(duì)FPGA的故障模型及其測(cè)試技術(shù)和邊界掃描測(cè)試的相關(guān)理論與方法進(jìn)行了詳細(xì)的探討，給出了利用布爾矩陣?yán)碚摻⒌倪吔鐠呙铚y(cè)試過(guò)程的數(shù)學(xué)描述和數(shù)學(xué)模型。論文中首先討論邊界掃描測(cè)試中的測(cè)試優(yōu)化問(wèn)題，總結(jié)解決兩類(lèi)優(yōu)化問(wèn)題的現(xiàn)有算法，分別對(duì)它們的優(yōu)缺點(diǎn)進(jìn)行了對(duì)比，進(jìn)而提出對(duì)兩種現(xiàn)有算法的改進(jìn)思想，并且比較了改進(jìn)前后優(yōu)化算法的性能。另外，本文還對(duì)FPGA連線(xiàn)資源中基于邊界掃描測(cè)試技術(shù)的自適應(yīng)完備診斷算法進(jìn)行了深入研究。在研究過(guò)程中，本文基于自適應(yīng)完備診斷的思想對(duì)原有自適應(yīng)診斷算法的性能進(jìn)行了分析，并將獨(dú)立測(cè)試集和測(cè)試矩陣的概念引入原有自適應(yīng)診斷算法中，使改進(jìn)后的優(yōu)化算法能夠簡(jiǎn)化原算法的實(shí)現(xiàn)過(guò)程，并實(shí)現(xiàn)完備診斷的目標(biāo)。最后利用測(cè)試仿真模型證明了優(yōu)化算法能夠更有效地實(shí)現(xiàn)完備診斷的目標(biāo)，在緊湊性指標(biāo)與測(cè)試復(fù)雜性方面比現(xiàn)在算法均有所改進(jìn)，實(shí)現(xiàn)了算法的優(yōu)化。
標(biāo)簽： FPGA 可測(cè)性設(shè)計(jì) 方法研究
上傳時(shí)間： 2013-06-30
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1.兩個(gè)PDF文檔，主要是涉及Synplify的綜合教程。 2.對(duì)于熟悉FPGA的綜合過(guò)程以及相關(guān)優(yōu)化比較有幫助。
標(biāo)簽： Synplify Fpga Pro 教程
上傳時(shí)間： 2013-06-08
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匯編語(yǔ)言 單片機(jī) 技術(shù)教程 技術(shù)書(shū)籍 編程
標(biāo)簽： 單片機(jī)技術(shù) 應(yīng)用教程
上傳時(shí)間： 2013-04-24
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2010Excel培訓(xùn)教程【完整版】講解excel的應(yīng)用
標(biāo)簽： Excel 2010 培訓(xùn)教程
上傳時(shí)間： 2013-04-24
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Arduino_電子積木基礎(chǔ)套裝中文教程 講解arduino的基本使用方法
上傳時(shí)間： 2013-06-28
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《LabVIEW高級(jí)教程手冊(cè)》《LabVIEW高級(jí)教程手冊(cè)》《LabVIEW高級(jí)教程手冊(cè)》《LabVIEW高級(jí)教程手冊(cè)》
上傳時(shí)間： 2013-07-04
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上傳時(shí)間： 2013-04-24
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文中簡(jiǎn)單闡述了紅外輻射機(jī)理，論述了紅外焦平面陣列技術(shù)的發(fā)展?fàn)顩r。紅外成像系統(tǒng)，尤其是紅外焦平面陣列，由于探測(cè)器材料和制造工藝的原因，各像素點(diǎn)之間的靈敏度存在差別，甚至存在一些缺陷點(diǎn)，各個(gè)探測(cè)單元特征參數(shù)不完全一致，因而存在著較大的非均勻性，降低了圖像的分辨率，影響了紅外成像系統(tǒng)的有效作用距離。實(shí)時(shí)非均勻性校正是提高和改善紅外圖像質(zhì)量的一項(xiàng)重要技術(shù)。 論文建立了描述其非均勻性的數(shù)學(xué)模型，分析了紅外焦平面陣列非均勻性產(chǎn)生的原因及特點(diǎn)，討論了幾種常用的非均勻性校正的方法，指出了其各自的優(yōu)缺點(diǎn)和適應(yīng)場(chǎng)合。 根據(jù)紅外探測(cè)器光譜響應(yīng)的特點(diǎn)和基于參考源的兩點(diǎn)溫度非均勻性校正理論，采用FPGA+DSP實(shí)現(xiàn)紅外成像系統(tǒng)實(shí)時(shí)非均勻性?xún)牲c(diǎn)校正，設(shè)計(jì)完成了相應(yīng)的紅外焦平面陣列非均勻性校正硬件電路。對(duì)該系統(tǒng)中各個(gè)模塊的功能及電路實(shí)現(xiàn)進(jìn)行了詳細(xì)的描述，并給出了相應(yīng)的結(jié)構(gòu)框圖。同時(shí)給出了該圖像處理器的部分軟件流程圖。該方法動(dòng)態(tài)范圍大而且處理速度快，適用于紅外成像系統(tǒng)實(shí)時(shí)的圖像處理場(chǎng)合。實(shí)踐表明，該方案取得了較為滿(mǎn)意的結(jié)果。
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