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溫度測(cè)量器

  • 嵌入式C開發

    嵌入式Linux的c開發,很詳細的講解了嵌入式Linux的驅動和最小系統啟動開發,uboot的開發等等

    標簽: 嵌入式C

    上傳時間: 2013-04-24

    上傳用戶:wangdean1101

  • 基于C++ Builder實現的倒立擺控制系統

    本文以倒立擺控制系統控制為例,介紹Borland C++ Builder 在數據采集、處理中的應用,并根據系統控制算法控制電機左右運動,從而保證倒立擺能穩定地站立在豎直位置。關鍵詞: C++

    標簽: Builder 倒立擺 控制系統

    上傳時間: 2013-04-24

    上傳用戶:Shoen

  • 基于AVR單片機電風扇360度內搖頭角度自由調節裝置的實現

    本文介紹了一種基于AVR 單片機Atmel 169,與旋轉編碼器AS5040 及3966 控制直流電機構成的電風扇360 度內搖頭角度調節裝置的實現,設計了AS5040 旋轉編碼器接口電路、P

    標簽: AVR 360 單片機 電風扇

    上傳時間: 2013-05-19

    上傳用戶:cath

  • 基于ARM與DSP的鐵路信號測試儀設計(ARM部分)

    軌道電路是列車運行實現自動控制和遠程控制的基礎設備之一,鐵路信號系統是保證運輸安全的基礎設施,是實現鐵路統一指揮調度,保證列車運行安全、提高運輸效率和質量的關鍵技術設備,也是鐵路信息化的重要技術領域。 基于ARM與DSP的鐵路信號測試儀主要作用是及時測試鐵路信號狀況,反映鐵路運行的情況。開發此套系統是集測試25Hz相敏軌道電路的電壓自動記錄儀以及相位差監測儀、ZPW-2000A的載頻與低頻測試功能于一體,是性價比較高、功能齊全的監測管理系統,它發揮了ARM控制性好與DSP計算速度快的優勢,實現了互補。由于采用的主要是集成芯片,所以體積小,重量輕,功耗低和便于攜帶,便于現場檢測。在滿足要求的前提下,為降低開發成本提高可靠性,CPU采用LPC2210的ARM7芯片。為使測試儀直觀、操作簡便,系統提供了良好的人機界面,包括顯示,按鍵操作等。 論文對FFT以及相關算法進行了分析和Matlab仿真;論文中給出了時鐘電路、LCD電路、數據存儲器Flash、JTAG等各功能模塊的設計原理,完成了硬件電路設計;系統軟件設計遵循模塊化、自頂向下的設計思路。在軟件設計方面,首先采用的是傳統主循環控制方法,功能上主要實現了A/D采樣程序、LCD顯示程序、數據存儲程序等的設計,對兩路25Hz信號電壓相位差的計算,其誤差不人于1度。為了改善系統性能提高系統的實時性,系統中引入實時操作系統μC/OS-Ⅱ,也有利于代碼移植及系統功能擴展。

    標簽: ARM DSP 鐵路信號 試儀設計

    上傳時間: 2013-04-24

    上傳用戶:隱界最新

  • SST25VF016B_SOFT.C.H.rar

    SST25VF016B_SOFT.C 讀寫操作

    標簽: B_SOFT SST 016

    上傳時間: 2013-05-30

    上傳用戶:manlian

  • 單片機C語言程序設計實訓100例

    本書中列舉了大量的例子來幫助來掌握單片機C語言的設計與開發

    標簽: 100 單片機 C語言 程序設計

    上傳時間: 2013-07-14

    上傳用戶:l254587896

  • C和指針

    C與指針 經典編程書籍 軟件開發工程師必備

    標簽: 指針

    上傳時間: 2013-05-24

    上傳用戶:yuanhong95

  • 高質量C++與C編程指南

    高質量C++與C編程指南 編程語言經典書籍 開發工程師必備

    標簽: 高質量 編程指南

    上傳時間: 2013-07-29

    上傳用戶:123456wh

  • 嵌入式C與Cpp

    嵌入式C與Cpp經典書籍PDF版 嵌入式開發必備!

    標簽: Cpp 嵌入式C

    上傳時間: 2013-06-30

    上傳用戶:yatouzi118

  • 基于ARM系統的表面粗糙度測量儀的設計.pdf

    表面粗糙度是機械加工中描述工件表面微觀形狀重要的參數。在機械零件切削的過程中,刀具或砂輪遺留的刀痕,切屑分離時的塑性變形和機床振動等因素,會使零件的表面形成微小的蜂谷。這些微小峰谷的高低程度和間距狀況就叫做表面粗糙度,也稱為微觀不平度。表面粗糙度的測量是幾何測量中的一個重要部分,它對于現代制造業的發展起了重要的推動作用。世界各國競相進行粗糙度測量儀的研制,隨著科學技術的發展,各種各樣的粗糙度測量系統也競相問世。對于粗糙度的測量,隨著技術的更新,國家標準也一直在變更。最新執行的國家標準(GB/T6062-2002),規定了粗糙度測量的參數,以及制定了觸針式測量粗糙度的儀器標準[1]。 隨著新國家標準的執行,許多陳舊的粗糙度測量儀已經無法符合新標準的要求。而且生產工藝的提高使得原有方案的采集精度和采集速度,滿足不了現代測量技術的需要。目前,各高校公差實驗室及大多數企業的計量部門所使用的計量儀器(如光切顯微鏡、表面粗糙度檢查儀等)只能測量單項參數,而能進行多參數測量的光電儀器價格較貴,一般實驗室和計量室難以購置。因此如何利用現有的技術,結含現代測控技術的發展,職制出性能可靠的粗糙度測量儀,能有效地降低實驗室測量儀器的成本,具有很好的實用價值和研究意義。 基于上述現狀,本文在參考舊的觸針式表面粗糙度測量儀技術方案的基礎上,提出了一種基于ARM嵌入式系統的粗糙度測量儀的設計。這種測量儀采用了先進的傳感器技術,保證了測量的范圍和精度;采用了集成的信號調理電路,降低了信號在調制、檢波、和放大的過程中的失真;采用了ARM處理器,快速的采集和控制測量儀系統;采用了強大的PC機人機交互功能,快速的計算粗糙度的相關參數和直觀的顯示粗糙度的特性曲線。 論文主要做了如下工作:首先,論文分析了觸針式粗糙度測量儀的發展以及現狀;然后,詳細敘述了系統的硬件構成和設計,包括傳感器的原理和結構分析、信號調理電路的設計、A/D轉換電路的設計、微處理器系統電路以及與上位機接口電路的設計。同時,還對系統的數據采集進行了研究,開發了相應的固件程序及接口程序,完成數據采集軟件的編寫,并且對表面粗糙度參數的算法進行程序的實現。編寫了控制應用程序,完成控制界面的設計。最終設計出一套多功能、多參數、高性能、高可靠、操作方便的表面粗糙度測量系統。

    標簽: ARM 測量

    上傳時間: 2013-04-24

    上傳用戶:KIM66

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