叉排管陣的流彈不穩(wěn)定2維模型 FLUENT軟件的UDF的C源代碼 修正的隱式歐拉算法
上傳時(shí)間: 2014-01-06
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L3_1.m: 純量量化器的設(shè)計(jì)(程式) L3_2.m: 量化造成的假輪廓(程式) L3_3.m: 向量量化器之碼簿的產(chǎn)生(程式) L3_4.m: 利用LBG訓(xùn)練三個(gè)不同大小與維度的碼簿並分別進(jìn)行VQ(程式) gau.m: ML量化器設(shè)計(jì)中分母的計(jì)算式(函式) gau1.m: ML量化器設(shè)計(jì)中分子的計(jì)算式(函式) LBG.m: LBG訓(xùn)練法(函式) quantize.m:高斯機(jī)率密度函數(shù)的非均勻量化(函式) VQ.m: 向量量化(函式) L3_2.bmp: 影像檔 lena.mat: Matlab的矩陣變數(shù)檔
上傳時(shí)間: 2013-12-26
上傳用戶(hù):jiahao131
用jquery實(shí)現(xiàn)的漸變式下拉菜單jQuery 漸變下拉菜單。使用slideToggle和slideUp來(lái)實(shí)現(xiàn).當(dāng)然,也可以使用hide/show, fadeIn/fadeOut等來(lái)實(shí)現(xiàn),只是效果不同,實(shí)現(xiàn)的方法還是相同的.需要注意的是,要給.dropdown加上position:relative 防止閃爍
標(biāo)簽: slideToggle fadeOut slideUp jquery
上傳時(shí)間: 2014-01-19
上傳用戶(hù):SimonQQ
Mifare RC500 非接觸式讀卡機(jī)驅(qū)動(dòng)程式碼 (Keil C/8051)
標(biāo)簽: Mifare Keil 8051 500
上傳時(shí)間: 2017-09-02
上傳用戶(hù):笨小孩
asp_erp 源碼 附詳盡使用說(shuō)明及數(shù)據(jù)庫(kù)
標(biāo)簽: asp_erp
上傳時(shí)間: 2013-12-13
上傳用戶(hù):xaijhqx
SaleManage.rar 源碼 附詳盡使用說(shuō)明及數(shù)據(jù)庫(kù) 進(jìn)銷(xiāo)存管理系統(tǒng)
標(biāo)簽: SaleManage 系統(tǒng)
上傳時(shí)間: 2013-12-14
上傳用戶(hù):CHENKAI
推拉式SIM卡的PCB封裝庫(kù) Altium Deigner格式
標(biāo)簽: sim卡 pcb封裝庫(kù)
上傳時(shí)間: 2022-07-19
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電容降壓式簡(jiǎn)易電源的基本電路如圖1,C1為降壓電容器,D2為半波整流二極管,D1在市電的負(fù)半周時(shí)給C1提供放電回路,D3是穩(wěn)壓二極管,R1為關(guān)斷電源后C1的電荷泄放電阻。在實(shí)際應(yīng)用時(shí)常常采用的是圖2的所示的電路。當(dāng)需要向負(fù)載提供較大的電流時(shí),可采用圖3所示的橋式整流電路。 整流后未經(jīng)穩(wěn)壓的直流電壓一般會(huì)高于30伏,并且會(huì)隨負(fù)載電流的變化發(fā)生很大的波動(dòng),這是因?yàn)榇祟?lèi)電源內(nèi)阻很大的緣故所致,故不適合大電流供電的應(yīng)用場(chǎng)合。
上傳時(shí)間: 2013-10-23
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針對(duì)材料試驗(yàn)機(jī)等設(shè)備中要求測(cè)量或控制材料拉伸或壓縮的位移,一般采用光電軸角編碼器檢測(cè)位置信號(hào),輸出正交編碼脈沖信號(hào)。若采用其他方法檢測(cè)位置信號(hào),必然導(dǎo)致電路設(shè)計(jì)復(fù)雜,可靠性降低。因此,提出一種基于LS7266R1的電子式萬(wàn)能材料試驗(yàn)機(jī)設(shè)計(jì)方案。給出了試驗(yàn)機(jī)中的控制器工作原理,LS7266R1與單片機(jī)的接口硬件設(shè)計(jì),以及主程序軟件流程圖。巧妙地把力量傳感器,位移傳感器等機(jī)械運(yùn)動(dòng)狀態(tài)的壓力或拉力以及位置坐標(biāo),變成了電壓信號(hào)和電脈沖數(shù)字信號(hào),供A/D測(cè)量和LS7266R1計(jì)數(shù),從而實(shí)現(xiàn)了獨(dú)立完成材料試驗(yàn)控制或通過(guò)PC機(jī)串口命令完成材料試驗(yàn)控制。 Abstract: Aiming at the requirement that the displacement of the tension and compression always be tested and controlled in the equipement such as material testing machine. The position signal was tested by photoelectric axial angle coder. Therefore, the paper proposes the design of electronic universal testing machine design based on LS7266R1. If the position signal detected by other methods, will inevitably lead to the circuit design complexity, reliability decreased. The work theory of the controller, the hardware interface design between LS7266R1 and single chip, and the flow chart of main program, are presented in this paper. The signal of the compression or tension power and displacement at working, which tested by power sensor and displacement sensor especially, is changed into electric voltage and electric pulse numerical signals. And these signals can be tested by A/D and counted by LS7266R1. Finally the test of the material properties can be controlled by itself, or controlled by the COM command of PC.
上傳時(shí)間: 2013-11-02
上傳用戶(hù):yl1140vista
提出了一種改進(jìn)的LSM-ALSM子空間模式識(shí)別方法,將LSM的旋轉(zhuǎn)策略引入ALSM,使子空間之間互不關(guān)聯(lián)的情況得到改善,提高了ALSM對(duì)相似樣本的區(qū)分能力。討論中以性能函數(shù)代替經(jīng)驗(yàn)函數(shù)來(lái)確定拒識(shí)規(guī)則的參數(shù),實(shí)現(xiàn)了識(shí)別率、誤識(shí)率與拒識(shí)率之間的最佳平衡;通過(guò)對(duì)有限字符集的實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,LSM-ALSM算法有效地改善了分類(lèi)器的識(shí)別率和可靠性。關(guān) 鍵 詞 學(xué)習(xí)子空間; 性能函數(shù); 散布矩陣; 最小描述長(zhǎng)度在子空間模式識(shí)別方法中,一個(gè)線(xiàn)性子空間代表一個(gè)模式類(lèi)別,該子空間由反映類(lèi)別本質(zhì)的一組特征矢量張成,分類(lèi)器根據(jù)輸入樣本在各子空間上的投影長(zhǎng)度將其歸為相應(yīng)的類(lèi)別。典型的子空間算法有以下三種[1, 2]:CLAFIC(Class-feature Information Compression)算法以相關(guān)矩陣的部分特征向量來(lái)構(gòu)造子空間,實(shí)現(xiàn)了特征信息的壓縮,但對(duì)樣本的利用為一次性,不能根據(jù)分類(lèi)結(jié)果進(jìn)行調(diào)整和學(xué)習(xí),對(duì)樣本信息的利用不充分;學(xué)習(xí)子空間方法(Leaning Subspace Method, LSM)通過(guò)旋轉(zhuǎn)子空間來(lái)拉大樣本所屬類(lèi)別與最近鄰類(lèi)別的距離,以此提高分類(lèi)能力,但對(duì)樣本的訓(xùn)練順序敏感,同一樣本訓(xùn)練的順序不同對(duì)子空間構(gòu)造的影響就不同;平均學(xué)習(xí)子空間算法(Averaged Learning Subspace Method, ALSM)是在迭代訓(xùn)練過(guò)程中,用錯(cuò)誤分類(lèi)的樣本去調(diào)整散布矩陣,訓(xùn)練結(jié)果與樣本輸入順序無(wú)關(guān),所有樣本平均參與訓(xùn)練,其不足之處是各模式的子空間之間相互獨(dú)立。針對(duì)以上問(wèn)題,本文提出一種改進(jìn)的子空間模式識(shí)別方法。子空間模式識(shí)別的基本原理1.1 子空間的分類(lèi)規(guī)則子空間模式識(shí)別方法的每一類(lèi)別由一個(gè)子空間表示,子空間分類(lèi)器的基本分類(lèi)規(guī)則是按矢量在各子空間上的投影長(zhǎng)度大小,將樣本歸類(lèi)到最大長(zhǎng)度所對(duì)應(yīng)的類(lèi)別,在類(lèi)x()iω的子空間上投影長(zhǎng)度的平方為()211,2,,()argmax()jMTkkjpg===Σx (1)式中 函數(shù)稱(chēng)為分類(lèi)函數(shù);為子空間基矢量。兩類(lèi)的分類(lèi)情況如圖1所示。
上傳時(shí)間: 2013-12-25
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