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測(cè)試電路

  • 用一個C語言來測試4X4按鍵功能是否正常工作

    用一個C語言來測試4X4按鍵功能是否正常工作

    標(biāo)簽: 4X4

    上傳時間: 2017-07-25

    上傳用戶:宋桃子

  • pcb layout design(臺灣硬件工程師15年經(jīng)驗

    PCB LAYOUT 術(shù)語解釋(TERMS)1. COMPONENT SIDE(零件面、正面)︰大多數(shù)零件放置之面。2. SOLDER SIDE(焊錫面、反面)。3. SOLDER MASK(止焊膜面)︰通常指Solder Mask Open 之意。4. TOP PAD︰在零件面上所設(shè)計之零件腳PAD,不管是否鑽孔、電鍍。5. BOTTOM PAD:在銲錫面上所設(shè)計之零件腳PAD,不管是否鑽孔、電鍍。6. POSITIVE LAYER:單、雙層板之各層線路;多層板之上、下兩層線路及內(nèi)層走線皆屬之。7. NEGATIVE LAYER:通常指多層板之電源層。8. INNER PAD:多層板之POSITIVE LAYER 內(nèi)層PAD。9. ANTI-PAD:多層板之NEGATIVE LAYER 上所使用之絕緣範(fàn)圍,不與零件腳相接。10. THERMAL PAD:多層板內(nèi)NEGATIVE LAYER 上必須零件腳時所使用之PAD,一般稱為散熱孔或?qū)住?1. PAD (銲墊):除了SMD PAD 外,其他PAD 之TOP PAD、BOTTOM PAD 及INNER PAD 之形狀大小皆應(yīng)相同。12. Moat : 不同信號的 Power& GND plane 之間的分隔線13. Grid : 佈線時的走線格點2. Test Point : ATE 測試點供工廠ICT 測試治具使用ICT 測試點 LAYOUT 注意事項:PCB 的每條TRACE 都要有一個作為測試用之TEST PAD(測試點),其原則如下:1. 一般測試點大小均為30-35mil,元件分布較密時,測試點最小可至30mil.測試點與元件PAD 的距離最小為40mil。2. 測試點與測試點間的間距最小為50-75mil,一般使用75mil。密度高時可使用50mil,3. 測試點必須均勻分佈於PCB 上,避免測試時造成板面受力不均。4. 多層板必須透過貫穿孔(VIA)將測試點留於錫爐著錫面上(Solder Side)。5. 測試點必需放至於Bottom Layer6. 輸出test point report(.asc 檔案powerpcb v3.5)供廠商分析可測率7. 測試點設(shè)置處:Setup􀃆pads􀃆stacks

    標(biāo)簽: layout design pcb 硬件工程師

    上傳時間: 2013-10-22

    上傳用戶:pei5

  • pcb layout design(臺灣硬件工程師15年經(jīng)驗

    PCB LAYOUT 術(shù)語解釋(TERMS)1. COMPONENT SIDE(零件面、正面)︰大多數(shù)零件放置之面。2. SOLDER SIDE(焊錫面、反面)。3. SOLDER MASK(止焊膜面)︰通常指Solder Mask Open 之意。4. TOP PAD︰在零件面上所設(shè)計之零件腳PAD,不管是否鑽孔、電鍍。5. BOTTOM PAD:在銲錫面上所設(shè)計之零件腳PAD,不管是否鑽孔、電鍍。6. POSITIVE LAYER:單、雙層板之各層線路;多層板之上、下兩層線路及內(nèi)層走線皆屬之。7. NEGATIVE LAYER:通常指多層板之電源層。8. INNER PAD:多層板之POSITIVE LAYER 內(nèi)層PAD。9. ANTI-PAD:多層板之NEGATIVE LAYER 上所使用之絕緣範(fàn)圍,不與零件腳相接。10. THERMAL PAD:多層板內(nèi)NEGATIVE LAYER 上必須零件腳時所使用之PAD,一般稱為散熱孔或?qū)住?1. PAD (銲墊):除了SMD PAD 外,其他PAD 之TOP PAD、BOTTOM PAD 及INNER PAD 之形狀大小皆應(yīng)相同。12. Moat : 不同信號的 Power& GND plane 之間的分隔線13. Grid : 佈線時的走線格點2. Test Point : ATE 測試點供工廠ICT 測試治具使用ICT 測試點 LAYOUT 注意事項:PCB 的每條TRACE 都要有一個作為測試用之TEST PAD(測試點),其原則如下:1. 一般測試點大小均為30-35mil,元件分布較密時,測試點最小可至30mil.測試點與元件PAD 的距離最小為40mil。2. 測試點與測試點間的間距最小為50-75mil,一般使用75mil。密度高時可使用50mil,3. 測試點必須均勻分佈於PCB 上,避免測試時造成板面受力不均。4. 多層板必須透過貫穿孔(VIA)將測試點留於錫爐著錫面上(Solder Side)。5. 測試點必需放至於Bottom Layer6. 輸出test point report(.asc 檔案powerpcb v3.5)供廠商分析可測率7. 測試點設(shè)置處:Setup􀃆pads􀃆stacks

    標(biāo)簽: layout design pcb 硬件工程師

    上傳時間: 2013-11-17

    上傳用戶:cjf0304

  • c++之路.rar

    c++之路.rar

    標(biāo)簽:

    上傳時間: 2013-12-06

    上傳用戶:yxgi5

  • PHilips 4路A/D+1路D/A芯片控制C程序

    PHilips 4路A/D+1路D/A芯片控制C程序

    標(biāo)簽: PHilips C程序 芯片 控制

    上傳時間: 2013-12-15

    上傳用戶:refent

  • 此為philip 1362 USB DOS下的驅(qū)動程式包, 已經(jīng)共測試並內(nèi)含有說明文件

    此為philip 1362 USB DOS下的驅(qū)動程式包, 已經(jīng)共測試並內(nèi)含有說明文件

    標(biāo)簽: philip 1362 USB DOS

    上傳時間: 2015-04-21

    上傳用戶:bruce

  • 8路鍵盤D觸發(fā)器的應(yīng)用,提供了相關(guān)電路設(shè)計圖以及擦c源代碼

    8路鍵盤D觸發(fā)器的應(yīng)用,提供了相關(guān)電路設(shè)計圖以及擦c源代碼

    標(biāo)簽: 8路 鍵盤 D觸發(fā)器 電路設(shè)計

    上傳時間: 2015-05-01

    上傳用戶:wangyi39

  • 使用J2ME MIDP2.0實做AODV協(xié)定(RFC3561),測試平臺為兩種PDA:PalmOS和PacketPC2003

    使用J2ME MIDP2.0實做AODV協(xié)定(RFC3561),測試平臺為兩種PDA:PalmOS和PacketPC2003

    標(biāo)簽: PacketPC PalmOS J2ME AODV

    上傳時間: 2014-09-03

    上傳用戶:shawvi

  • GSMGPRSRFORUM相關(guān)信息測試與結(jié)過

    GSMGPRSRFORUM相關(guān)信息測試與結(jié)過

    標(biāo)簽: GSMGPRSRFORUM

    上傳時間: 2015-05-20

    上傳用戶:jqy_china

  • 這是當(dāng)初在學(xué)網(wǎng)路程式時所寫的

    這是當(dāng)初在學(xué)網(wǎng)路程式時所寫的,所以有很多很多地方可以改進, 有心人士就拿去亂改吧! 先執(zhí)行(server) Server 然後再開兩個 (Client) LoginFrame 就能連了。 那個密碼部份是假的,沒有啥用處,可以把它改成輸入ip , 當(dāng)初是直接設(shè) 127.0.0.1,以方便測試。

    標(biāo)簽: 程式

    上傳時間: 2014-12-03

    上傳用戶:jackgao

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