本設(shè)計采用由STC89C52單片機最小系統(tǒng)、GP2Y1010AU粉塵傳感器、ADC0832模數(shù)轉(zhuǎn)換器模塊、LCD1602液晶模塊、電源模塊、蜂鳴器報警模塊和按鍵模塊模塊組成。單片機實時通過ADC0832轉(zhuǎn)換芯片采集GP2Y1010AU粉塵傳感器的粉塵的濃度，通過單片機的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換處理后在液晶屏上顯示空氣中的質(zhì)量，當(dāng)測量空間中的粉塵濃度大于設(shè)置粉塵濃度時，蜂鳴器和發(fā)光二極管發(fā)出聲光報警。粉塵的濃度報警值可以通過按鍵進行設(shè)置。
上傳時間： 2022-06-10
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ADS1256 是TI（Texas I nstruments ）公司推出的一款低噪聲高分辨率的24 位Si gma - Delta（"- #）模數(shù)轉(zhuǎn)換器（ADC）。"- #ADC 與傳統(tǒng)的逐次逼近型和積分型ADC 相比有轉(zhuǎn)換誤差小而價格低廉的優(yōu)點，但由于受帶寬和有效采樣率的限制，"- #ADC 不適用于高頻數(shù)據(jù)采集的場合。該款A(yù)DS1256 可適合于采集最高頻率只有幾千赫茲的模擬數(shù)據(jù)的系統(tǒng)中，數(shù)據(jù)輸出速率最高可為30K 采樣點／秒（SPS），有完善的自校正和系統(tǒng)校正系統(tǒng)， SPI 串行數(shù)據(jù)傳輸接口。本文結(jié)合筆者自己的應(yīng)用經(jīng)驗，對該ADC 的基本原理以及應(yīng)用做簡要介紹。ADs1256 的總體電氣特性下面介紹在使用ADs1256 的過程中要注意的一些電氣方面的具體參數(shù)：模擬電源（AVDD ）輸入范圍+ 4 . 75V !+ 5 .25V，使用的典型值為+ 5 .00V；數(shù)字電源（DVDD ）輸入范圍+ 1 . 8V !+ 3 .6V，使用的典型值+ 3 .3V；參考電壓值（VREF= VREFP- VREFN）的范圍+ 0 .5V!+ 2 .6V，使用的典型值為+ 2 .5V；耗散功率最大為57mW；每個模擬輸入端（AI N0 !7 和AI NC M）相對于模擬地（AGND）的絕對電壓值范圍在輸入緩沖器（BUFFER）關(guān)閉的時候為AGND-0 .1 !AVDD+ 0 . 1 ，在輸入緩沖器打開的時候為AGND !AVDD-2 .0 ；滿刻度差分模擬輸入電壓值（VI N = AI NP -AI NN）為+ ／-（2VREF／PGA）；數(shù)字輸入邏輯高電平范圍0 .8DVDD!5 .25V（除D0 !D3 的輸入點平不可超過DVDD 外），邏輯低點平范圍DGND!0 .2DVDD；數(shù)字輸出邏輯高電平下限為0 .8DVDD，邏輯低電平上限為0 .2DVDD，輸出電流典型值為5mA；主時鐘頻率由外部晶體振蕩器提供給XTAL1和XTAL2 時，要求范圍為2 M!10 MHz ，僅由CLKI N 輸入提供時，范圍為0 .1 M!10 MHz 。
上傳時間： 2022-06-10
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微弱信號檢測的目的是從噪聲中提取有用信號，或用一些新技術(shù)和新方法來提高檢測系統(tǒng)輸出信號的信噪比。本文簡要分析了常用的微弱信號檢測理論，對小波變換的微弱信號檢測原理進行了進一步的分析。然后提出了微弱信號檢測系統(tǒng)的軟硬件設(shè)計，在闡述了系統(tǒng)的整體設(shè)計的基礎(chǔ)上，對電路所選芯片的結(jié)構(gòu)和性能進行了簡單的介紹，選用了具有14位分辨率的4路并行A/D轉(zhuǎn)換器AD7865作為模數(shù)轉(zhuǎn)換器，且選用Xilinx公司的Spartan-3系列FPGA邏輯器件作為控制器，控制整個系統(tǒng)的各功能模塊。同時，利用FPGA設(shè)計了先入先出存儲器，充分利用系統(tǒng)資源，降低了外圍電路的復(fù)雜度，為電路調(diào)試及制板帶來了極大的方便，且提升了系統(tǒng)的采集速度和集成度。系統(tǒng)的軟件設(shè)計采用Verilog HDL語言編程，在Xilinx ISE軟件開發(fā)平臺上完成編譯和綜合，并選用ModelSim SE 6.0完成了波形仿真。關(guān)鍵詞：微弱信號檢測；信號調(diào)理：FPGA：AD7865；Verilog HDL信息時代需要獲取許多有用的信息，多數(shù)科學(xué)研究及工程應(yīng)用技術(shù)所需的信息都是通過檢測的方法來獲取的。若被檢測的信號非常微弱，就很容易被噪聲湮沒，那么很難有效的從噪聲中檢測出有用信號。微弱信號在絕對意義上是指信號本身非常微弱，而在相對意義上是指信號相對于強背景噪聲而言的非常微弱，也就是指信噪比極低。人們進行長期的研究工作來檢測被噪聲所覆蓋的微弱信號，分析噪聲產(chǎn)生的原因以及規(guī)律，且研究被測信號的特點、相關(guān)性以及噪聲統(tǒng)計特性，從而研究出從背景噪聲中檢測有用信號的方法。1微弱信號檢測（Weak Signal Detection）技術(shù)2.3.41主要是提高信號的信噪比，從噪聲中檢測出有用的微弱信號。對于這些微弱的被測量（如：微振動、微流量、微壓力、微溫差、弱光、弱磁、小位移、小電容等），大多數(shù)都是利用相應(yīng)的傳感器將微弱信號轉(zhuǎn)換為微弱電流或者低電壓，再經(jīng)過放大器將其幅度放大到預(yù)期被測量的大小。
標(biāo)簽： 微弱信號檢測
上傳時間： 2022-06-18
上傳用戶：canderile
作為模擬與數(shù)字電路的接口電路的關(guān)鍵部分，模數(shù)轉(zhuǎn)換器（ADC）現(xiàn)代通信、需達、盧納以及眾多消費電子產(chǎn)品中都占據(jù)極其重要的地位。隨著科技的迅猛發(fā)展，對模數(shù)轉(zhuǎn)換器的性能，特別是速度上的要求越來越高，ADC的性能好壞甚至已經(jīng)成為決定設(shè)備性能的關(guān)鍵因素。本文以超高速ADC作為設(shè)計的目標(biāo)，采用了Flash型結(jié)構(gòu)作為研究的方向，并且從ADC的速度和失調(diào)電壓消除技術(shù)入手進行了重點研究。本文采用了種新穎的消除失調(diào)電壓的技術(shù)-chopping技術(shù)，該技術(shù)主要是依靠 組隨機數(shù)產(chǎn)生器所產(chǎn)生的高速隨機數(shù)序列來隨機快速置換比較器輸入端，從而使得失調(diào)電壓近似平均為零，本文設(shè)計了種高速隨機數(shù)產(chǎn)生器，可以產(chǎn)生速率達到1GHz的隨機數(shù)序列。由于比較器部分是影響整個ADC速度的關(guān)鍵因素，因此在設(shè)計中對于比較器部分逃行了重點優(yōu)化設(shè)計。另外還在數(shù)字編碼電路中加入了糾錯設(shè)計。通過電路仿真，所設(shè)計的ADC可達到1GHz的采樣速率，最大積分非線性和微分非線性分別為0.42LSB和0.49LSB，當(dāng)輸入信號頻率為16.6MHz時，無雜波動態(tài)范圍（SFDR）達到41dB，當(dāng)加入50mV失調(diào)電壓時，chopping技術(shù)可以將SFDR增加3dB左右。本設(shè)計采用了和艦0.18um CMOS混合信號工藝，完成了主要模塊版圖的設(shè)計工作。關(guān)鍵詞 Flash型 ADC；失調(diào)電壓消除技術(shù)：chopping技術(shù)
上傳時間： 2022-06-19
上傳用戶：d1997wayne
測量電路及儀器出版時間：2014年版內(nèi)容簡介 本書以現(xiàn)代精密電子儀器綜合實踐為應(yīng)用背景，是模擬電子技術(shù)和單片機技術(shù)相結(jié)合的新型實驗類教材。本書通過大量且多層次的實驗項目，由淺入深、循序漸進地介紹精密測控電路設(shè)計，以及精密儀器系統(tǒng)綜合應(yīng)用設(shè)計的流程、方法和開發(fā)技能，并介紹針對精密儀器的綜合設(shè)計性實驗項目。全書共10章，主要內(nèi)容包括：緒論、集成運算放大器基礎(chǔ)、濾波器、模擬多路開關(guān)、集成基準(zhǔn)電壓源、數(shù)模轉(zhuǎn)換器、模數(shù)轉(zhuǎn)換器、信號波形發(fā)生器、精密儀器抗干擾技術(shù)和典型儀器電路分析等。本書提供配套電子課件和習(xí)題參考答案等。
上傳時間： 2022-06-20
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隨著半導(dǎo)體技術(shù)的發(fā)展，模數(shù)轉(zhuǎn)換器（Analog to Digital Converter，ADC）作為模擬與數(shù)字接口電路的關(guān)鍵模塊，對性能的要求越來越高。為了滿足這些要求，模數(shù)轉(zhuǎn)換器正朝著低功耗、高分辨率和高速度方向快速發(fā)展。在磁盤驅(qū)動器讀取通道、測試設(shè)備、纖維光接收器前端和日期通信鏈路等高性能系統(tǒng)中，高速模數(shù)轉(zhuǎn)換器是最重要的結(jié)構(gòu)單元。因此，對模數(shù)轉(zhuǎn)換器的性能，尤其是速度的要求與日俱增，甚至是決定系統(tǒng)性能的關(guān)鍵因素。在分析各種結(jié)構(gòu)的高速模數(shù)轉(zhuǎn)換器的基礎(chǔ)上，本文設(shè)計了一個分辨率為6位，采樣時鐘為1GS/s的超高速模數(shù)轉(zhuǎn)換器。本設(shè)計采用的是最適合應(yīng)用于超高速A/D轉(zhuǎn)換器的全并行結(jié)構(gòu)，整個結(jié)構(gòu)是由分壓電阻階梯，電壓比較器，數(shù)字編碼電路三部分組成。在電路設(shè)計過程中，主要從以下幾個方面進行分析和改進：采用了無采樣/保持電路的全并行結(jié)構(gòu)；在預(yù)放大電路中，使用交叉耦合對晶體管作為負載來降低輸入電容和增加放大電路的帶寬，從而提高比較器的比較速度和信噪比；在比較器的輸出端采用時鐘控制的自偏置差分放大器作為輸出緩沖級，使得比較輸出結(jié)果能快速轉(zhuǎn)換為數(shù)字電平，以此來提高ADC的轉(zhuǎn)換速度；在編碼電路上，先將比較器輸出的溫度計碼轉(zhuǎn)換成格雷碼，再把格雷碼轉(zhuǎn)換成二進制碼，這樣進一步提高ADC的轉(zhuǎn)換速度和減少誤碼率。
上傳時間： 2022-06-22
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本文首先對黑體輻射理論和雙波段比值測溫理論進行研究，探討在近紅外區(qū)域?qū)Ω邷貭t窯進行比值測溫的可行性；針對工業(yè)高溫爐窯輻射的峰值位置在中紅外區(qū)域，近紅外區(qū)域的輻射仍然比較低，且普通CCD在近紅外區(qū)域響應(yīng)很低的狀況，綜合考慮后選擇近紅外增強型CCD作為探測器；根據(jù)所選CCD本文設(shè)計了一套完整的雙波段測溫系統(tǒng)的硬件框架，由Sony公司的近紅外增強型黑白CCDICX255AL，10位輸出模數(shù)轉(zhuǎn)換器AD9991、帶有USB接口的可編程增強型8051處理器芯片Cy7c68013和EEPROM存儲器等完成功能，并提出雙波段測溫攝像機的分束和濾光系統(tǒng)的設(shè)計方案；由于光學(xué)分束鏡和濾光片都需要定制鍍膜，本文首先設(shè)計的硬件系統(tǒng)是單波段系統(tǒng)，本系統(tǒng)的硬件電路有兩塊線路板：以ICX255ALCCD和AD9991為核心的圖像采集板和帶USB接口的8051處理器芯片Cy7c68013為核心的控制板，這兩塊PCB均為2層電路板；還開發(fā)了相應(yīng)的固件程序、設(shè)備驅(qū)動程序和應(yīng)用程序，對所設(shè)計的各個功能模塊分別進行了測試和調(diào)試，計算機能通過USB口讀取圖像并在屏幕上顯示，獲得了良好的效果；由于本文設(shè)計的硬件系統(tǒng)實際上是單波段的，為了驗證雙波段測溫的效果，本文采用ASD FieldSpec HandHeld型光譜儀測量模擬黑體輻射源（工業(yè)爐密的爐膛也是個近似黑體輻射源）的輻射，用測得的光譜數(shù)據(jù)模擬計算，獲得了良好的測溫效果。
上傳時間： 2022-06-22
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隨著圖像采集系統(tǒng)的廣泛應(yīng)用，人們對CCD探測系統(tǒng)的要求日益提高。傳統(tǒng)的CCD探測系統(tǒng)由于結(jié)構(gòu)復(fù)雜，造價較高，已不能滿足日益廣泛的應(yīng)用需要。本文設(shè)計了一套基于單片F(xiàn)PGA的小型化與經(jīng)濟化的CCD探測系統(tǒng)，能夠滿足空間光強的測量并實現(xiàn)光信號的識別和處理。本文研究了CCD探測系統(tǒng)的基本結(jié)構(gòu)。設(shè)計了基于單片F(xiàn)PGA的CCD探測系統(tǒng)的硬件電路原理圖，完成了硬件電路板制作與調(diào)試。系統(tǒng)FPGA選用Altera公司的低成本FPGA芯片EP2C20Q240，電路板采用雙層板設(shè)計，實現(xiàn)了CCD探測系統(tǒng)的小型化與經(jīng)濟化的目標(biāo)。利用FPGA器件實現(xiàn)了CCD驅(qū)動時序脈沖的設(shè)計、實現(xiàn)了單采樣與相關(guān)雙采樣的控制程序設(shè)計，利用FPGA的數(shù)字信號處理功能實現(xiàn)了相關(guān)雙采樣的信號處理。基于FPGA的可編程特性，在不改變外部電路的基礎(chǔ)上，通過程序的改變，對CCD驅(qū)動頻率、模數(shù)轉(zhuǎn)換器采樣時刻的選擇進行方便調(diào)節(jié)。系統(tǒng)與上位機的數(shù)據(jù)傳輸接口采用了網(wǎng)絡(luò)傳輸方案，充分發(fā)揮了網(wǎng)絡(luò)傳輸?shù)倪h距離傳輸、遠程訪問、信息共享等優(yōu)勢，系統(tǒng)采用基于FPGA的Nios IⅡ嵌入式處理器系統(tǒng)，通過對其應(yīng)用軟件的開發(fā)，實現(xiàn)了系統(tǒng)與上位機之間數(shù)據(jù)的可靠性傳輸。
上傳時間： 2022-06-23
上傳用戶：xsr1983
CCD作為一種光電轉(zhuǎn)換器件，由于其具有精度高、分辨率好、性能穩(wěn)定等特點，目前廣泛應(yīng)用于圖像傳感和非接觸式測量領(lǐng)域。在CCD應(yīng)用技術(shù)中，最關(guān)鍵的兩個問題是CCD驅(qū)動時序的產(chǎn)生和CCD輸出信號的處理。對于CCD輸出信號，可以根據(jù)CCD像素頻率和輸出信號幅值來選擇合適的片外或片內(nèi)模數(shù)轉(zhuǎn)換器；而對于CCD驅(qū)動時序，則有幾類常用的產(chǎn)生方法。1常用的CCD驅(qū)動時序產(chǎn)生方法CCD廠家眾多，型號各異，其驅(qū)動時序的產(chǎn)生方法也多種多樣，一般有以下4種：0）數(shù)字電路驅(qū)動方法這種方法是利用數(shù)字門電路及時序電路直接構(gòu)建驅(qū)動時序電路，其核心是一個時鐘發(fā)生器和幾路時鐘分頻器，各分頻器對同一時鐘進行分頻以產(chǎn)生所需的各路脈沖。該方法的特點是可以獲得穩(wěn)定的高速驅(qū)動脈沖，但邏輯設(shè)計和調(diào)試比較復(fù)雜，所用集成芯片較多，無法在線調(diào)整驅(qū)動頻率。
上傳時間： 2022-06-23
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【摘要】闡述了模數(shù)轉(zhuǎn)換器的靜態(tài)參數(shù)和動態(tài)參數(shù)測試原理和方法，并且構(gòu)建了模數(shù)轉(zhuǎn)換器的自動測試硬件平臺和軟件系統(tǒng).重點討論了利用Matlab庫函數(shù)進行快速傅立葉變換測試的方法，使用ADC自動測試系統(tǒng)對高速模數(shù)轉(zhuǎn)換器SCM530101進行了測試，并給出了測試結(jié)果.【關(guān)鍵詞】模數(shù)轉(zhuǎn)換器；碼密度；快速傅立葉變換過去由模擬電路實現(xiàn)的工作，今天越來越多地由數(shù)字電路或計算機來處理，特別是近幾年來，國內(nèi)的通訊和多媒體技術(shù)迅猛發(fā)展，數(shù)字產(chǎn)品成為目前以及未來產(chǎn)品的主流.作為模擬與數(shù)字之間的橋梁，ADC的應(yīng)用領(lǐng)域越來越廣，特別是在數(shù)字信號處理、雷達信號分析、醫(yī)用成像設(shè)備、高速數(shù)據(jù)采集等應(yīng)用方面.ADC器件不斷向高速、高精度的方向飛速發(fā)展，當(dāng)高精度的ADC應(yīng)用于通訊、音頻或視頻領(lǐng)域時，對ADC的性能參數(shù)的分析便顯得尤為重要.然而，目前的測試方法具有適應(yīng)性差、只適合分析某種特定的ADC、不能分析多種動態(tài)性能參數(shù)、使用不方便等缺點
標(biāo)簽： matlab adc 自動測試系統(tǒng)
上傳時間： 2022-06-24
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