現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列(FPGA)是一種現(xiàn)場(chǎng)可編程專用集成電路，它將門陣列的通用結(jié)構(gòu)與現(xiàn)場(chǎng)可編程的特性結(jié)合于一體，如今，F(xiàn)PGA系列器件已成為最受歡迎的器件之一。隨著FPGA器件的廣泛應(yīng)用，它在數(shù)字系統(tǒng)中的作用日益變得重要，它所要求的準(zhǔn)確性也變得更高。因此，對(duì)FPGA器件的故障測(cè)試和故障診斷方法進(jìn)行更全面的研究具有重要意義。隨著FPGA器件的迅速發(fā)展，F(xiàn)PGA的密度和復(fù)雜程度也越來(lái)越高，使大量的故障難以使用傳統(tǒng)方法進(jìn)行測(cè)試，所以人們把視線轉(zhuǎn)向了可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)問(wèn)題。可測(cè)性設(shè)計(jì)的提出為解決測(cè)試問(wèn)題開(kāi)辟了新的有效途徑，而邊界掃描測(cè)試方法是其中一個(gè)重要的技術(shù)。 本文對(duì)FPGA的故障模型及其測(cè)試技術(shù)和邊界掃描測(cè)試的相關(guān)理論與方法進(jìn)行了詳細(xì)的探討，給出了利用布爾矩陣?yán)碚摻⒌倪吔鐠呙铚y(cè)試過(guò)程的數(shù)學(xué)描述和數(shù)學(xué)模型。論文中首先討論邊界掃描測(cè)試中的測(cè)試優(yōu)化問(wèn)題，總結(jié)解決兩類優(yōu)化問(wèn)題的現(xiàn)有算法，分別對(duì)它們的優(yōu)缺點(diǎn)進(jìn)行了對(duì)比，進(jìn)而提出對(duì)兩種現(xiàn)有算法的改進(jìn)思想，并且比較了改進(jìn)前后優(yōu)化算法的性能。另外，本文還對(duì)FPGA連線資源中基于邊界掃描測(cè)試技術(shù)的自適應(yīng)完備診斷算法進(jìn)行了深入研究。在研究過(guò)程中，本文基于自適應(yīng)完備診斷的思想對(duì)原有自適應(yīng)診斷算法的性能進(jìn)行了分析，并將獨(dú)立測(cè)試集和測(cè)試矩陣的概念引入原有自適應(yīng)診斷算法中，使改進(jìn)后的優(yōu)化算法能夠簡(jiǎn)化原算法的實(shí)現(xiàn)過(guò)程，并實(shí)現(xiàn)完備診斷的目標(biāo)。最后利用測(cè)試仿真模型證明了優(yōu)化算法能夠更有效地實(shí)現(xiàn)完備診斷的目標(biāo)，在緊湊性指標(biāo)與測(cè)試復(fù)雜性方面比現(xiàn)在算法均有所改進(jìn)，實(shí)現(xiàn)了算法的優(yōu)化。
標(biāo)簽： FPGA 可測(cè)性設(shè)計(jì) 方法研究
上傳時(shí)間： 2013-06-30
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文中簡(jiǎn)單闡述了紅外輻射機(jī)理，論述了紅外焦平面陣列技術(shù)的發(fā)展?fàn)顩r。紅外成像系統(tǒng)，尤其是紅外焦平面陣列，由于探測(cè)器材料和制造工藝的原因，各像素點(diǎn)之間的靈敏度存在差別，甚至存在一些缺陷點(diǎn)，各個(gè)探測(cè)單元特征參數(shù)不完全一致，因而存在著較大的非均勻性，降低了圖像的分辨率，影響了紅外成像系統(tǒng)的有效作用距離。實(shí)時(shí)非均勻性校正是提高和改善紅外圖像質(zhì)量的一項(xiàng)重要技術(shù)。 論文建立了描述其非均勻性的數(shù)學(xué)模型，分析了紅外焦平面陣列非均勻性產(chǎn)生的原因及特點(diǎn)，討論了幾種常用的非均勻性校正的方法，指出了其各自的優(yōu)缺點(diǎn)和適應(yīng)場(chǎng)合。 根據(jù)紅外探測(cè)器光譜響應(yīng)的特點(diǎn)和基于參考源的兩點(diǎn)溫度非均勻性校正理論，采用FPGA+DSP實(shí)現(xiàn)紅外成像系統(tǒng)實(shí)時(shí)非均勻性兩點(diǎn)校正，設(shè)計(jì)完成了相應(yīng)的紅外焦平面陣列非均勻性校正硬件電路。對(duì)該系統(tǒng)中各個(gè)模塊的功能及電路實(shí)現(xiàn)進(jìn)行了詳細(xì)的描述，并給出了相應(yīng)的結(jié)構(gòu)框圖。同時(shí)給出了該圖像處理器的部分軟件流程圖。該方法動(dòng)態(tài)范圍大而且處理速度快，適用于紅外成像系統(tǒng)實(shí)時(shí)的圖像處理場(chǎng)合。實(shí)踐表明，該方案取得了較為滿意的結(jié)果。
上傳時(shí)間： 2013-04-24
上傳用戶：shinnsiaolin
在pcb設(shè)計(jì)中，對(duì)于可制造性設(shè)計(jì)需要認(rèn)真對(duì)待，值得大家學(xué)習(xí)
上傳時(shí)間： 2013-06-07
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·書中包括的索引使你能夠根據(jù)自己的需要，直接閱讀你所關(guān)注的內(nèi)容。主要內(nèi)容包括：設(shè)計(jì)核心，關(guān)注嵌入核心和嵌入存儲(chǔ)器；系統(tǒng)集成和超大規(guī)模集成電路的設(shè)計(jì)問(wèn)題；AC掃描、正常速度掃描和嵌入式可測(cè)試性設(shè)計(jì)；內(nèi)建、自測(cè)試、含內(nèi)存BIST、邏輯BIST及掃描BIST；虛擬測(cè)試套接字和隔離測(cè)試 ·重用設(shè)計(jì)，包括重用和隔離測(cè)試；用VSIA和IEEE P1500標(biāo)準(zhǔn)處理測(cè)試問(wèn)題。 書中穿插的整幅圖解直接來(lái)自作者的教學(xué)材
標(biāo)簽： 數(shù)字集成電路 嵌入式 內(nèi)核
上傳時(shí)間： 2013-04-24
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fpga的理解性word，對(duì)設(shè)計(jì)有幫助，延遲，效率問(wèn)題等
上傳時(shí)間： 2013-08-24
上傳用戶：muhongqing
FPGA和DSP的設(shè)計(jì)可靠性及可維護(hù)性對(duì)比.pdf
標(biāo)簽： FPGA DSP 可靠性 對(duì)比
上傳時(shí)間： 2013-08-28
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電路仿真不僅應(yīng)用于電路設(shè)計(jì)階段，也用于電路故障診斷中。電路仿真結(jié)果能夠?yàn)榻㈦娐窚y(cè)試診斷知識(shí)庫(kù)提供重要的參考信息。本文簡(jiǎn)要介紹了電路仿真收斂性的相關(guān)理論，分析了板級(jí)模擬電路直流分析和瞬態(tài)分析的仿真收斂性問(wèn)題，深入探討了電路仿真技術(shù)的原理和發(fā)展，重點(diǎn)研究了新的電路仿真算法，并將其應(yīng)用于模擬電路仿真系統(tǒng)中。
標(biāo)簽： 板級(jí) 仿真 收斂性 技術(shù)研究
上傳時(shí)間： 2014-12-23
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數(shù)字容性隔離器的應(yīng)用環(huán)境通常包括一些大型電動(dòng)馬達(dá)、發(fā)電機(jī)以及其他產(chǎn)生強(qiáng)電磁場(chǎng)的設(shè)備。暴露在這些磁場(chǎng)中，可引起潛在的數(shù)據(jù)損壞問(wèn)題，因?yàn)殡妱?shì)（EMF，即這些磁場(chǎng)形成的電壓）會(huì)干擾數(shù)據(jù)信號(hào)傳輸。由于存在這種潛在威脅，因此許多數(shù)字隔離器用戶都要求隔離器具備高磁場(chǎng)抗擾度 (MFI)。許多數(shù)字隔離器技術(shù)都聲稱具有高 MFI，但容性隔離器卻因其設(shè)計(jì)和內(nèi)部結(jié)構(gòu)擁有幾乎無(wú)窮大的MFI。本文將對(duì)其設(shè)計(jì)進(jìn)行詳細(xì)的介紹。
標(biāo)簽： 數(shù)字 隔離器 磁場(chǎng)抗擾度
上傳時(shí)間： 2013-10-26
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本電路提供一種擴(kuò)展AD7745/AD7746容性輸入范圍的方法。同時(shí)，還說(shuō)明如何充分利用片內(nèi)CapDAC，使范圍擴(kuò)展系數(shù)最小，從而優(yōu)化電路，實(shí)現(xiàn)最佳性能。AD7745具有一個(gè)電容輸入通道，AD7746則有兩個(gè)通道。每個(gè)通道均可配置為單端輸入或差分輸入方式。
標(biāo)簽： AD 7745 7746 擴(kuò)展
上傳時(shí)間： 2013-11-21
上傳用戶：天誠(chéng)24
各研究機(jī)構(gòu)提出了像素補(bǔ)償電路用于改善OLED的均勻性和穩(wěn)定性等問(wèn)題,文中對(duì)目前采用有源OLED的α-Si TFT和p-Si TFT的各種像素補(bǔ)償電路進(jìn)行了分析。分析結(jié)果表明,文中設(shè)計(jì)方案取得了一定的效果,但尚存不足。
標(biāo)簽： AMOLED TFT 穩(wěn)定性 像素
上傳時(shí)間： 2013-11-21
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