校驗(yàn)值計(jì)算器Code1
標(biāo)簽： Code 校驗(yàn)值計(jì)算器
上傳時(shí)間： 2013-11-14
上傳用戶：urgdil
基于FPGA的循環(huán)冗余校驗(yàn)算法實(shí)現(xiàn)
標(biāo)簽： FPGA 循環(huán)冗余 校驗(yàn)算法
上傳時(shí)間： 2013-10-09
上傳用戶：黃蛋的蛋黃
protel99se元件名系表
標(biāo)簽： protel 99 se 元件
上傳時(shí)間： 2013-11-12
上傳用戶：sz_hjbf
變送器HART調(diào)校
標(biāo)簽： HART 變送器
上傳時(shí)間： 2013-11-20
上傳用戶：bvdragon
針對(duì)一般測(cè)溫方法在進(jìn)行流體多點(diǎn)溫度測(cè)量時(shí)存在系統(tǒng)復(fù)雜，準(zhǔn)確度和速度難以兼顧的問(wèn)題，提出了一種基于溫度-頻率（T-F）變換的測(cè)量系統(tǒng)。該系統(tǒng)使用PIC18F6722單片機(jī)控制MOS管開(kāi)關(guān)陣列，使多個(gè)測(cè)點(diǎn)的熱敏電阻分別與TLC555構(gòu)成振蕩電路，將測(cè)點(diǎn)的溫度變化轉(zhuǎn)化為振蕩頻率的變化，使用8253計(jì)數(shù)芯片對(duì)TLC555的輸出信號(hào)進(jìn)行測(cè)量并產(chǎn)生中斷，單片機(jī)讀取8253計(jì)數(shù)值反演為測(cè)點(diǎn)溫度。實(shí)驗(yàn)表明，測(cè)點(diǎn)數(shù)目增多不會(huì)增加測(cè)量系統(tǒng)的復(fù)雜程度，通過(guò)設(shè)置8253的計(jì)數(shù)初值，可以在不改變硬件的情況下靈活選擇測(cè)量的準(zhǔn)確度和速度，滿足了流體多點(diǎn)精確快速測(cè)溫的需求。同時(shí)該系統(tǒng)具備簡(jiǎn)潔實(shí)用，成本低的優(yōu)點(diǎn)。
標(biāo)簽： T-F 變換 多點(diǎn) 流體
上傳時(shí)間： 2013-10-23
上傳用戶：assef
CRC校驗(yàn)程序，使用了CRC-16和CRC-CCITT方法
標(biāo)簽： CRC 程序
上傳時(shí)間： 2015-01-03
上傳用戶：遠(yuǎn)遠(yuǎn)ssad
含有多種公開(kāi)密鑰算法、多種塊加密、多種數(shù)據(jù)流加密、多種HASH函數(shù)、多種CheckSum校驗(yàn)、多種MAC校驗(yàn)等幾十種加密算法的程序
標(biāo)簽： CheckSum HASH MAC 加密
上傳時(shí)間： 2013-12-17
上傳用戶：sk5201314
關(guān)于操作系統(tǒng)：本程序可選用優(yōu)先數(shù)法或簡(jiǎn)單輪轉(zhuǎn)法對(duì)五個(gè)進(jìn)程進(jìn)行調(diào)度。每個(gè)進(jìn)程處于運(yùn)行R（run）、就緒W（wait）和完成F（finish）三種狀態(tài)之一，并假定起始狀態(tài)都是就緒狀態(tài)W。
標(biāo)簽： finish wait run 進(jìn)程
上傳時(shí)間： 2014-01-27
上傳用戶：1427796291
MD5校驗(yàn)和算法源碼
標(biāo)簽： MD5 校驗(yàn)和 算法 源碼
上傳時(shí)間： 2015-01-07
上傳用戶：lyy1234
crc數(shù)據(jù)校驗(yàn)算法
標(biāo)簽： crc 數(shù)據(jù)校驗(yàn) 算法
上傳時(shí)間： 2015-01-10
上傳用戶：xyipie
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