摘要:IC智能卡使用過程中出現(xiàn)的密碼校驗失效、數(shù)據(jù)丟失、應(yīng)用區(qū)不能讀寫等一系列失效和可靠性問題,嚴重影響了其在社會生活各領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用.分析研究了IC智能卡芯片碎裂、引線鍵合斷裂、靜電放電損傷等失效模式和失效機理,并結(jié)合IC卡制造工藝和失效IC卡的分析實例,對引起這些失效的根本原因作了深入探討,就提升制造成品率、改善可靠性提出應(yīng)對措施.關(guān)鍵詞:IC卡;薄/超薄芯片;碎裂;鍵合
標簽：
IC智能卡
失效機理
上傳時間：
2013-11-09
上傳用戶：wangjg
