JAVA基礎(chǔ)實(shí)例200題 適合任何人士,測試自己基礎(chǔ)程度最好方法
上傳時(shí)間： 2017-07-28
上傳用戶：xlcky
樹枝生長flash測試 生長貌似叢林般一樣茂盛 可以估且一試
標(biāo)簽： flash
上傳時(shí)間： 2017-09-25
上傳用戶：ztj182002
這是一個(gè)測試檔這是一個(gè)測試檔這是一個(gè)測試檔這是一個(gè)測試檔這是一個(gè)測試檔這是一個(gè)測試檔這是一個(gè)測試檔
標(biāo)簽： 這是一個(gè)
上傳時(shí)間： 2015-12-22
上傳用戶：wxxujian
可實(shí)現(xiàn)MIMO-OFDM系統(tǒng)的adaptive_blind功能，並進(jìn)行了詳細(xì)的測試
標(biāo)簽： adaptive_blind MIMO-OFDM 系統(tǒng)
上傳時(shí)間： 2013-12-23
上傳用戶：225588
程式描述：使用Cypress的Cy7C68013A晶片進(jìn)行設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)USB鍵盤輸入的功能。 安裝：把來源程式碼複製到硬碟特定目錄下，使用Keil C編譯器運(yùn)行即可。 注意：可以首先使用Cypress的測試工具進(jìn)行韌體程式的測試，以確保韌體程式的正確性。
標(biāo)簽： Cypress 68013A C68013 68013
上傳時(shí)間： 2017-02-10
上傳用戶：ecooo
程式描述：使用Cypress的Cy7C63723晶片進(jìn)行設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)USB介面的HID滑鼠。 安裝：把來源程式碼複製到硬碟特定目錄下，使用Keil C編譯器運(yùn)行即可。 注意：可以首先使用Cypress的測試工具進(jìn)行韌體程式的測試，以確保韌體程式的正確性。
標(biāo)簽： Cypress C63723 63723 Cy7
上傳時(shí)間： 2017-02-10
上傳用戶：6546544
程式描述：使用Cypress的Cy7C68013A晶片進(jìn)行設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)Slave FIFO模式的資料獲取。程式包括USB韌體程式以及主機(jī)程式。 安裝：把來源程式碼複製到硬碟特定目錄下，使用Keil C編譯器和Visual C++ 6.0運(yùn)行即可。 注意：可以首先使用Cypress的測試工具進(jìn)行韌體程式的測試，以確保韌體程式的正確性。
標(biāo)簽： Cypress 68013A C68013 68013
上傳時(shí)間： 2013-12-18
上傳用戶：1427796291
設(shè)計(jì)高速電路必須考慮高速訊 號(hào)所引發(fā)的電磁干擾、阻抗匹配及串音等效應(yīng)，所以訊號(hào)完整性 (signal integrity)將是考量設(shè)計(jì)電路優(yōu)劣的一項(xiàng)重要指標(biāo)，電路日異複雜必須仰賴可 靠的軟體來幫忙分析這些複雜的效應(yīng)，才比較可能獲得高品質(zhì)且可靠的設(shè)計(jì)， 因此熟悉軟體的使用也將是重要的研究項(xiàng)目之一。另外了解高速訊號(hào)所引發(fā)之 各種效應(yīng)(反射、振鈴、干擾、地彈及串音等)及其克服方法也是研究高速電路 設(shè)計(jì)的重點(diǎn)之一。目前高速示波器的功能越來越多，使用上很複雜，必須事先 進(jìn)修學(xué)習(xí)，否則無法全盤了解儀器之功能，因而無法有效發(fā)揮儀器的量測功能。 其次就是高速訊號(hào)量測與介面的一些測試規(guī)範(fàn)也必須熟悉，像眼圖分析，探針 效應(yīng)，抖動(dòng)(jitter)測量規(guī)範(fàn)及高速串列介面量測規(guī)範(fàn)等實(shí)務(wù)技術(shù)，必須充分 了解研究學(xué)習(xí)，進(jìn)而才可設(shè)計(jì)出優(yōu)良之教學(xué)教材及教具。
標(biāo)簽： 高速電路
上傳時(shí)間： 2021-11-02
上傳用戶：jiabin
發(fā)光二極體(Light Emitting Diode, LED)為半導(dǎo)體發(fā)光之固態(tài)光源。它成為具省電、輕巧、壽命長、環(huán)保(不含汞)等優(yōu)點(diǎn)之新世代照明光源。目前LED已開始應(yīng)用於液晶顯示
標(biāo)簽： LED 電源 方案 驅(qū)動(dòng)器
上傳時(shí)間： 2013-04-24
上傳用戶：王慶才
PCB LAYOUT 術(shù)語解釋(TERMS)1. COMPONENT SIDE(零件面、正面)︰大多數(shù)零件放置之面。2. SOLDER SIDE(焊錫面、反面)。3. SOLDER MASK(止焊膜面)︰通常指Solder Mask Open 之意。4. TOP PAD︰在零件面上所設(shè)計(jì)之零件腳PAD，不管是否鑽孔、電鍍。5. BOTTOM PAD：在銲錫面上所設(shè)計(jì)之零件腳PAD，不管是否鑽孔、電鍍。6. POSITIVE LAYER：單、雙層板之各層線路；多層板之上、下兩層線路及內(nèi)層走線皆屬之。7. NEGATIVE LAYER：通常指多層板之電源層。8. INNER PAD：多層板之POSITIVE LAYER 內(nèi)層PAD。9. ANTI-PAD：多層板之NEGATIVE LAYER 上所使用之絕緣範(fàn)圍，不與零件腳相接。10. THERMAL PAD：多層板內(nèi)NEGATIVE LAYER 上必須零件腳時(shí)所使用之PAD，一般稱為散熱孔或?qū)住?1. PAD (銲墊)：除了SMD PAD 外，其他PAD 之TOP PAD、BOTTOM PAD 及INNER PAD 之形狀大小皆應(yīng)相同。12. Moat : 不同信號(hào)的 Power& GND plane 之間的分隔線13. Grid : 佈線時(shí)的走線格點(diǎn)2. Test Point : ATE 測試點(diǎn)供工廠ICT 測試治具使用ICT 測試點(diǎn) LAYOUT 注意事項(xiàng):PCB 的每條TRACE 都要有一個(gè)作為測試用之TEST PAD(測試點(diǎn))，其原則如下：1. 一般測試點(diǎn)大小均為30-35mil，元件分布較密時(shí)，測試點(diǎn)最小可至30mil.測試點(diǎn)與元件PAD 的距離最小為40mil。2. 測試點(diǎn)與測試點(diǎn)間的間距最小為50-75mil，一般使用75mil。密度高時(shí)可使用50mil,3. 測試點(diǎn)必須均勻分佈於PCB 上，避免測試時(shí)造成板面受力不均。4. 多層板必須透過貫穿孔(VIA)將測試點(diǎn)留於錫爐著錫面上(Solder Side)。5. 測試點(diǎn)必需放至於Bottom Layer6. 輸出test point report(.asc 檔案powerpcb v3.5)供廠商分析可測率7. 測試點(diǎn)設(shè)置處:Setuppadsstacks
標(biāo)簽： layout design pcb 硬件工程師
上傳時(shí)間： 2013-10-22
上傳用戶：pei5
蟲蟲下載站版權(quán)所有 京ICP備2021023401號(hào)-1
