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標準函數(shù)(shù)

  • 一個LCD燈的小程序。不是我寫的。我只負責了調(diào)試。適用在ACEXEP1K30QC208-3上。我跑了SIMULATOR

    一個LCD燈的小程序。不是我寫的。我只負責了調(diào)試。適用在ACEXEP1K30QC208-3上。我跑了SIMULATOR,管腳連接標示了。我也下在電路板上試過了,沒有問題。要用到實驗板上的兄弟們把CLK1改到TESTOUT3或者0就好了。綫幫助新手,人人有責。

    標簽: SIMULATOR ACEXEP LCD 208

    上傳時間: 2015-04-10

    上傳用戶:330402686

  • 改進遺傳算法-郭濤算法做最優(yōu)化問題很管用,算法的基本思想是 先任意產(chǎn)生n個隨機數(shù)

    改進遺傳算法-郭濤算法做最優(yōu)化問題很管用,算法的基本思想是 先任意產(chǎn)生n個隨機數(shù),然后從n個數(shù)里隨機選擇m個數(shù),再有這m個 數(shù)合成一個新數(shù),將這個新數(shù)同n個數(shù)中間適應值函數(shù)值的最差的比較, 如果好的話就取代最差的那個,如果它比最好的還要好的話,則把最好的 也取代。如果比最差的壞,則重新合成一個新數(shù)。依次循環(huán)下去。 程序的奇妙之處是GA_crossover()函數(shù),產(chǎn)生的新數(shù)確實比較好,看看 那位大俠能改進一下,產(chǎn)生比這跟好的數(shù)。

    標簽: 算法 郭濤算法 隨機數(shù)

    上傳時間: 2015-04-10

    上傳用戶:thuyenvinh

  • ADC的源程式

    ADC的源程式,把51的正負極接至ADC,再將ADC.asm檔compile後,ACD便會產(chǎn)生將類比轉成數(shù)位訊號的效果

    標簽: ADC 程式

    上傳時間: 2013-12-31

    上傳用戶:569342831

  • 模擬退火算法來源于固體退火原理

    模擬退火算法來源于固體退火原理,將固體加溫至充分高,再讓其徐徐冷卻,加溫時,固體內(nèi)部粒子隨溫升變?yōu)闊o序狀,內(nèi)能增大,而徐徐冷卻時粒子漸趨有序,在每個溫度都達到平衡態(tài),最后在常溫時達到基態(tài),內(nèi)能減為最小。根據(jù)Metropolis準則,粒子在溫度T時趨于平衡的概率為e-ΔE/(kT),其中E為溫度T時的內(nèi)能,ΔE為其改變量,k為Boltzmann常數(shù)。用固體退火模擬組合優(yōu)化問題,將內(nèi)能E模擬為目標函數(shù)值f,溫度T演化成控制參數(shù)t,即得到解組合優(yōu)化問題的模擬退火算法:由初始解i和控制參數(shù)初值t開始,對當前解重復“產(chǎn)生新解→計算目標函數(shù)差→接受或舍棄”的迭代,并逐步衰減t值,算法終止時的當前解即為所得近似最優(yōu)解,這是基于蒙特卡羅迭代求解法的一種啟發(fā)式隨機搜索過程。退火過程由冷卻進度表(Cooling Schedule)控制,包括控制參數(shù)的初值t及其衰減因子Δt、每個t值時的迭代次數(shù)L和停止條件S。

    標簽: 模擬退火算法

    上傳時間: 2015-04-24

    上傳用戶:R50974

  • 模擬退火算法來源于固體退火原理

    模擬退火算法來源于固體退火原理,將固體加溫至充分高,再讓其徐徐冷卻,加溫時,固體內(nèi)部粒子隨溫升變?yōu)闊o序狀,內(nèi)能增大,而徐徐冷卻時粒子漸趨有序,在每個溫度都達到平衡態(tài),最后在常溫時達到基態(tài),內(nèi)能減為最小。根據(jù)Metropolis準則,粒子在溫度T時趨于平衡的概率為e-ΔE/(kT),其中E為溫度T時的內(nèi)能,ΔE為其改變量,k為Boltzmann常數(shù)。用固體退火模擬組合優(yōu)化問題,將內(nèi)能E模擬為目標函數(shù)值f,溫度T演化成控制參數(shù)t,即得到解組合優(yōu)化問題的模擬退火算法:由初始解i和控制參數(shù)初值t開始,對當前解重復“產(chǎn)生新解→計算目標函數(shù)差→接受或舍棄”的迭代,并逐步衰減t值,算法終止時的當前解即為所得近似最優(yōu)解,這是基于蒙特卡羅迭代求解法的一種啟發(fā)式隨機搜索過程。退火過程由冷卻進度表(Cooling Schedule)控制,包括控制參數(shù)的初值t及其衰減因子Δt、每個t值時的迭代次數(shù)L和停止條件S。

    標簽: 模擬退火算法

    上傳時間: 2015-04-24

    上傳用戶:ryb

  • 模擬退火算法來源于固體退火原理

    模擬退火算法來源于固體退火原理,將固體加溫至充分高,再讓其徐徐冷卻,加溫時,固體內(nèi)部粒子隨溫升變?yōu)闊o序狀,內(nèi)能增大,而徐徐冷卻時粒子漸趨有序,在每個溫度都達到平衡態(tài),最后在常溫時達到基態(tài),內(nèi)能減為最小。根據(jù)Metropolis準則,粒子在溫度T時趨于平衡的概率為e-ΔE/(kT),其中E為溫度T時的內(nèi)能,ΔE為其改變量,k為Boltzmann常數(shù)。用固體退火模擬組合優(yōu)化問題,將內(nèi)能E模擬為目標函數(shù)值f,溫度T演化成控制參數(shù)t,即得到解組合優(yōu)化問題的模擬退火算法:由初始解i和控制參數(shù)初值t開始,對當前解重復“產(chǎn)生新解→計算目標函數(shù)差→接受或舍棄”的迭代,并逐步衰減t值,算法終止時的當前解即為所得近似最優(yōu)解,這是基于蒙特卡羅迭代求解法的一種啟發(fā)式隨機搜索過程。退火過程由冷卻進度表(Cooling Schedule)控制,包括控制參數(shù)的初值t及其衰減因子Δt、每個t值時的迭代次數(shù)L和停止條件S。

    標簽: 模擬退火算法

    上傳時間: 2014-12-19

    上傳用戶:TRIFCT

  • 7種插值算法的c++代碼實現(xiàn)

    7種插值算法的c++代碼實現(xiàn),1 拉格朗日插值(POLINT) 2 有理函數(shù)插值(RATINT) 3 三次樣條插值(SPLINE(二階導數(shù)值)->SPLINT(函數(shù)值)) 4 有序表的檢索法(LOCATE(二分法), HUNT(關聯(lián)法)) 5 插值多項式(POLCOE(n2), POLCOF(n3)) 6 二元拉格朗日插值(POLIN2) 7 雙三次樣條插值(SPLIE2)

    標簽: 插值 代碼 算法

    上傳時間: 2015-05-09

    上傳用戶:yph853211

  • 5種函數(shù)逼近的c++代碼

    5種函數(shù)逼近的c++代碼, 1 級數(shù)求和(EULSUM) 2 多項式和有理函數(shù)(DDPOLY(函數(shù)值), POLDIV(兩個多項式的商及余)) 3 切比雪夫逼近(CHEBFT->CHEBEV) 4 積分和導數(shù)的切比雪夫逼近(CHINT(不定積分), CHDER(導函數(shù))) 5 用切比雪夫逼近求函數(shù)的多項式逼近(CHEBPC, PCSHFT)

    標簽: 函數(shù) 代碼

    上傳時間: 2013-12-15

    上傳用戶:水口鴻勝電器

  • 提供一個人工免疫算法源程序

    提供一個人工免疫算法源程序,其算法過程包括: 1.設置各參數(shù) 2.隨機產(chǎn)生初始群體——pop=initpop(popsize,chromlength) 3.故障類型編碼,每一行為一種!code(1,:),正常;code(2,:),50%;code(3,:),150%。實際故障測得數(shù)據(jù)編碼,這里Unnoralcode,188% 4.開始迭代(M次): 1)計算目標函數(shù)值:歐氏距離[objvalue]=calobjvalue(pop,i) 2)計算群體中每個個體的適應度fitvalue=calfitvalue(objvalue) 3)選擇newpop=selection(pop,fitvalue) objvalue=calobjvalue(newpop,i) % 交叉newpop=crossover(newpop,pc,k) objvalue=calobjvalue(newpop,i) % 變異newpop=mutation(newpop,pm) objvalue=calobjvalue(newpop,i) % 5.求出群體中適應值最大的個體及其適應值 6.迭代停止判斷。

    標簽: 人工免疫 算法 源程序

    上傳時間: 2014-01-01

    上傳用戶:trepb001

  • c語言編譯器arm-gen.c asmtest.S bcheck.c boundtest.c c67-gen.c Changelog coff.h configure COPYING elf.h

    c語言編譯器arm-gen.c asmtest.S bcheck.c boundtest.c c67-gen.c Changelog coff.h configure COPYING elf.h [examples] float.h gcctestsuite.sh i386-asm.c i386-asm.h i386-gen.c il-gen.c il-opcodes.h libtcc.h libtcc1.c libtcc_test.c Makefile README stab.def stab.h stdarg.h stdbool.h stddef.h tcc-doc.html tcc-doc.texi tcc.1 tcc.c tccasm.c tcccoff.c tccelf.c tcclib.h tccpe.c tcctest.c tcctok.h texi2pod.pl tiny_impdef.c TODO varargs.h VERSION

    標簽: Changelog boundtest configure arm-gen

    上傳時間: 2014-01-16

    上傳用戶:拔絲土豆

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