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感應(yīng)電路

  • 電源供應(yīng)器設(shè)計(jì)利用鍵盤(pán)介面輸入電源電壓值以SPI界面?zhèn)髦亮硪活wCPU做前端之運(yùn)算結(jié)果傳回做LED顯示

    電源供應(yīng)器設(shè)計(jì)利用鍵盤(pán)介面輸入電源電壓值以SPI界面?zhèn)髦亮硪活wCPU做前端之運(yùn)算結(jié)果傳回做LED顯示

    標(biāo)簽: SPI CPU LED 鍵盤(pán)

    上傳時(shí)間: 2017-03-19

    上傳用戶(hù):二驅(qū)蚊器

  • 利用Labview控制電源供應(yīng)器ppt-1830測(cè)試電壓電流

    利用Labview控制電源供應(yīng)器ppt-1830測(cè)試電壓電流

    標(biāo)簽: Labview 1830 控制

    上傳時(shí)間: 2014-01-08

    上傳用戶(hù):dengzb84

  • Computer Networks 4th Ed 學(xué)習(xí)電腦網(wǎng)路的實(shí)用原文書(shū)

    Computer Networks 4th Ed 學(xué)習(xí)電腦網(wǎng)路的實(shí)用原文書(shū)

    標(biāo)簽: Computer Networks 4th Ed

    上傳時(shí)間: 2013-12-18

    上傳用戶(hù):磊子226

  • 龍族全部地圖端口(地圖全開(kāi)的Mapserver),path的路徑請(qǐng)按照自己電腦上的路徑設(shè)置

    龍族全部地圖端口(地圖全開(kāi)的Mapserver),path的路徑請(qǐng)按照自己電腦上的路徑設(shè)置

    標(biāo)簽: Mapserver path 端口

    上傳時(shí)間: 2017-08-02

    上傳用戶(hù):han_zh

  • 利用vb達(dá)到電源供應(yīng)器的控制

    利用vb達(dá)到電源供應(yīng)器的控制,若將電源供應(yīng)器加入控制的一環(huán)會(huì)使得系統(tǒng)功能完善。

    標(biāo)簽: 控制

    上傳時(shí)間: 2013-12-28

    上傳用戶(hù):lnnn30

  • 剖析切換式電源供應(yīng)器的原理及常用元件規(guī)格.pdf

    開(kāi)關(guān)電源相關(guān)專(zhuān)輯 119冊(cè) 749M剖析切換式電源供應(yīng)器的原理及常用元件規(guī)格.pdf

    標(biāo)簽:

    上傳時(shí)間: 2014-05-05

    上傳用戶(hù):時(shí)代將軍

  • 壓電陶瓷換能器在醫(yī)學(xué)超音波儀器的應(yīng)用 36頁(yè) 1.5M.pdf

    超聲,紅外,激光,無(wú)線(xiàn),通訊相關(guān)專(zhuān)輯 183冊(cè) 1.48G壓電陶瓷換能器在醫(yī)學(xué)超音波儀器的應(yīng)用 36頁(yè) 1.5M.pdf

    標(biāo)簽:

    上傳時(shí)間: 2014-05-05

    上傳用戶(hù):時(shí)代將軍

  • pcb layout design(臺(tái)灣硬件工程師15年經(jīng)驗(yàn)

    PCB LAYOUT 術(shù)語(yǔ)解釋(TERMS)1. COMPONENT SIDE(零件面、正面)︰大多數(shù)零件放置之面。2. SOLDER SIDE(焊錫面、反面)。3. SOLDER MASK(止焊膜面)︰通常指Solder Mask Open 之意。4. TOP PAD︰在零件面上所設(shè)計(jì)之零件腳PAD,不管是否鑽孔、電鍍。5. BOTTOM PAD:在銲錫面上所設(shè)計(jì)之零件腳PAD,不管是否鑽孔、電鍍。6. POSITIVE LAYER:?jiǎn)?、雙層板之各層線(xiàn)路;多層板之上、下兩層線(xiàn)路及內(nèi)層走線(xiàn)皆屬之。7. NEGATIVE LAYER:通常指多層板之電源層。8. INNER PAD:多層板之POSITIVE LAYER 內(nèi)層PAD。9. ANTI-PAD:多層板之NEGATIVE LAYER 上所使用之絕緣範(fàn)圍,不與零件腳相接。10. THERMAL PAD:多層板內(nèi)NEGATIVE LAYER 上必須零件腳時(shí)所使用之PAD,一般稱(chēng)為散熱孔或?qū)住?1. PAD (銲墊):除了SMD PAD 外,其他PAD 之TOP PAD、BOTTOM PAD 及INNER PAD 之形狀大小皆應(yīng)相同。12. Moat : 不同信號(hào)的 Power& GND plane 之間的分隔線(xiàn)13. Grid : 佈線(xiàn)時(shí)的走線(xiàn)格點(diǎn)2. Test Point : ATE 測(cè)試點(diǎn)供工廠(chǎng)ICT 測(cè)試治具使用ICT 測(cè)試點(diǎn) LAYOUT 注意事項(xiàng):PCB 的每條TRACE 都要有一個(gè)作為測(cè)試用之TEST PAD(測(cè)試點(diǎn)),其原則如下:1. 一般測(cè)試點(diǎn)大小均為30-35mil,元件分布較密時(shí),測(cè)試點(diǎn)最小可至30mil.測(cè)試點(diǎn)與元件PAD 的距離最小為40mil。2. 測(cè)試點(diǎn)與測(cè)試點(diǎn)間的間距最小為50-75mil,一般使用75mil。密度高時(shí)可使用50mil,3. 測(cè)試點(diǎn)必須均勻分佈於PCB 上,避免測(cè)試時(shí)造成板面受力不均。4. 多層板必須透過(guò)貫穿孔(VIA)將測(cè)試點(diǎn)留於錫爐著錫面上(Solder Side)。5. 測(cè)試點(diǎn)必需放至於Bottom Layer6. 輸出test point report(.asc 檔案powerpcb v3.5)供廠(chǎng)商分析可測(cè)率7. 測(cè)試點(diǎn)設(shè)置處:Setup􀃆pads􀃆stacks

    標(biāo)簽: layout design pcb 硬件工程師

    上傳時(shí)間: 2013-10-22

    上傳用戶(hù):pei5

  • 雙通道8A DCDC uModule穩(wěn)壓器能夠容易地通過(guò)并聯(lián)來(lái)提供16A電流

    LTM®4616 是一款雙路輸入、雙路輸出 DC/DC μModule™ 穩(wěn)壓器,采用 15mm x 15mm x 2.8mm LGA 表面貼裝型封裝。由於開(kāi)關(guān)控制器、MOSFET、電感器和其他支持元件均被集成在纖巧型封裝之內(nèi),因此只需少量的外部元件。

    標(biāo)簽: uModule DCDC 16A 雙通道

    上傳時(shí)間: 2013-10-27

    上傳用戶(hù):頂?shù)弥?/p>

  • pcb layout design(臺(tái)灣硬件工程師15年經(jīng)驗(yàn)

    PCB LAYOUT 術(shù)語(yǔ)解釋(TERMS)1. COMPONENT SIDE(零件面、正面)︰大多數(shù)零件放置之面。2. SOLDER SIDE(焊錫面、反面)。3. SOLDER MASK(止焊膜面)︰通常指Solder Mask Open 之意。4. TOP PAD︰在零件面上所設(shè)計(jì)之零件腳PAD,不管是否鑽孔、電鍍。5. BOTTOM PAD:在銲錫面上所設(shè)計(jì)之零件腳PAD,不管是否鑽孔、電鍍。6. POSITIVE LAYER:?jiǎn)?、雙層板之各層線(xiàn)路;多層板之上、下兩層線(xiàn)路及內(nèi)層走線(xiàn)皆屬之。7. NEGATIVE LAYER:通常指多層板之電源層。8. INNER PAD:多層板之POSITIVE LAYER 內(nèi)層PAD。9. ANTI-PAD:多層板之NEGATIVE LAYER 上所使用之絕緣範(fàn)圍,不與零件腳相接。10. THERMAL PAD:多層板內(nèi)NEGATIVE LAYER 上必須零件腳時(shí)所使用之PAD,一般稱(chēng)為散熱孔或?qū)住?1. PAD (銲墊):除了SMD PAD 外,其他PAD 之TOP PAD、BOTTOM PAD 及INNER PAD 之形狀大小皆應(yīng)相同。12. Moat : 不同信號(hào)的 Power& GND plane 之間的分隔線(xiàn)13. Grid : 佈線(xiàn)時(shí)的走線(xiàn)格點(diǎn)2. Test Point : ATE 測(cè)試點(diǎn)供工廠(chǎng)ICT 測(cè)試治具使用ICT 測(cè)試點(diǎn) LAYOUT 注意事項(xiàng):PCB 的每條TRACE 都要有一個(gè)作為測(cè)試用之TEST PAD(測(cè)試點(diǎn)),其原則如下:1. 一般測(cè)試點(diǎn)大小均為30-35mil,元件分布較密時(shí),測(cè)試點(diǎn)最小可至30mil.測(cè)試點(diǎn)與元件PAD 的距離最小為40mil。2. 測(cè)試點(diǎn)與測(cè)試點(diǎn)間的間距最小為50-75mil,一般使用75mil。密度高時(shí)可使用50mil,3. 測(cè)試點(diǎn)必須均勻分佈於PCB 上,避免測(cè)試時(shí)造成板面受力不均。4. 多層板必須透過(guò)貫穿孔(VIA)將測(cè)試點(diǎn)留於錫爐著錫面上(Solder Side)。5. 測(cè)試點(diǎn)必需放至於Bottom Layer6. 輸出test point report(.asc 檔案powerpcb v3.5)供廠(chǎng)商分析可測(cè)率7. 測(cè)試點(diǎn)設(shè)置處:Setup􀃆pads􀃆stacks

    標(biāo)簽: layout design pcb 硬件工程師

    上傳時(shí)間: 2013-11-17

    上傳用戶(hù):cjf0304

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